GB/T 21636-2021微束分析電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語

ICS01040717104099

;

CCSG.04...

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T21636—2021/ISO238332013

:

代替GB/T21636—2008

微束分析

電子探針顯微分析EPMA術(shù)語

()

Microbeamanalsis—ElectronrobemicroanalsisEPMA—

ypy()

Vocabulary

ISO238332013IDT

(:,)

2021-12-31發(fā)布2022-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T21636—2021/ISO238332013

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

縮略語

3……………………1

電子探針顯微分析用一般術(shù)語定義

4……………………1

描述電子探針顯微分析儀器的術(shù)語定義

5………………7

用于電子探針顯微分析方法的術(shù)語定義

6………………16

參考文獻(xiàn)

……………………24

索引

…………………………25

Ⅰ

GB/T21636—2021/ISO238332013

:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)

GB/T1.1—2020《1:》

定起草

。

本文件代替微束分析電子探針顯微分析術(shù)語與

GB/T21636—2008《(EPMA)》,GB/T21636—

相比增加了第章規(guī)范性引用文件除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

2008,2,,:

增加了部分術(shù)語和定義見和

a)(4.5.55.6.4.5.3);

更改了背散射電子像二次電子像吸收電流像及特征射線的術(shù)語和定義見

b)、、X(4.4.1、5.4.2、

年版的

5.4.11、5.4.12,20083.4.1、4.4.2、4.4.11、4.4.12);

更改了部分術(shù)語見年版的

c)(5.4.7、5.4.8、5.5.1、5.6.8、5.6.14.2、6.6.8,20084.4.7、4.4.8、4.5.1、

4.6.8、4.6.14.2、5.6.8)

增加了部分術(shù)語的注解和內(nèi)容見

d)(4.5.5、5.1.2、5.2.2、5.4.7、5.6.2)。

本文件等同采用微束分析電子探針顯微分析術(shù)語

ISO23833:2013《(EPMA)》。

本文件增加了規(guī)范性引用文件一章

“”。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本文件主要起草人曾毅李香庭

:、。

本文件于年首次發(fā)布本次為第一次修訂

2008,。

Ⅲ

GB/T21636—2021/ISO238332013

:

引言

電子探針顯微分析是微束分析領(lǐng)域中一個應(yīng)用極為廣泛的現(xiàn)代技術(shù)電子探針

(EPMA)(MBA)。

顯微分析能對固體材料包括金屬合金陶瓷玻璃礦物聚合物粉末等的微米尺度范圍內(nèi)進(jìn)行元素

(、、、、、、)

定性定量分析及顯微結(jié)構(gòu)分析已廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)高技術(shù)產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)工業(yè)農(nóng)業(yè)冶金地質(zhì)生

、,、、、、、、

物醫(yī)藥衛(wèi)生環(huán)境保護(hù)商檢貿(mào)易乃至刑事法庭等領(lǐng)域各技術(shù)領(lǐng)域的術(shù)語標(biāo)準(zhǔn)是該領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展

、、、。

的先決條件之一本文件是有關(guān)電子探針顯微分析的術(shù)語

,。

電子探針顯微分析是一門綜合性的技術(shù)術(shù)語涉及物理化學(xué)電子學(xué)等廣泛的學(xué)科領(lǐng)域本文件

,、、。

只限于定義電子探針顯微分析標(biāo)準(zhǔn)化實踐中使用和直接有關(guān)的術(shù)語其內(nèi)容包括

(EPMA),:

電子探針顯微分析用一般術(shù)語定義

———;

描述電子探針顯微分析儀器的術(shù)語定義

———;

用于電子探針顯微分析方法的術(shù)語定義

———。

Ⅳ

GB/T21636—2021/ISO238332013

:

微束分析

電子探針顯微分析EPMA術(shù)語

()

1范圍

本文件界定了電子探針顯微分析實踐中使用的術(shù)語包括一般概念的術(shù)語和按儀器分析

(EPMA),、

方法分類的特定概念的術(shù)語

。

本文件適用于相關(guān)領(lǐng)域等的所有標(biāo)準(zhǔn)和實踐文件中通用術(shù)語的定義

(SEM、AEM、EDX)。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件

。

3縮略語

下列縮略語適用于本文件

。

背散射電子

BSE:(backscatteredelectron)

有證參考物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)樣品

CRM:、(certifiedreferencematerial)

能譜儀

EDS:(energy-dispersivespectrometer)

能譜法

EDX:(energy-dispersiveX-rayspectrometry)

電子探針顯微分析

EPMA:(electronprobemicroanalysis)

電子探針顯微分析儀

(electronprobemicroanalyzer)

電子伏

eV:(electronvolt)

千電子伏

keV:(kiloelectronvolt)

二次電子

SE:(secondaryelectron)

掃描電子顯微鏡

SEM: