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文檔簡介

數(shù)字集成電路測試

與可測試設(shè)計(jì)思考題測試的對象是什么？測試的目的是什么？測試的內(nèi)容是什么？測試的方法是什么？測試的工具是什么？測試的平臺是什么？測試的未來是什么？第一章引言1.1測試哲學(xué)1.2測試的作用1.3數(shù)字與模擬VLSI測試1.4VLSI發(fā)展趨勢對測試的影響1.1測試哲學(xué)驗(yàn)證、測試和診斷

驗(yàn)證（verification）：驗(yàn)證系統(tǒng)級或寄存器傳輸級功能是否正確

測試（testing）：測試裸片（die）或芯片（chip）功能是否滿足設(shè)計(jì)要求

診斷(diagnose)：診斷裸片或芯片失效的原因1.1測試哲學(xué)測試的風(fēng)險(xiǎn)合格產(chǎn)品PQ不合格產(chǎn)品FQ通過測試的產(chǎn)品P未通過測試的產(chǎn)品FProb（P|PQ）Prob（F|PQ）Prob（P|FQ）Prob（F|FQ）1.2測試的作用作用：檢驗(yàn)產(chǎn)品是否存在問題。好的測試過程可以將所有不合格的產(chǎn)品擋在到達(dá)用戶手中之前。測試失敗的可能原因：1.測試本身存在錯(cuò)誤；2.加工過程存在問題；3.設(shè)計(jì)不正確；4.產(chǎn)品規(guī)范有問題。1.4VLSI發(fā)展趨勢對測試的影響提升芯片的時(shí)鐘頻率即時(shí)測試ATE的成本EMI1.4VLSI發(fā)展趨勢對測試的

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