航空電子過程管理 大氣輻射影響 第3部分：考慮大氣輻射單粒子效應（SEE）的系統(tǒng)設計優(yōu)化 征求意見稿

1GB/TXXXX.3—202X/IEC62396IEC62396的這一部分為航空電子系統(tǒng)和設備的設計人員提供指導，備在大氣輻射誘導SEE的影響下的必要要求。該部分所描述的活動和目標輸出將成為更高層級認證和所需證據(jù)的輸入。它以IEC62396-1：2012中關(guān)于單粒子效應的系統(tǒng)級方法為基礎，同時為航空IEC/TS62239-1航空電子設模擬單粒子瞬態(tài)ASETanaloguesingleeventtr雙糾錯三檢錯DECTEDdoubleerrorcorrectiontripleerro2GB/TXXXX.3—202X/IEC623注1：此類故障可能表現(xiàn)為軟故障，因為在隨后的測試中可能無法發(fā)注1：硬錯誤包含SEB、SEGR和SEL。此類錯誤主要表現(xiàn)為半導體材料（包括體硅CMOS）中的寄生p-n-p-n電路被觸發(fā)，導致寄生鎖存電流超過保注1：閂鎖是軟故障（固件/軟錯誤）的一平均故障間隔時間MTBFmeantimebet注1：此術(shù)語來自世界航空公司技術(shù)術(shù)語表，指的是在役設備或系統(tǒng)兩次故障之間的平均時間，在這段時間內(nèi)需要更換損壞的器平均非計劃拆卸間隔時間MTBURmeantimebetweenun3GB/TXXXX.3—202X/IEC62396注1：此術(shù)語來自世界航空公司技術(shù)術(shù)語表，指的是設備或系統(tǒng)在使用中因軟故障而導致非計劃拆卸之間的平均時間，因此，它單錯誤糾正雙錯誤檢測SECDEDsingleerrorcorrectiondo4GB/TXXXX.3—202X/IEC62396這種狀態(tài)在器件上電狀態(tài)會持續(xù)存在。鎖定可能是軟故障(固5GB/TXXXX.3—202X/IEC623注1：此類故障不涉及LRU中永久損壞元器件的替換，但需要在系統(tǒng)恢復全部功能之前將邏輯單元術(shù)實現(xiàn)的功能中，曾懷疑存在此類故障條件，即“未發(fā)生故障”綜為了全面解決設計方法論中涉及SEE的問題，并驗證設計所需的證據(jù)，需要對幾個不同的——系統(tǒng)級流程很可能需要解決SEE問題，并就如何在整個開發(fā)過程中處理、溝通和反饋這些流程提供具體的指導。這一點很重要，因為與標準可靠性數(shù)據(jù)相比，SEE問題已被反饋到設計過程中，——元器件管理計劃需要修改，以解決初始器件選擇時的SEE問題，以及制造商修修復器件時的問題。根據(jù)系統(tǒng)的關(guān)鍵程度，可通過一些過程控制以確保在制造過程中使用的新器件從SEE角度來看與原6GB/TXXXX.3—202X/IEC62396為這些器件故障率的主要因素。通過合適的模擬器或地面設備測試小尺寸次級中子集成芯片的SEE率正因此，器件內(nèi)的中子SEE效應可能足以導致正確輸出出現(xiàn)短時間——硬故障，即導致受影響的LRU永久失效的故障，以及這些類別源于器件的SEE：元器件的大氣輻射效應可能導致功能可恢復的軟故障，或者導致元永久失效的硬故障。軟故障的影響應通過電子設備中的糾正措施進行補償。正如IEC62396-1：20誤/故障類型（及其相關(guān)術(shù)語）都將被歸類為硬故障或軟故障。那些會影響平均故障間隔時間(MTBF)的換操作時，將反映在該項目的MTBF值歷史記錄中。在電子設備中，SEE引起的永久性故障（元器件或7GB/TXXXX.3—202X/IEC62396軟故障很可能成為MTBUR指標中CND/NFF類別的一個因素。為了滿足系統(tǒng)的故障率標準（進而使飛機（航空器）功IEC62396-1：2012中已經(jīng)明確指出，在實現(xiàn)飛機功能的系統(tǒng)中，評估是數(shù)字）元器件安全影響的方法應與傳統(tǒng)上公認的評估其它故障模式和影響而導致的功能危險的方法如，表1提供了適航標準第23部分（通用航空類飛機[2])和第25部分（運輸類飛機[3])各種類型失效影根據(jù)AC/AMJ1309和ARP4754的功能故障狀態(tài)分類發(fā)生概率（每飛行小時）災難性的致命的/危險的嚴重的輕微的無影響的8GB/TXXXX.3—202X/IEC62396通過在系統(tǒng)級和設備級進行適當?shù)脑O計，并精心選擇和管理（參見IEC62396-1:2012、7.4和為系統(tǒng)性能下降，并可能包括在移除和重啟電源或刷新時清除的故障或錯誤(SEFI、SE部分全權(quán)數(shù)字發(fā)動機控制（FADEC）系統(tǒng)也被歸類為A級。安裝在第25部分飛機上的FADEC軟件和復雜電子硬件具有共模威脅的特性而被歸類為A級。因此，實現(xiàn)某些關(guān)鍵功能（如超速、反9GB/TXXXX.3—202X/IEC62396軟故障不需要更換數(shù)字器件來恢復系統(tǒng)的全部性能。它們的影響可以在系統(tǒng)、電子設備或器件級進行緩解。6.3.1.3節(jié)中給出了一些軟故障檢測/緩解方法。附錄B提供了在電子設備層級，通過優(yōu)化設計來緩解電子元器件的SEE可以獲得最大效益。目前很多技術(shù)能夠在元器件級檢測和糾正由SEE引起的軟故障。只要數(shù)字計算機的硬件處理單元保持運行，軟件緩解元器件級的軟故障，例如SEU(單粒子/單粒子多位翻轉(zhuǎn)等)通?？梢栽谠O備級檢測到并且在設備內(nèi)GB/TXXXX.3—202X/IEC62396邏輯電平到故障電平的快速瞬變。它們通常與時鐘信號相對應并在短時間內(nèi)發(fā)生，被稱為單粒子瞬態(tài)b)速率變化。在定義的正常系統(tǒng)操作條件下，模擬參數(shù)或數(shù)值的最大速率變化是有備的能力和功能性。此外，對于特征尺寸較大的某類元器件(例如SRAM存儲器)，其可用性可能會出現(xiàn)——通過監(jiān)測兩個或更多冗余計算元件之間的狀態(tài)，可以檢測到軟故障的發(fā)生(如三重模數(shù)冗余微b)基于可追溯到測試結(jié)果的故障/故障率的故障/故障模型（在某些情況下，對所有器件使用平均SEE錯誤率，某些元器件的SEE錯誤率可能較高，而其它元器件的SEE錯誤率可GB/TXXXX.3—202X/IEC623<>否是<>否是否否否是否是是是是是GB/TXXXX.3—202X/IEC62396在芯片級，可以使用許多不同的技術(shù)。航空電子而該字本身仍然會保持錯誤狀態(tài)。為了避免這種情況，通常使用交錯技術(shù)，即在理上與其它位分開，這大大減少了兩個錯誤位于同一字中的可能性。這是因為單于”或“小于”用“大于或等于”或“小于或等于”代替來實現(xiàn)，并且在可能的情況使用“大于或等于”或“小于或等于”代替“等于”。這是計數(shù)GB/TXXXX.3—202X/IEC62396會有短暫的錯誤。數(shù)據(jù)應該以這樣的速率刷新，即在刷新周期內(nèi)，錯轉(zhuǎn)可以通過改變決定程序執(zhí)行的操作碼或數(shù)據(jù)值，來中斷處理器的操作。由此微處理器的緩解技術(shù)包括奇偶校驗、低端流水線刷新、緩存刷新和采用雙處工作原理是，存儲器的三個部分執(zhí)行相同的操作，并將結(jié)果進行比較和表決，以方式相互操作。電路中的故障將表現(xiàn)為兩個電路之間結(jié)果的差異，如果出現(xiàn)錯誤字方法的方式，可以通過比較來檢測偏離值。三重模塊和鎖步是GB/TXXXX.3—202X/IEC62396延遲路徑的三個分支（直接、單延遲、雙延遲）具有交錯延遲，GB/TXXXX.3—202X/IEC62396示例系統(tǒng)C.1.1主飛行控制系統(tǒng)主飛行控制系統(tǒng)根據(jù)飛行機組、自動駕駛儀和飛行管理系統(tǒng)的指令，操縱舵、副翼、方向舵）的位置，以使飛機按所需飛行姿態(tài)進行飛行。執(zhí)行主飛行控？）C.1.2主飛行指引系統(tǒng)Primaryflightdirector主飛行指引系統(tǒng)向飛行機組提供至關(guān)重要的飛行安全和著陸信息。在此情GB/TXXXX.3—202X/IEC62396主飛行指C.2.1發(fā)動機控制系統(tǒng)發(fā)動機控制系統(tǒng)根據(jù)當前發(fā)動機條件和駕駛艙指令，以及飛行姿態(tài)要處理，如果飛機有配備了多個發(fā)動機，則發(fā)動機推力損失可能會受到冗余性地影雙冗余的，即兩個控制通