GB/T 24724-2009收費專用鍵盤

犐犆犛０３．２２０．２０；９３．０８０．３０；３５．１８０

犚８０

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４７２４—２００９

收費專用鍵盤

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２００９１１３０發(fā)布２０１００４０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２４７２４—２００９

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４結(jié)構(gòu)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５技術(shù)要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６試驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

７檢驗規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

８標(biāo)識、包裝、運輸與貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

書

犌犅／犜２４７２４—２００９

前言

本標(biāo)準(zhǔn)由全國交通工程設(shè)施（公路）標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ２２３）提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：交通部公路科學(xué)研究院、國家交通安全設(shè)施質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：劉玉新、崔晗晶、龔柏巖、于江浩、陳建、蔣海峰。

Ⅰ

犌犅／犜２４７２４—２００９

收費專用鍵盤

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了收費專用鍵盤的術(shù)語和定義、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則和標(biāo)志、包裝、運輸、貯存

等內(nèi)容。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于公路、停車場等場所的收費專用鍵盤。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１９１—２０００包裝儲運圖示標(biāo)志（ＧＢ／Ｔ１９１—２００８，ＩＳＯ７８０：１９９７，ＭＯＤ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ａ：低溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．１—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｂ：高溫（ＧＢ／Ｔ２４２３．２—

２００８，ＩＥＣ６００６８２２：２００７，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｃａｂ：恒定濕熱試驗

（ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６，ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ：振動（正弦）

（ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８，ＩＥＣ６００６８２６：１９９５，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｋａ：鹽霧（ＧＢ／Ｔ２４２３．１７—

２００８，ＩＥＣ６００６８２１１：１９８１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２２—２００２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｎ：溫度變化

（ＩＥＣ６００６８２１４：１９８４，ＩＤＴ）

ＧＢ４２０８外殼防護等級（ＩＰ代碼）（ＧＢ４２０８—２００８，ＩＥＣ６０５２９：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ５０８０．７設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案

（ＧＢ／Ｔ５０８０．７—１９８６，ｉｄｔＩＥＣ６０６０５７：１９７８）

ＧＢ／Ｔ１７６２６．２電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗（ＧＢ／Ｔ１７６２６．２—２００６，

ＩＥＣ６１０００４２：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１７６２６．３電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗（ＧＢ／Ｔ１７６２６．３—

２００６，ＩＥＣ６１０００４３：２００２，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１７６２６．４電磁兼容試驗和測