無損檢測(cè)儀器 渦流檢測(cè)設(shè)備 陣列探頭性能和檢驗(yàn) 征求意見稿

1GB/TXXXXX—XXXX無損檢測(cè)儀器渦流檢測(cè)設(shè)備陣列探頭性能和檢驗(yàn)本文件規(guī)定了渦流陣列探頭及其連接元器件的功能特性，并提供了測(cè)量和驗(yàn)證方法。對(duì)這些特性的評(píng)估使得渦流陣列探頭可以明確描述且具有可比性。必要時(shí)，本文件給出特性接受標(biāo)準(zhǔn)的建議。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。ISO12718無損檢測(cè)渦流檢測(cè)術(shù)語(yǔ)（Non-destructivetesting—Eddycurrenttesting—Vocabulary）注：GB/T12604.6-2021無損檢測(cè)渦流檢測(cè)術(shù)語(yǔ)（ISO15548-1無損檢測(cè)渦流檢測(cè)設(shè)備第1部分：儀器特性和驗(yàn)證（Non-destructivetesting—Equipmentforeddycurrentexamination—Part1:Instrumentcharacteristicsandverification）注：GB/T14480.1-2015無損檢測(cè)儀器渦流檢測(cè)設(shè)備第1部分：儀器性能和驗(yàn)證（ISO15548-1:2008，IDT）ISO15548-2:2013無損檢測(cè)渦流檢測(cè)設(shè)備第2部分：探頭特性和驗(yàn)證（Non-destructivetesting—Equipmentforeddycurrentexamination—Part2:Probecharacteristicsandverification）注：GB/T14480.2-2015無損檢測(cè)儀器渦流檢測(cè)設(shè)備第2部分：探頭性能和驗(yàn)證（ISO15548-2:2008，IDT）3術(shù)語(yǔ)和定義ISO12718界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1陣元element具有基本功能（激勵(lì)或接收）的單物理元件（如線圈，巨磁電阻或霍爾元件）。3.2檢測(cè)單元pattern同時(shí)工作的陣元組成的單個(gè)物理和電子排列。3.3時(shí)序sequencing檢測(cè)單元的激活順序。2GB/TXXXXX—XXXX3.4閾值threshold應(yīng)用文件中規(guī)定的可接受的最低靈敏度值。4探頭及連接元器件的特性4.1一般特征4.1.1應(yīng)用選擇探頭及其連接元器件以滿足應(yīng)用要求。探頭及其連接元器件的設(shè)計(jì)受到使用儀器的影響。4.1.2探頭類型探頭的描述為：——待檢材料類型，如：鐵磁材料，高導(dǎo)電率或低導(dǎo)電率的非鐵磁材料；——檢測(cè)區(qū)域的幾何形狀；——是否貼合檢測(cè)面；——類型，如同軸探頭，表面探頭；——接收元件類型；——激勵(lì)或接收陣元數(shù)量；——陣元的形狀和組裝及陣元間距；——檢驗(yàn)的目的，如檢測(cè)不連續(xù)，分選，測(cè)量厚度等；——特定特征，如聚焦、屏蔽等?！罁?jù)檢測(cè)單元、時(shí)序和儀器軟件，同一陣列探頭可能既可進(jìn)行激勵(lì)或接收也可進(jìn)行絕對(duì)式或差動(dòng)式測(cè)量。4.1.3連接元器件包括：——有源器件，例如多路復(fù)用器（內(nèi)置或外部）、放大器；——電纜和/或延長(zhǎng)線；——連接器；——滑環(huán)；——旋轉(zhuǎn)頭；——偏振器。4.1.4物理特性應(yīng)規(guī)定下列事項(xiàng)：——外形尺寸和形狀；——重量；——機(jī)械安裝信息；——型號(hào)和序列號(hào)；——探頭外殼材料；3GB/TXXXXX—XXXX——覆面材料成分和厚度；——磁芯或屏蔽罩的存在及其用途；——連接元器件的類型（見4.1.3）；——至少一個(gè)位置標(biāo)記（電中心，見8.5）。4.1.5安全探頭及其連接元器件應(yīng)符合有關(guān)電氣危險(xiǎn)、表面溫度或爆炸的適用安全法規(guī)。正常使用探頭不應(yīng)造成危險(xiǎn)。4.1.6環(huán)境條件應(yīng)規(guī)定正常使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸探頭及其連接元器件的溫度和濕度。探頭及其連接元器件所允許的干擾噪聲和電磁輻射的影響應(yīng)符合電磁兼容規(guī)定。探頭制造所使用的材料應(yīng)不易被污染。4.2電氣特性連接到規(guī)定長(zhǎng)度和類型電纜的探頭的電氣特性如下：——推薦的安全運(yùn)行的激勵(lì)電壓范圍；——推薦的激勵(lì)頻率范圍。延長(zhǎng)電纜的電氣特性是：——單位長(zhǎng)度的電阻和容抗。4.3功能特性針對(duì)具體系統(tǒng)規(guī)定陣列探頭的功能特性。探頭功能特性的測(cè)量需要使用參考試塊。參考試塊使用的材料根據(jù)具體應(yīng)用確定。探頭的功能特性如下：——角度敏感性；——對(duì)簡(jiǎn)單的不連續(xù)或變化（孔、槽、沉積物等）的響應(yīng)；——檢測(cè)單元覆蓋范圍的長(zhǎng)度和寬度；——檢測(cè)單元的覆蓋面積；——獲得恒定響應(yīng)的最小不連續(xù)尺寸；——穿透特性；——幾何效應(yīng)；——串?dāng)_；——失效陣元數(shù)量。不能單獨(dú)使用這些特性來確定具體應(yīng)用和具體測(cè)試系統(tǒng)中的探頭性能（如分辨率，最大不可檢測(cè)的不連續(xù)等）。必要時(shí)，應(yīng)根據(jù)應(yīng)用要求在接有連接元器件的探頭上測(cè)量功能特性。5驗(yàn)證5.1驗(yàn)證級(jí)別可能需要兩個(gè)級(jí)別的驗(yàn)證：4GB/TXXXXX—XXXXa)基礎(chǔ)驗(yàn)證：給出檢測(cè)性能。b)高級(jí)驗(yàn)證：給出特征性能，包括：——在需要對(duì)測(cè)量進(jìn)行機(jī)械化（探頭運(yùn)動(dòng)）時(shí)，對(duì)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證；——數(shù)字化和掃描速度：每毫米測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。本文件不考慮制造商和客戶對(duì)工藝過程的確認(rèn)。5.2待驗(yàn)證特性表1列出了需要驗(yàn)證的特性。表1陣列探頭特性特性基礎(chǔ)級(jí)驗(yàn)證高級(jí)驗(yàn)證外尺寸IM探頭的適形性IM覆蓋面積IM陣元數(shù)量IM排列MM激勵(lì)頻率MM陣元屬性II陣元尺寸II陣元間距II組裝II外部或內(nèi)置多路復(fù)用器II提供電纜的長(zhǎng)度和類型III：制造商測(cè)量或設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)，記錄于技術(shù)規(guī)格書。M：制造商和/或用戶測(cè)量。制造商應(yīng)說明探頭所適用的不連續(xù)的類型和方向。當(dāng)用戶需要更多陣元信息時(shí)（例如仿真時(shí)），可在特定協(xié)議中列出這些信息。6陣列探頭電特性和功能特性測(cè)量6.1電特性6.1.1總則在應(yīng)用中，電特性本身并不能定義探頭特性。以下給出的測(cè)量方法和測(cè)量?jī)x器僅供參考，可以使用其他等效的方法和儀器。當(dāng)使用模型測(cè)量特性時(shí)，應(yīng)清楚說明這一點(diǎn)。6.1.2測(cè)量條件陣列探頭（表面探頭和同軸探頭）在大多數(shù)情況下只適用于某一具體應(yīng)用。它們與電纜一起交付，電纜的設(shè)計(jì)取決于陣元的數(shù)量，并且電纜不能在測(cè)量時(shí)移除。電纜的特性通常是專有信息。制造商提供電纜，其長(zhǎng)度在諧振和衰減方面與客戶所描述的探頭的未來使用兼容。5GB/TXXXXX—XXXX以下測(cè)量方法僅適用于由線圈組成的陣元。若接收陣元不是線圈，應(yīng)規(guī)定具體測(cè)量。在沒有使用檢測(cè)系統(tǒng)的連接元器件的情況下，在連接電纜一端的探頭連接器上進(jìn)行測(cè)量。探頭置于空氣中，遠(yuǎn)離任何導(dǎo)電或磁性材料。只有在探頭中的電子元件（如放大器、多路復(fù)用器等）不工作的情況下，才有可能進(jìn)行這些測(cè)量。在探頭連接器處對(duì)探頭的每個(gè)陣元進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量某個(gè)陣元時(shí)其他陣元保持開路。當(dāng)探頭設(shè)計(jì)用于特定條件（如溫度或壓力）時(shí)，應(yīng)在應(yīng)用文件中規(guī)定所需的額外測(cè)量。6.1.3線圈陣元阻抗如不受內(nèi)置放大器的影響，所有線圈陣元的阻抗應(yīng)使用阻抗計(jì)或阻抗分析儀進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量得到的阻抗可以用等效電路（電阻、電感和電容）的數(shù)值表示，也可以用頻率曲線表示（波德圖或奈奎斯特圖6.1.4檢測(cè)單元的阻抗該測(cè)量通常是制造商的責(zé)任，不由用戶進(jìn)行，因?yàn)橐坏┨筋^組裝完成就不能進(jìn)行該測(cè)量?！杩鼓Ｊ綔y(cè)量中心頻率的復(fù)阻抗——收發(fā)分離模式在激勵(lì)陣元輸入端輸入一個(gè)中心頻率的電壓，測(cè)量輸出端電壓。對(duì)每一檢測(cè)單元都進(jìn)行重復(fù)測(cè)量。驗(yàn)證結(jié)果的一致性。如果有明顯的偏差（大于5%），應(yīng)進(jìn)行充分修正。6.1.5通道分配——時(shí)序通道分配的驗(yàn)證是必不可少的。以下操作步驟供參考。使用中心頻率進(jìn)行測(cè)量。對(duì)與掃查方向成一定角度的缺陷進(jìn)行C掃查成像：對(duì)于表面探頭，使用A1試塊，試塊有一個(gè)45。的槽；對(duì)于同軸探頭，使用B2試塊，管壁上有一個(gè)螺旋缺陷。應(yīng)根據(jù)掃描步長(zhǎng)和檢測(cè)單元尺寸選擇角度。驗(yàn)證通道分配和在這些通道上獲得的信號(hào)的一致性。在配置復(fù)雜的情況下，驗(yàn)證步驟由制造商決定。本測(cè)量不考慮使用電子掃描的靜態(tài)探頭的情況，對(duì)于這種情況，應(yīng)當(dāng)逐案制定驗(yàn)證步驟。6.1.6串?dāng)_陣列探頭總是存在串?dāng)_。通過多路復(fù)用非鄰近陣元來減小串?dāng)_。串?dāng)_的可接受水平在很大程度上取決于應(yīng)用；因此，本文件不規(guī)定串?dāng)_可接受水平。6.2功能特性6.2.1總則本文件描述常用探頭類型。為特殊（不常見）應(yīng)用設(shè)計(jì)的探頭應(yīng)遵循本文件方法依據(jù)應(yīng)用文件進(jìn)行描述。本文件描述的特性可以提供有關(guān)此類探頭的有用信息。定義兩類探頭的功能特性：表面探頭和同軸探頭。6.2.2測(cè)量條件6GB/TXXXXX—XXXX6.2.2.1總則可以使用符合ISO15548-1標(biāo)準(zhǔn)的適用于陣列式探頭的多通道渦流儀，但必須滿足測(cè)量精度要求。也可以使用足夠的儀器設(shè)備，包括電壓/電流發(fā)生器、同步檢測(cè)放大器以及電壓表、示波器或數(shù)字轉(zhuǎn)換器。如果探頭沒有連接電纜，則應(yīng)記錄用于測(cè)量的電纜的特性。在制造商規(guī)定的頻率范圍內(nèi)測(cè)量探頭特性，并使用包含已知特征（如槽和孔）的參考試塊。參考試塊所使用材料的冶金性能和表面處理應(yīng)符合應(yīng)用文件規(guī)定。其幾何形狀應(yīng)符合下列章節(jié)的要求。必要時(shí)，鐵磁性材料試塊可在使用前退磁。參考試塊可以用任何其他裝置替代，應(yīng)證明替代裝置在所測(cè)量特性上的等效性。在探頭影響區(qū)域內(nèi)，任何擾動(dòng)電磁場(chǎng)或鐵磁性材料的存在都會(huì)影響探頭的功能特性。在進(jìn)行以下測(cè)量時(shí)應(yīng)注意避免這些影響。應(yīng)記錄每個(gè)特性的測(cè)量條件，例如激勵(lì)頻率和電壓/電流以及參考試塊詳細(xì)信息等。測(cè)量信號(hào)幅值，需要時(shí)也測(cè)量信號(hào)相位。6.2.2.2信號(hào)幅值測(cè)量a)絕對(duì)信號(hào)b)差分信號(hào)7GB/TXXXXX—XXXXa)絕對(duì)測(cè)量信號(hào)幅值是將平衡點(diǎn)連接到與相對(duì)于平衡點(diǎn)的最大新華偏移對(duì)應(yīng)的點(diǎn)構(gòu)成的矢量的長(zhǎng)度，除非應(yīng)用文件另有規(guī)定，見圖1a。b)差動(dòng)測(cè)量信號(hào)幅值是連接兩個(gè)信號(hào)極值點(diǎn)（如峰峰值）的線的長(zhǎng)度，除非應(yīng)用文件另有規(guī)定，見圖1b。c)其他測(cè)量方法應(yīng)當(dāng)在應(yīng)用文件中載明。6.2.2.3信號(hào)相位角測(cè)量相位角是基準(zhǔn)線與代表6.2.2.2中確定的信號(hào)幅值的線之間的夾角。應(yīng)規(guī)定測(cè)量相位角的基準(zhǔn)線。測(cè)量的范圍和極性應(yīng)與ISO15548-2:2013第6.2.2.3條款一致。7表面陣列探頭除非另有規(guī)定，測(cè)量應(yīng)在應(yīng)用文件規(guī)定的恒定陣元間隙下進(jìn)行。如果有幾種不同類型的檢測(cè)單元（阻抗模式，收發(fā)分離模式），應(yīng)對(duì)每一種檢測(cè)單元進(jìn)行測(cè)量。7.1參考試塊應(yīng)優(yōu)化設(shè)計(jì)，避免邊緣效應(yīng)。對(duì)于每個(gè)參考試塊，其長(zhǎng)度和寬度應(yīng)不小于探頭長(zhǎng)度和寬度加上探頭規(guī)格給出的探頭作用區(qū)域長(zhǎng)度的至少兩倍。當(dāng)不知道該特征時(shí)，應(yīng)以掃查平面內(nèi)探頭的最大作用范圍來代替。在測(cè)量了7.5中描述的覆蓋區(qū)域長(zhǎng)度后，可以進(jìn)行驗(yàn)證。參考試塊的厚度應(yīng)至少是探頭規(guī)格中的最低頻率下的標(biāo)準(zhǔn)穿透深度的三倍。用于制造試塊的材料應(yīng)是堅(jiān)實(shí)均勻的，其物理屬性（電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率）應(yīng)接近應(yīng)用中的材料物理屬每個(gè)試塊應(yīng)有一張接收單，包括尺寸測(cè)量結(jié)果：粗糙度、側(cè)面平行度和參考缺陷的計(jì)量。參考試塊A1試塊中心有一個(gè)槽（見圖2）。其最低要求：——該槽應(yīng)長(zhǎng)于根據(jù)7.7中描述的方法確定的“獲得恒定探頭響應(yīng)的最小槽長(zhǎng)”；——該槽應(yīng)比根據(jù)7.10中描述的方法確定的“獲得恒定探頭響應(yīng)的表面開口槽的最小深度”更深?！蹖拺?yīng)在應(yīng)用文件中規(guī)定。此外，參考試塊具有如下特征：——一種凹槽，其寬度大于探頭的工作部分，填充有非導(dǎo)電材料，用于進(jìn)行相位歸一化（模擬提離效應(yīng)）——或，一個(gè)或多個(gè)絕緣墊片。參考試塊A2（見圖2）包括以下內(nèi)容：——單孔，其直徑應(yīng)小于探頭陣元間距；——雙孔，各孔直徑與單孔直徑相同；兩個(gè)孔之間的距離應(yīng)根據(jù)探頭陣元尺寸、檢測(cè)單元尺寸和應(yīng)用進(jìn)行優(yōu)化。8GB/TXXXXX—XXXX圖2表面探頭的參考試塊7.2探頭運(yùn)動(dòng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證已表明，陣列探頭的測(cè)量在很大程度上依賴于掃查條件。掃查應(yīng)可準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)。對(duì)于以下所有測(cè)量，確保探頭與參考試塊表面接觸的壓力和探頭的方向必須嚴(yán)格復(fù)現(xiàn)。7.3參考信號(hào)——?dú)w一化參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。平衡將探頭置于槽與鄰近的試塊邊緣之間，在試塊上平衡探頭。確認(rèn)在該位置附近沿槽的方向和邊緣的方向移動(dòng)探頭時(shí)，信號(hào)沒有發(fā)生明顯的變化。掃描和槽應(yīng)適應(yīng)檢測(cè)單元。探頭運(yùn)動(dòng)探頭通過槽的中心上方進(jìn)行線性掃查，探頭的首選方向垂直于槽（見圖3）。對(duì)于該測(cè)量，探頭首選方向應(yīng)由制造商規(guī)定。調(diào)整掃查方式使之與檢測(cè)單元類型（發(fā)射和接收是否分離，絕對(duì)測(cè)量中發(fā)射和接收結(jié)合）相適應(yīng)。如果探頭明確設(shè)計(jì)用于掃查不與探頭運(yùn)動(dòng)相垂直（如平行）的槽，則應(yīng)在應(yīng)用文件中給出替代測(cè)量步驟。設(shè)置1)儀器的設(shè)置應(yīng)使槽的信號(hào)的幅值在不飽和的前提下達(dá)到最大。背景噪聲（靜態(tài)測(cè)量）的幅值應(yīng)比3.4所定義的靈敏度閾值對(duì)應(yīng)的信號(hào)幅值小6dB。在隨后的所有測(cè)量中，如果沒有任何飽和信號(hào)，應(yīng)進(jìn)行檢查。2)進(jìn)行歸一化，以使所有通道得到的參考槽的信號(hào)具有相同的幅值和相位，該幅值應(yīng)在儀器動(dòng)態(tài)范圍的25%與80%之間。在所有測(cè)量中都應(yīng)保持此設(shè)置。結(jié)果參考信號(hào)Sref是掃查過程中所有通道的最大信號(hào)。例如，掃查填充槽（或絕緣覆蓋物）時(shí)獲得的信號(hào)的相位可以作為后續(xù)測(cè)量的相位原點(diǎn)。在接下來的章節(jié)中，所有的結(jié)果都是相對(duì)于Sref而言的。9GB/TXXXXX—XXXX圖3探頭運(yùn)動(dòng)獲得參考信號(hào)7.4邊緣效應(yīng)（金屬板、圓盤等幾何形狀情況下可測(cè)量）參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)兩個(gè)垂直方向。將探頭置于槽與鄰近的試塊邊緣之間，從前述平衡位置沿掃查線移動(dòng)到參考試塊最近的邊緣：1)沿其首選方向（垂直于槽方向）；2)垂直于其首選方向。結(jié)果1)垂直掃查：邊緣效應(yīng)用從最接近測(cè)量所關(guān)注的試塊邊緣的探頭工作部分端部到試塊邊緣的距離表征，此時(shí)S滿足S/ef=A例如S的絕對(duì)值-ef）/ef=0.5（A是應(yīng)用文件中規(guī)定的數(shù)值）2)平行掃查：考慮發(fā)射陣元的相對(duì)位置。邊緣效應(yīng)在一個(gè)方向上比在相反方向上更強(qiáng)。S/ef=A（A是應(yīng)用文件中規(guī)定的數(shù)值。）7.5對(duì)槽的響應(yīng)參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)a)無方向性探頭使陣列長(zhǎng)度方向垂直或平行于槽掃查試塊（見圖4，掃查A或T）。b)方向性探頭使探頭優(yōu)先方向垂直于槽掃查試塊（見圖4，掃查T）。GB/TXXXXX—XXXX說明：1渦流陣列探頭2掃查A3掃查T4參考槽注：探頭上的箭頭表示探頭優(yōu)先方向。圖4測(cè)量探頭對(duì)槽響應(yīng)的探頭運(yùn)動(dòng)結(jié)果取整個(gè)掃查信號(hào)的最大值Smax/Sref。對(duì)于每條掃查路徑，繪制出比Smax/Sref小6dB的信號(hào)對(duì)應(yīng)的點(diǎn)，以得到探頭對(duì)槽的響應(yīng)圖。掃查路徑應(yīng)通過對(duì)第一個(gè)記錄點(diǎn)（例如左下）的槽和探頭位置標(biāo)記的表示與映射相關(guān)。可以使用更多的等值線或任何等效描述（三維響應(yīng)圖、彩色圖等）來更完整地描述結(jié)果。7.6對(duì)孔的響應(yīng)參考試塊：使用A2試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)僅使用一個(gè)檢測(cè)單元從單孔的一側(cè)到另一側(cè)依次進(jìn)行掃查。掃查路徑間隔應(yīng)該等于檢測(cè)單元間距的結(jié)果每次掃查，記錄最大信號(hào)幅值，并繪制相應(yīng)的曲線（鐘形）。已知檢測(cè)單元間距，即可推斷出結(jié)果，并測(cè)量?jī)蓚€(gè)相鄰檢測(cè)單元間的幅值衰減。7.7覆蓋長(zhǎng)度覆蓋長(zhǎng)度由7.5獲得的探頭對(duì)槽的響應(yīng)確定，在掃查方向上取包絡(luò)線的最大寬度（見圖5）即得到覆蓋長(zhǎng)度。如果有幾種不同的檢測(cè)單元模式（阻抗模式、收發(fā)分離模式），應(yīng)在各種模式下進(jìn)行測(cè)量。GB/TXXXXX—XXXX說明：圖5確定覆蓋長(zhǎng)度（Lcov）的例子7.8檢測(cè)單元之間靈敏度的變化測(cè)量目的該測(cè)量能夠評(píng)估從一個(gè)檢測(cè)單元到另一個(gè)檢測(cè)單元的靈敏度一致性。測(cè)量應(yīng)由制造商進(jìn)行，結(jié)果應(yīng)提供給用戶。應(yīng)始終按照7.3的規(guī)定對(duì)信號(hào)進(jìn)行歸一化。參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)：對(duì)參考試塊表面進(jìn)行線性掃查，探頭中心經(jīng)過槽的中心的上方。結(jié)果：在阻抗平面上，觀察每個(gè)通道上獲得的信號(hào)。a)剛性探頭——信號(hào)相位角的變化不應(yīng)超過±3。。——信號(hào)幅值的變化不應(yīng)超過±10%。b)適形探頭——信號(hào)相位角的變化不應(yīng)超過±3。?！盘?hào)幅值的變化不應(yīng)超過±10%。若信號(hào)重復(fù)性不能得到保證，信號(hào)相位角的變化會(huì)受到影響。考慮下述情況：——信號(hào)相位角的變化不應(yīng)超過±5。，當(dāng)變化超過上述數(shù)值時(shí)，探頭不符合本文件。7.9恒定探頭響應(yīng)的最小槽長(zhǎng)該驗(yàn)證僅限于檢測(cè)單元。參見ISO15548-2。7.10提離效應(yīng)參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)探頭位于試塊平衡區(qū)域上方，并按規(guī)定步距垂直試塊表面移動(dòng)。當(dāng)探頭與參考試塊接觸（即z=0）時(shí)對(duì)探頭進(jìn)行平衡?？墒褂貌粚?dǎo)電墊片或適當(dāng)?shù)目商峁┛蓽y(cè)量的機(jī)械提升的裝置（探頭夾裝干掃描設(shè)備）獲得提離。結(jié)果按規(guī)定步距改變z，繪制S(z)/Sref曲線。GB/TXXXXX—XXXX提離效應(yīng)用S(z)與z的關(guān)系曲線表征。7.11探頭間隙對(duì)縫隙響應(yīng)的影響參考試塊：使用A1試塊進(jìn)行測(cè)量。探頭運(yùn)動(dòng)通過槽的中心上方進(jìn)行線性掃查，探頭相對(duì)于槽的方向取決于檢測(cè)單元（橫向或縱向）產(chǎn)生的通道類型。陣元間隙從0至一個(gè)代表影響區(qū)域邊緣的值變化，該值在應(yīng)用文件中指定。對(duì)于每個(gè)陣元間隙，在試塊平衡區(qū)域上進(jìn)行探頭平衡。結(jié)果對(duì)于每個(gè)陣元間隙z，重復(fù)7.4中描述的測(cè)量。陣元間隙對(duì)缺陷信號(hào)的影響通過繪制Smax(z)/Sref與z的關(guān)系曲線來表征。7.12近表面槽的有效探測(cè)深度該驗(yàn)證僅限于檢測(cè)單元。參見ISO15548-2。7.13分辨率根據(jù)定義，分辨率探頭能夠區(qū)分兩個(gè)不同缺陷信號(hào)的最小缺陷距離。這一功能特性取決于探頭為何種應(yīng)用而設(shè)計(jì)。參考試塊：使用A2試塊進(jìn)行測(cè)量。建議進(jìn)行兩項(xiàng)測(cè)量。1)第一項(xiàng)測(cè)量可以得到分辨率的近似值：——探頭相對(duì)于孔的方向影響檢測(cè)單元(縱向或橫向)產(chǎn)生的信號(hào)，對(duì)于該測(cè)量，只有縱向掃查是必要的；——使用一個(gè)檢測(cè)單元掃查參考缺陷；——繪制響應(yīng)曲線；——將閾值設(shè)置為信號(hào)最大值的-6dB，測(cè)量信號(hào)寬度；——測(cè)得的寬度是檢測(cè)單元分辨率的保守估計(jì)（見附錄A）；2)第二項(xiàng)測(cè)量是對(duì)整個(gè)陣列分辨率的驗(yàn)證：——沿縱向掃查孔2和3（陣列平行于孔）；——與附錄A（仿真3）中的曲線相似的響應(yīng)曲線能夠驗(yàn)證探頭分辨率最多與檢測(cè)單元相同。7.14缺陷陣元或檢測(cè)單元制造商：不允許有缺陷陣元或檢測(cè)單元用戶：應(yīng)在應(yīng)用文件中說明接受標(biāo)準(zhǔn)。8同軸式陣列探頭8.1一般條件除非另有說明，否則：——該測(cè)量適用于具有圓柱形狀和圓形截面的內(nèi)通式或外穿式同軸探頭，應(yīng)在應(yīng)用文件中規(guī)定的恒定陣元間隙下進(jìn)行測(cè)量；GB/TXXXXX—XXXX——考慮信號(hào)的幅值和相位。對(duì)于非圓形截面同軸探頭，在應(yīng)用文件中逐項(xiàng)審查。8.2參考試塊參考試塊（B1至B3,C1至C3）用一般術(shù)語(yǔ)描述。參考試塊包括管和棒?！埽ò簦┑拈L(zhǎng)度L應(yīng)大于制造商定義的探頭邊緣效應(yīng)尺寸的4倍。當(dāng)不知道該特征時(shí)，用探頭在掃查方向上的作用范圍代替?！斯げ贿B續(xù)之間的距離應(yīng)至少是探頭作用范圍的3倍?！鼙诤穸龋ɑ虬舨闹睆剑┰趹?yīng)用文件中規(guī)定。管壁厚度（或直徑）在管材（或棒材）的整個(gè)長(zhǎng)度上保持不變。就管材而言，如果參考試塊的厚度至少是探頭規(guī)格中規(guī)定的最低頻率對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)穿透深度的3倍，則壁厚變化的影響可以忽略。操作規(guī)程應(yīng)規(guī)定對(duì)每個(gè)試塊的詳細(xì)要求。測(cè)量中唯一要考慮的探頭運(yùn)動(dòng)是平行于參考試塊軸的平移。管材試塊B1（棒材試塊C1）。試塊上有3個(gè)軸向槽和3個(gè)橫向槽，均為電火花加工。槽的長(zhǎng)度至少是檢測(cè)單元長(zhǎng)度的3倍。槽的深度分別為20%、40%和60%壁厚。外徑環(huán)形槽，30%深，5毫米寬（見圖6）。圖6參考試塊B1試塊B2（或試塊C2）試塊為具有一個(gè)30%深度超過400。螺旋槽的管（或棒），寬度不是很重要（0.5mm至1mm寬），見螺旋螺距：空間采樣所需周期的兩倍乘以陣元數(shù)量（例如：采樣頻率為每毫米兩點(diǎn)，周期為0.5；GB/TXXXXX—XXXX圖7參考試塊B2試塊B3（或試塊C3）：試塊為含有4個(gè)寬0.2mm的圓周凹槽的管（或棒），槽深分別為10%、30%、50%和70%壁厚，見圖8。圖8參考試塊B38.3參考信號(hào)參考試塊：使用B1（或C1）試塊進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量確保探頭居中。結(jié)果在管（或棒）的無不連續(xù)部分進(jìn)行探頭平衡。將探頭移動(dòng)到圓周凹槽上。調(diào)整儀器，使最大信號(hào)與儀器動(dòng)態(tài)范圍的給定值（如25%）相對(duì)應(yīng)。需要驗(yàn)證在后續(xù)的測(cè)量中沒有出現(xiàn)信號(hào)飽和。參考信號(hào)Sref是掃查過程中信號(hào)的最大值。參考信號(hào)的相位作為后續(xù)測(cè)量的相位原點(diǎn)。如果方便的話，可以選擇其他參考，報(bào)告即可。在接下來的章節(jié)中，所有的結(jié)果都應(yīng)使用Sref表示。8.4無缺陷陣元GB/TXXXXX—XXXX參考試塊：使用B2（或C2）試塊進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量在管（或棒）的無缺陷部分進(jìn)行探頭平衡。在管（或棒）外拖動(dòng)探頭掃查螺旋槽。在結(jié)果顯示中觀察有無缺陷陣元。接受標(biāo)準(zhǔn)制造商：不允許有缺陷陣元。用戶：接受標(biāo)準(zhǔn)在應(yīng)用文件中規(guī)定。8.5探頭位置標(biāo)記（主要用于定位）根據(jù)下面給出的測(cè)量方法，探頭上的位置標(biāo)記明確地定義了探頭的電中心。在探頭大小和形狀或者探頭響應(yīng)允許的地方可以標(biāo)記探頭位置標(biāo)記。如果無法在探頭上標(biāo)記探頭位置標(biāo)記，可通過草圖描述位置標(biāo)記，或者記錄探頭上的固定點(diǎn)至位置標(biāo)記的距離。參考試塊：使用B1（或C1）試塊進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量方法和結(jié)果——將探頭安裝在合適的夾具上，移動(dòng)參考試塊B1（或C1）以掃查外壁周向凹槽。找到并保持最大信號(hào)對(duì)應(yīng)的試塊位置。在探頭電纜上（或在測(cè)試臺(tái)上）做一個(gè)標(biāo)記，然后記錄從凹槽到開始掃查的試塊端部距離對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度?！谔筋^上刻下記號(hào)。8.6端部效應(yīng)該驗(yàn)證僅限于檢測(cè)單元。參見ISO15548-2。8.7覆蓋長(zhǎng)度B1試塊：參考缺陷為圓周凹槽重復(fù)7.5中描述的測(cè)量。在得到的曲線上，在-6dB處標(biāo)記兩個(gè)端點(diǎn)。兩點(diǎn)之間的距離即探頭的覆蓋長(zhǎng)度。8.8軸向響應(yīng)均勻性參考缺陷：面積小于檢測(cè)單元覆蓋面積的1/10的通孔壁（參考試塊有待定義）。結(jié)果在參考試塊上定義一個(gè)角度原點(diǎn)。在參考試塊的整個(gè)長(zhǎng)度上移動(dòng)探頭，報(bào)告最大信號(hào)幅值Smax。以與陣元間距相關(guān)的一個(gè)角度a（例如1/5間距）旋轉(zhuǎn)參考試塊（或探頭）。重復(fù)掃查以覆蓋360。角（檢查確保檢查區(qū)域重疊）。繪制Smax(a