無損檢測儀器 渦流檢測設(shè)備 陣列探頭性能和檢驗 征求意見稿

1GB/TXXXXX—XXXX無損檢測儀器渦流檢測設(shè)備陣列探頭性能和檢驗本文件規(guī)定了渦流陣列探頭及其連接元器件的功能特性，并提供了測量和驗證方法。對這些特性的評估使得渦流陣列探頭可以明確描述且具有可比性。必要時，本文件給出特性接受標準的建議。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。ISO12718無損檢測渦流檢測術(shù)語（Non-destructivetesting—Eddycurrenttesting—Vocabulary）注：GB/T12604.6-2021無損檢測渦流檢測術(shù)語（ISO15548-1無損檢測渦流檢測設(shè)備第1部分：儀器特性和驗證（Non-destructivetesting—Equipmentforeddycurrentexamination—Part1:Instrumentcharacteristicsandverification）注：GB/T14480.1-2015無損檢測儀器渦流檢測設(shè)備第1部分：儀器性能和驗證（ISO15548-1:2008，IDT）ISO15548-2:2013無損檢測渦流檢測設(shè)備第2部分：探頭特性和驗證（Non-destructivetesting—Equipmentforeddycurrentexamination—Part2:Probecharacteristicsandverification）注：GB/T14480.2-2015無損檢測儀器渦流檢測設(shè)備第2部分：探頭性能和驗證（ISO15548-2:2008，IDT）3術(shù)語和定義ISO12718界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1陣元element具有基本功能（激勵或接收）的單物理元件（如線圈，巨磁電阻或霍爾元件）。3.2檢測單元pattern同時工作的陣元組成的單個物理和電子排列。3.3時序sequencing檢測單元的激活順序。2GB/TXXXXX—XXXX3.4閾值threshold應用文件中規(guī)定的可接受的最低靈敏度值。4探頭及連接元器件的特性4.1一般特征4.1.1應用選擇探頭及其連接元器件以滿足應用要求。探頭及其連接元器件的設(shè)計受到使用儀器的影響。4.1.2探頭類型探頭的描述為：——待檢材料類型，如：鐵磁材料，高導電率或低導電率的非鐵磁材料；——檢測區(qū)域的幾何形狀；——是否貼合檢測面；——類型，如同軸探頭，表面探頭；——接收元件類型；——激勵或接收陣元數(shù)量；——陣元的形狀和組裝及陣元間距；——檢驗的目的，如檢測不連續(xù)，分選，測量厚度等；——特定特征，如聚焦、屏蔽等?！罁?jù)檢測單元、時序和儀器軟件，同一陣列探頭可能既可進行激勵或接收也可進行絕對式或差動式測量。4.1.3連接元器件包括：——有源器件，例如多路復用器（內(nèi)置或外部）、放大器；——電纜和/或延長線；——連接器；——滑環(huán)；——旋轉(zhuǎn)頭；——偏振器。4.1.4物理特性應規(guī)定下列事項：——外形尺寸和形狀；——重量；——機械安裝信息；——型號和序列號；——探頭外殼材料；3GB/TXXXXX—XXXX——覆面材料成分和厚度；——磁芯或屏蔽罩的存在及其用途；——連接元器件的類型（見4.1.3）；——至少一個位置標記（電中心，見8.5）。4.1.5安全探頭及其連接元器件應符合有關(guān)電氣危險、表面溫度或爆炸的適用安全法規(guī)。正常使用探頭不應造成危險。4.1.6環(huán)境條件應規(guī)定正常使用、儲存和運輸探頭及其連接元器件的溫度和濕度。探頭及其連接元器件所允許的干擾噪聲和電磁輻射的影響應符合電磁兼容規(guī)定。探頭制造所使用的材料應不易被污染。4.2電氣特性連接到規(guī)定長度和類型電纜的探頭的電氣特性如下：——推薦的安全運行的激勵電壓范圍；——推薦的激勵頻率范圍。延長電纜的電氣特性是：——單位長度的電阻和容抗。4.3功能特性針對具體系統(tǒng)規(guī)定陣列探頭的功能特性。探頭功能特性的測量需要使用參考試塊。參考試塊使用的材料根據(jù)具體應用確定。探頭的功能特性如下：——角度敏感性；——對簡單的不連續(xù)或變化（孔、槽、沉積物等）的響應；——檢測單元覆蓋范圍的長度和寬度；——檢測單元的覆蓋面積；——獲得恒定響應的最小不連續(xù)尺寸；——穿透特性；——幾何效應；——串擾；——失效陣元數(shù)量。不能單獨使用這些特性來確定具體應用和具體測試系統(tǒng)中的探頭性能（如分辨率，最大不可檢測的不連續(xù)等）。必要時，應根據(jù)應用要求在接有連接元器件的探頭上測量功能特性。5驗證5.1驗證級別可能需要兩個級別的驗證：4GB/TXXXXX—XXXXa)基礎(chǔ)驗證：給出檢測性能。b)高級驗證：給出特征性能，包括：——在需要對測量進行機械化（探頭運動）時，對運動系統(tǒng)進行驗證；——數(shù)字化和掃描速度：每毫米測量點數(shù)量。本文件不考慮制造商和客戶對工藝過程的確認。5.2待驗證特性表1列出了需要驗證的特性。表1陣列探頭特性特性基礎(chǔ)級驗證高級驗證外尺寸IM探頭的適形性IM覆蓋面積IM陣元數(shù)量IM排列MM激勵頻率MM陣元屬性II陣元尺寸II陣元間距II組裝II外部或內(nèi)置多路復用器II提供電纜的長度和類型III：制造商測量或設(shè)計數(shù)據(jù)，記錄于技術(shù)規(guī)格書。M：制造商和/或用戶測量。制造商應說明探頭所適用的不連續(xù)的類型和方向。當用戶需要更多陣元信息時（例如仿真時），可在特定協(xié)議中列出這些信息。6陣列探頭電特性和功能特性測量6.1電特性6.1.1總則在應用中，電特性本身并不能定義探頭特性。以下給出的測量方法和測量儀器僅供參考，可以使用其他等效的方法和儀器。當使用模型測量特性時，應清楚說明這一點。6.1.2測量條件陣列探頭（表面探頭和同軸探頭）在大多數(shù)情況下只適用于某一具體應用。它們與電纜一起交付，電纜的設(shè)計取決于陣元的數(shù)量，并且電纜不能在測量時移除。電纜的特性通常是專有信息。制造商提供電纜，其長度在諧振和衰減方面與客戶所描述的探頭的未來使用兼容。5GB/TXXXXX—XXXX以下測量方法僅適用于由線圈組成的陣元。若接收陣元不是線圈，應規(guī)定具體測量。在沒有使用檢測系統(tǒng)的連接元器件的情況下，在連接電纜一端的探頭連接器上進行測量。探頭置于空氣中，遠離任何導電或磁性材料。只有在探頭中的電子元件（如放大器、多路復用器等）不工作的情況下，才有可能進行這些測量。在探頭連接器處對探頭的每個陣元進行測量，測量某個陣元時其他陣元保持開路。當探頭設(shè)計用于特定條件（如溫度或壓力）時，應在應用文件中規(guī)定所需的額外測量。6.1.3線圈陣元阻抗如不受內(nèi)置放大器的影響，所有線圈陣元的阻抗應使用阻抗計或阻抗分析儀進行測量。測量得到的阻抗可以用等效電路（電阻、電感和電容）的數(shù)值表示，也可以用頻率曲線表示（波德圖或奈奎斯特圖6.1.4檢測單元的阻抗該測量通常是制造商的責任，不由用戶進行，因為一旦探頭組裝完成就不能進行該測量?！杩鼓Ｊ綔y量中心頻率的復阻抗——收發(fā)分離模式在激勵陣元輸入端輸入一個中心頻率的電壓，測量輸出端電壓。對每一檢測單元都進行重復測量。驗證結(jié)果的一致性。如果有明顯的偏差（大于5%），應進行充分修正。6.1.5通道分配——時序通道分配的驗證是必不可少的。以下操作步驟供參考。使用中心頻率進行測量。對與掃查方向成一定角度的缺陷進行C掃查成像：對于表面探頭，使用A1試塊，試塊有一個45。的槽；對于同軸探頭，使用B2試塊，管壁上有一個螺旋缺陷。應根據(jù)掃描步長和檢測單元尺寸選擇角度。驗證通道分配和在這些通道上獲得的信號的一致性。在配置復雜的情況下，驗證步驟由制造商決定。本測量不考慮使用電子掃描的靜態(tài)探頭的情況，對于這種情況，應當逐案制定驗證步驟。6.1.6串擾陣列探頭總是存在串擾。通過多路復用非鄰近陣元來減小串擾。串擾的可接受水平在很大程度上取決于應用；因此，本文件不規(guī)定串擾可接受水平。6.2功能特性6.2.1總則本文件描述常用探頭類型。為特殊（不常見）應用設(shè)計的探頭應遵循本文件方法依據(jù)應用文件進行描述。本文件描述的特性可以提供有關(guān)此類探頭的有用信息。定義兩類探頭的功能特性：表面探頭和同軸探頭。6.2.2測量條件6GB/TXXXXX—XXXX6.2.2.1總則可以使用符合ISO15548-1標準的適用于陣列式探頭的多通道渦流儀，但必須滿足測量精度要求。也可以使用足夠的儀器設(shè)備，包括電壓/電流發(fā)生器、同步檢測放大器以及電壓表、示波器或數(shù)字轉(zhuǎn)換器。如果探頭沒有連接電纜，則應記錄用于測量的電纜的特性。在制造商規(guī)定的頻率范圍內(nèi)測量探頭特性，并使用包含已知特征（如槽和孔）的參考試塊。參考試塊所使用材料的冶金性能和表面處理應符合應用文件規(guī)定。其幾何形狀應符合下列章節(jié)的要求。必要時，鐵磁性材料試塊可在使用前退磁。參考試塊可以用任何其他裝置替代，應證明替代裝置在所測量特性上的等效性。在探頭影響區(qū)域內(nèi)，任何擾動電磁場或鐵磁性材料的存在都會影響探頭的功能特性。在進行以下測量時應注意避免這些影響。應記錄每個特性的測量條件，例如激勵頻率和電壓/電流以及參考試塊詳細信息等。測量信號幅值，需要時也測量信號相位。6.2.2.2信號幅值測量a)絕對信號b)差分信號7GB/TXXXXX—XXXXa)絕對測量信號幅值是將平衡點連接到與相對于平衡點的最大新華偏移對應的點構(gòu)成的矢量的長度，除非應用文件另有規(guī)定，見圖1a。b)差動測量信號幅值是連接兩個信號極值點（如峰峰值）的線的長度，除非應用文件另有規(guī)定，見圖1b。c)其他測量方法應當在應用文件中載明。6.2.2.3信號相位角測量相位角是基準線與代表6.2.2.2中確定的信號幅值的線之間的夾角。應規(guī)定測量相位角的基準線。測量的范圍和極性應與ISO15548-2:2013第6.2.2.3條款一致。7表面陣列探頭除非另有規(guī)定，測量應在應用文件規(guī)定的恒定陣元間隙下進行。如果有幾種不同類型的檢測單元（阻抗模式，收發(fā)分離模式），應對每一種檢測單元進行測量。7.1參考試塊應優(yōu)化設(shè)計，避免邊緣效應。對于每個參考試塊，其長度和寬度應不小于探頭長度和寬度加上探頭規(guī)格給出的探頭作用區(qū)域長度的至少兩倍。當不知道該特征時，應以掃查平面內(nèi)探頭的最大作用范圍來代替。在測量了7.5中描述的覆蓋區(qū)域長度后，可以進行驗證。參考試塊的厚度應至少是探頭規(guī)格中的最低頻率下的標準穿透深度的三倍。用于制造試塊的材料應是堅實均勻的，其物理屬性（電導率和磁導率）應接近應用中的材料物理屬每個試塊應有一張接收單，包括尺寸測量結(jié)果：粗糙度、側(cè)面平行度和參考缺陷的計量。參考試塊A1試塊中心有一個槽（見圖2）。其最低要求：——該槽應長于根據(jù)7.7中描述的方法確定的“獲得恒定探頭響應的最小槽長”；——該槽應比根據(jù)7.10中描述的方法確定的“獲得恒定探頭響應的表面開口槽的最小深度”更深?！蹖拺趹梦募幸?guī)定。此外，參考試塊具有如下特征：——一種凹槽，其寬度大于探頭的工作部分，填充有非導電材料，用于進行相位歸一化（模擬提離效應）——或，一個或多個絕緣墊片。參考試塊A2（見圖2）包括以下內(nèi)容：——單孔，其直徑應小于探頭陣元間距；——雙孔，各孔直徑與單孔直徑相同；兩個孔之間的距離應根據(jù)探頭陣元尺寸、檢測單元尺寸和應用進行優(yōu)化。8GB/TXXXXX—XXXX圖2表面探頭的參考試塊7.2探頭運動實驗驗證已表明，陣列探頭的測量在很大程度上依賴于掃查條件。掃查應可準確復現(xiàn)。對于以下所有測量，確保探頭與參考試塊表面接觸的壓力和探頭的方向必須嚴格復現(xiàn)。7.3參考信號——歸一化參考試塊：使用A1試塊進行測量。平衡將探頭置于槽與鄰近的試塊邊緣之間，在試塊上平衡探頭。確認在該位置附近沿槽的方向和邊緣的方向移動探頭時，信號沒有發(fā)生明顯的變化。掃描和槽應適應檢測單元。探頭運動探頭通過槽的中心上方進行線性掃查，探頭的首選方向垂直于槽（見圖3）。對于該測量，探頭首選方向應由制造商規(guī)定。調(diào)整掃查方式使之與檢測單元類型（發(fā)射和接收是否分離，絕對測量中發(fā)射和接收結(jié)合）相適應。如果探頭明確設(shè)計用于掃查不與探頭運動相垂直（如平行）的槽，則應在應用文件中給出替代測量步驟。設(shè)置1)儀器的設(shè)置應使槽的信號的幅值在不飽和的前提下達到最大。背景噪聲（靜態(tài)測量）的幅值應比3.4所定義的靈敏度閾值對應的信號幅值小6dB。在隨后的所有測量中，如果沒有任何飽和信號，應進行檢查。2)進行歸一化，以使所有通道得到的參考槽的信號具有相同的幅值和相位，該幅值應在儀器動態(tài)范圍的25%與80%之間。在所有測量中都應保持此設(shè)置。結(jié)果參考信號Sref是掃查過程中所有通道的最大信號。例如，掃查填充槽（或絕緣覆蓋物）時獲得的信號的相位可以作為后續(xù)測量的相位原點。在接下來的章節(jié)中，所有的結(jié)果都是相對于Sref而言的。9GB/TXXXXX—XXXX圖3探頭運動獲得參考信號7.4邊緣效應（金屬板、圓盤等幾何形狀情況下可測量）參考試塊：使用A1試塊進行測量。探頭運動兩個垂直方向。將探頭置于槽與鄰近的試塊邊緣之間，從前述平衡位置沿掃查線移動到參考試塊最近的邊緣：1)沿其首選方向（垂直于槽方向）；2)垂直于其首選方向。結(jié)果1)垂直掃查：邊緣效應用從最接近測量所關(guān)注的試塊邊緣的探頭工作部分端部到試塊邊緣的距離表征，此時S滿足S/ef=A例如S的絕對值-ef）/ef=0.5（A是應用文件中規(guī)定的數(shù)值）2)平行掃查：考慮發(fā)射陣元的相對位置。邊緣效應在一個方向上比在相反方向上更強。S/ef=A（A是應用文件中規(guī)定的數(shù)值。）7.5對槽的響應參考試塊：使用A1試塊進行測量。探頭運動a)無方向性探頭使陣列長度方向垂直或平行于槽掃查試塊（見圖4，掃查A或T）。b)方向性探頭使探頭優(yōu)先方向垂直于槽掃查試塊（見圖4，掃查T）。GB/TXXXXX—XXXX說明：1渦流陣列探頭2掃查A3掃查T4參考槽注：探頭上的箭頭表示探頭優(yōu)先方向。圖4測量探頭對槽響應的探頭運動結(jié)果取整個掃查信號的最大值Smax/Sref。對于每條掃查路徑，繪制出比Smax/Sref小6dB的信號對應的點，以得到探頭對槽的響應圖。掃查路徑應通過對第一個記錄點（例如左下）的槽和探頭位置標記的表示與映射相關(guān)?？梢允褂酶嗟牡戎稻€或任何等效描述（三維響應圖、彩色圖等）來更完整地描述結(jié)果。7.6對孔的響應參考試塊：使用A2試塊進行測量。探頭運動僅使用一個檢測單元從單孔的一側(cè)到另一側(cè)依次進行掃查。掃查路徑間隔應該等于檢測單元間距的結(jié)果每次掃查，記錄最大信號幅值，并繪制相應的曲線（鐘形）。已知檢測單元間距，即可推斷出結(jié)果，并測量兩個相鄰檢測單元間的幅值衰減。7.7覆蓋長度覆蓋長度由7.5獲得的探頭對槽的響應確定，在掃查方向上取包絡線的最大寬度（見圖5）即得到覆蓋長度。如果有幾種不同的檢測單元模式（阻抗模式、收發(fā)分離模式），應在各種模式下進行測量。GB/TXXXXX—XXXX說明：圖5確定覆蓋長度（Lcov）的例子7.8檢測單元之間靈敏度的變化測量目的該測量能夠評估從一個檢測單元到另一個檢測單元的靈敏度一致性。測量應由制造商進行，結(jié)果應提供給用戶。應始終按照7.3的規(guī)定對信號進行歸一化。參考試塊：使用A1試塊進行測量。探頭運動：對參考試塊表面進行線性掃查，探頭中心經(jīng)過槽的中心的上方。結(jié)果：在阻抗平面上，觀察每個通道上獲得的信號。a)剛性探頭——信號相位角的變化不應超過±3。?！盘柗档淖兓粦^±10%。b)適形探頭——信號相位角的變化不應超過±3。。——信號幅值的變化不應超過±10%。若信號重復性不能得到保證，信號相位角的變化會受到影響?？紤]下述情況：——信號相位角的變化不應超過±5。，當變化超過上述數(shù)值時，探頭不符合本文件。7.9恒定探頭響應的最小槽長該驗證僅限于檢測單元。參見ISO15548-2。7.10提離效應參考試塊：使用A1試塊進行測量。探頭運動探頭位于試塊平衡區(qū)域上方，并按規(guī)定步距垂直試塊表面移動。當探頭與參考試塊接觸（即z=0）時對探頭進行平衡。可使用不導電墊片或適當?shù)目商峁┛蓽y量的機械提升的裝置（探頭夾裝干掃描設(shè)備）獲得提離。結(jié)果按規(guī)定步距改變z，繪制S(z)/Sref曲線。GB/TXXXXX—XXXX提離效應用S(z)與z的關(guān)系曲線表征。7.11探頭間隙對縫隙響應的影響參考試塊：使用A1試塊進行測量。探頭運動通過槽的中心上方進行線性掃查，探頭相對于槽的方向取決于檢測單元（橫向或縱向）產(chǎn)生的通道類型。陣元間隙從0至一個代表影響區(qū)域邊緣的值變化，該值在應用文件中指定。對于每個陣元間隙，在試塊平衡區(qū)域上進行探頭平衡。結(jié)果對于每個陣元間隙z，重復7.4中描述的測量。陣元間隙對缺陷信號的影響通過繪制Smax(z)/Sref與z的關(guān)系曲線來表征。7.12近表面槽的有效探測深度該驗證僅限于檢測單元。參見ISO15548-2。7.13分辨率根據(jù)定義，分辨率探頭能夠區(qū)分兩個不同缺陷信號的最小缺陷距離。這一功能特性取決于探頭為何種應用而設(shè)計。參考試塊：使用A2試塊進行測量。建議進行兩項測量。1)第一項測量可以得到分辨率的近似值：——探頭相對于孔的方向影響檢測單元(縱向或橫向)產(chǎn)生的信號，對于該測量，只有縱向掃查是必要的；——使用一個檢測單元掃查參考缺陷；——繪制響應曲線；——將閾值設(shè)置為信號最大值的-6dB，測量信號寬度；——測得的寬度是檢測單元分辨率的保守估計（見附錄A）；2)第二項測量是對整個陣列分辨率的驗證：——沿縱向掃查孔2和3（陣列平行于孔）；——與附錄A（仿真3）中的曲線相似的響應曲線能夠驗證探頭分辨率最多與檢測單元相同。7.14缺陷陣元或檢測單元制造商：不允許有缺陷陣元或檢測單元用戶：應在應用文件中說明接受標準。8同軸式陣列探頭8.1一般條件除非另有說明，否則：——該測量適用于具有圓柱形狀和圓形截面的內(nèi)通式或外穿式同軸探頭，應在應用文件中規(guī)定的恒定陣元間隙下進行測量；GB/TXXXXX—XXXX——考慮信號的幅值和相位。對于非圓形截面同軸探頭，在應用文件中逐項審查。8.2參考試塊參考試塊（B1至B3,C1至C3）用一般術(shù)語描述。參考試塊包括管和棒?！埽ò簦┑拈L度L應大于制造商定義的探頭邊緣效應尺寸的4倍。當不知道該特征時，用探頭在掃查方向上的作用范圍代替?！斯げ贿B續(xù)之間的距離應至少是探頭作用范圍的3倍?！鼙诤穸龋ɑ虬舨闹睆剑┰趹梦募幸?guī)定。管壁厚度（或直徑）在管材（或棒材）的整個長度上保持不變。就管材而言，如果參考試塊的厚度至少是探頭規(guī)格中規(guī)定的最低頻率對應的標準穿透深度的3倍，則壁厚變化的影響可以忽略。操作規(guī)程應規(guī)定對每個試塊的詳細要求。測量中唯一要考慮的探頭運動是平行于參考試塊軸的平移。管材試塊B1（棒材試塊C1）。試塊上有3個軸向槽和3個橫向槽，均為電火花加工。槽的長度至少是檢測單元長度的3倍。槽的深度分別為20%、40%和60%壁厚。外徑環(huán)形槽，30%深，5毫米寬（見圖6）。圖6參考試塊B1試塊B2（或試塊C2）試塊為具有一個30%深度超過400。螺旋槽的管（或棒），寬度不是很重要（0.5mm至1mm寬），見螺旋螺距：空間采樣所需周期的兩倍乘以陣元數(shù)量（例如：采樣頻率為每毫米兩點，周期為0.5；GB/TXXXXX—XXXX圖7參考試塊B2試塊B3（或試塊C3）：試塊為含有4個寬0.2mm的圓周凹槽的管（或棒），槽深分別為10%、30%、50%和70%壁厚，見圖8。圖8參考試塊B38.3參考信號參考試塊：使用B1（或C1）試塊進行測量。測量確保探頭居中。結(jié)果在管（或棒）的無不連續(xù)部分進行探頭平衡。將探頭移動到圓周凹槽上。調(diào)整儀器，使最大信號與儀器動態(tài)范圍的給定值（如25%）相對應。需要驗證在后續(xù)的測量中沒有出現(xiàn)信號飽和。參考信號Sref是掃查過程中信號的最大值。參考信號的相位作為后續(xù)測量的相位原點。如果方便的話，可以選擇其他參考，報告即可。在接下來的章節(jié)中，所有的結(jié)果都應使用Sref表示。8.4無缺陷陣元GB/TXXXXX—XXXX參考試塊：使用B2（或C2）試塊進行測量。測量在管（或棒）的無缺陷部分進行探頭平衡。在管（或棒）外拖動探頭掃查螺旋槽。在結(jié)果顯示中觀察有無缺陷陣元。接受標準制造商：不允許有缺陷陣元。用戶：接受標準在應用文件中規(guī)定。8.5探頭位置標記（主要用于定位）根據(jù)下面給出的測量方法，探頭上的位置標記明確地定義了探頭的電中心。在探頭大小和形狀或者探頭響應允許的地方可以標記探頭位置標記。如果無法在探頭上標記探頭位置標記，可通過草圖描述位置標記，或者記錄探頭上的固定點至位置標記的距離。參考試塊：使用B1（或C1）試塊進行測量。測量方法和結(jié)果——將探頭安裝在合適的夾具上，移動參考試塊B1（或C1）以掃查外壁周向凹槽。找到并保持最大信號對應的試塊位置。在探頭電纜上（或在測試臺上）做一個標記，然后記錄從凹槽到開始掃查的試塊端部距離對應的長度?！谔筋^上刻下記號。8.6端部效應該驗證僅限于檢測單元。參見ISO15548-2。8.7覆蓋長度B1試塊：參考缺陷為圓周凹槽重復7.5中描述的測量。在得到的曲線上，在-6dB處標記兩個端點。兩點之間的距離即探頭的覆蓋長度。8.8軸向響應均勻性參考缺陷：面積小于檢測單元覆蓋面積的1/10的通孔壁（參考試塊有待定義）。結(jié)果在參考試塊上定義一個角度原點。在參考試塊的整個長度上移動探頭，報告最大信號幅值Smax。以與陣元間距相關(guān)的一個角度a（例如1/5間距）旋轉(zhuǎn)參考試塊（或探頭）。重復掃查以覆蓋360。角（檢查確保檢查區(qū)域重疊）。繪制Smax(a