JBT 8232-2024《自準(zhǔn)直儀》規(guī)范

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T8232-1999IJB/T8232—XXXX前言 V 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語(yǔ)和定義 4類型 5基本參數(shù) 6技術(shù)要求 26.2尋像器的尋像性能 36.3電氣安全性能 36.4儀器外觀及各部分相互作用 36.5運(yùn)輸貯存基本環(huán)境試驗(yàn) 47試驗(yàn)方法 錯(cuò)誤！未定義書(shū)簽。7.1試驗(yàn)條件 47.21級(jí)數(shù)字式自準(zhǔn)直儀的示值最大誤差 47.32級(jí)數(shù)字式自準(zhǔn)直儀和光電自準(zhǔn)直儀的示值最大誤差 67.4光學(xué)自準(zhǔn)直儀測(cè)微鼓輪一周內(nèi)的示值最大誤差 87.5光學(xué)自準(zhǔn)直儀全部測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤差 7.6含有回程誤差的測(cè)微鼓輪示值重復(fù)性 7.7數(shù)字式自準(zhǔn)直儀示值重復(fù)性 7.8數(shù)字式和光電自準(zhǔn)直儀工作2h內(nèi)的示值漂移 7.9光電自準(zhǔn)直儀瞄準(zhǔn)時(shí)由于調(diào)節(jié)靈敏度所引起的電表指零變化 7.10在最大工作距離測(cè)量條件下的測(cè)量范圍 7.11自準(zhǔn)直光束的平行性對(duì)示值的影響 7.12基座圓形水準(zhǔn)器的正確性 7.13讀數(shù)系統(tǒng)測(cè)量方向的偏差 7.14視軸對(duì)儀器底面的平行度 7.15帶座反射鏡反射面的面形偏差 7.16帶座反射鏡反射面與鏡座的垂直度 7.17五棱鏡光軸偏轉(zhuǎn)角90°的偏差 167.18尋像器的尋像性能 7.19電氣安全性能試驗(yàn) 7.20儀器外觀及各部分相互作用 7.21運(yùn)輸環(huán)境試驗(yàn) 8檢驗(yàn)規(guī)則 8.1檢驗(yàn)分類 8.2出廠檢驗(yàn)（即交貨檢驗(yàn)） JB/T8232—XXXX8.3型式檢驗(yàn) 9標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存 9.1標(biāo)志 9.2包裝 9.3運(yùn)輸 9.4貯存 附錄A（資料性）專用光欄板 20JB/T8232—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替JB/T8232-1999《自準(zhǔn)直儀》。本文件與JB/T8232-1999相比，除編輯性修改外主要技術(shù)差異如下：——更改了標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍（見(jiàn)第1章）；——增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章（見(jiàn)第3章）；——增加了“類型”一章。其中增加了“數(shù)字式自準(zhǔn)直儀”、“雙軸自準(zhǔn)直儀”和“以mm/m為示值單位的自準(zhǔn)直儀”等類型，并將自準(zhǔn)直儀劃分為1、2、3級(jí)（見(jiàn)第4章）；并在以后各章中，增加了新增類型儀器的基本參數(shù)、技術(shù)要求和試驗(yàn)方法（見(jiàn)第4、5、6章）；——?jiǎng)h除了基本參數(shù)中的“平面反射鏡反射面的有效孔徑”（見(jiàn)1999年版的表1序4——將“分格值”更改為“分度值”（見(jiàn)表1序1，1999年版的表1序1）；——?jiǎng)h除了“儀器目鏡的視度調(diào)節(jié)范圍”要求（見(jiàn)1999年版的表2序4）；——?jiǎng)h除了“視軸對(duì)儀器基座底平面的平行度”要求（見(jiàn)1999年版的表2序9——?jiǎng)h除了“光電瞄準(zhǔn)和目視瞄準(zhǔn)的符合性”要求（見(jiàn)1999年版的表2序12）；——?jiǎng)h除了“光電瞄準(zhǔn)時(shí)，指示表指針偏轉(zhuǎn)的對(duì)稱度”要求（見(jiàn)1999年版的表2序13——?jiǎng)h除了“光電瞄準(zhǔn)的靈敏度”要求（見(jiàn)1999年版的表2序15）；——?jiǎng)h除了直角鐵和正方鐵形狀誤差的要求（見(jiàn)1999年版的表2序21）；——將“儀器的準(zhǔn)確度”（見(jiàn)1999年版的表2序1更改為“示值最大允許誤差”（見(jiàn)表2序1其技術(shù)指標(biāo)也做了相應(yīng)更改；——將“平面反射鏡放在儀器最大工作距離時(shí)，儀器的工作范圍”（見(jiàn)1999年版的表2序2更改為“在最大工作距離測(cè)量條件下的測(cè)量范圍”（見(jiàn)表2序7）；——將“目視瞄準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差”要求（見(jiàn)1999年版的表2序3），更改為“含有回程誤差的測(cè)微鼓輪示值重復(fù)性”（見(jiàn)表2序3），其技術(shù)指標(biāo)也做了相應(yīng)更改；——將“瞄準(zhǔn)單刻線（或雙刻線）對(duì)儀器底座底平面（或水平面）的平行度”要求（見(jiàn)1999年版的表2序7），更改為“讀數(shù)系統(tǒng)測(cè)量方向的允許偏差”（見(jiàn)表2序10），其技術(shù)指標(biāo)也做了相應(yīng)更改；——將“測(cè)微裝置的空回誤差”要求（見(jiàn)1999年版的表2序10），合并到“含有回程誤差的測(cè)微鼓輪示值重復(fù)性”之中（見(jiàn)表2序3）；——將“當(dāng)用專用光欄檢驗(yàn)時(shí)，自準(zhǔn)直光束的平行性”要求（見(jiàn)1999年版的表2序11），更改為“自準(zhǔn)直光束的平行性對(duì)示值的影響”（見(jiàn)表2序8）；——將“五棱鏡折轉(zhuǎn)角90o的正確性”要求（見(jiàn)1999年版的表2序20），更改為“五棱鏡光軸偏轉(zhuǎn)角90o的公差”（見(jiàn)表2序14），其技術(shù)指標(biāo)也做了相應(yīng)更改；——更改了附件的名稱和配置（見(jiàn)5.2，1999年版的表3）；——增加了電氣安全性能的技術(shù)要求和試驗(yàn)方法（見(jiàn)6.3和7.19）；——更新了全部技術(shù)要求項(xiàng)目的試驗(yàn)方法（見(jiàn)第7章，1999年版的第5章——將圖1（1999年版）所示的專用光欄移到附錄A。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC103）歸口。本文件起草單位：貴陽(yáng)新天光電科技有限公司、上海理工大學(xué)、貴州省光學(xué)測(cè)量工程技術(shù)研究中心、河南省計(jì)量科學(xué)研究院、蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司、南京東利來(lái)光電實(shí)業(yè)有限責(zé)任公司、寧波永新光學(xué)股份有限公司、寧波湛京光學(xué)儀器有限公司、廣州粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司、南京江南永新光學(xué)有限公司、寧波舜宇儀器有限公司、寧波市教學(xué)儀器有限公司、梧州奧卡光學(xué)儀器有限公司、麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)公司、寧波華光精密儀器有限公司、重慶奧特光學(xué)儀器有限責(zé)任公司。本文件主要起草人：胡清、馮瓊輝、劉煒進(jìn)、張衛(wèi)東、韓森、洪宜萍、毛磊、鮑金權(quán)、徐濤、李晞、JB/T8232—XXXX胡森虎、張琪、張景華、章光偉、徐利明、吳國(guó)民。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1985年首次發(fā)布為JB/T8232—1985；——1995年第一次修訂，發(fā)布為JB/T8232—1999；——本次為第二次修訂。VJB/T8232—XXXX自準(zhǔn)直儀用于測(cè)量光學(xué)和機(jī)械零部件的角度、直線度和平面度，是機(jī)械制造行業(yè)以及其他裝備制造行業(yè)精密檢測(cè)，計(jì)量檢定，保證產(chǎn)品質(zhì)量不可缺少的測(cè)量?jī)x器。本文件規(guī)定了自準(zhǔn)直儀的類型、基本參數(shù)和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗(yàn)方法，規(guī)定了檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存，為自準(zhǔn)直儀的設(shè)計(jì)、制造、檢驗(yàn)提供了依據(jù)，其目的是促使自準(zhǔn)直儀產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化，同時(shí)為自準(zhǔn)直儀量值準(zhǔn)確和產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保證。JB/T8232-1999《自準(zhǔn)直儀》發(fā)布實(shí)施已二十余年，由于技術(shù)的發(fā)展、產(chǎn)品市場(chǎng)的變化和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的更新，已不能適應(yīng)產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，有必要修訂完善，以不斷適應(yīng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展新需求。本次對(duì)JB/T8232的修訂，增加了產(chǎn)品新類型，并重新理順了產(chǎn)品分類、分級(jí)、基本參數(shù)和要求，并補(bǔ)充和完善試驗(yàn)方法。修訂后，對(duì)滿足市場(chǎng)需求、指導(dǎo)產(chǎn)品生產(chǎn)、提高產(chǎn)品技術(shù)性能和質(zhì)量水平，促進(jìn)行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展提供可靠的技術(shù)支撐。1JB/T8232—XXXX本文件規(guī)定了自準(zhǔn)直儀的類型、基本參數(shù)和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗(yàn)方法，規(guī)定了檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存。本文件適用于測(cè)量小角度的自準(zhǔn)直儀的制造。本文件不適用于激光自準(zhǔn)直儀。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB/T2828.1計(jì)數(shù)抽樣試驗(yàn)程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T2831-2009光學(xué)零件的面形偏差GB/T6388運(yùn)輸包裝收發(fā)標(biāo)志GB/T9969工業(yè)產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)總則GB/T11162光學(xué)分劃零件通用技術(shù)條件GB/T14436工業(yè)產(chǎn)品保證文件總則GB/T15464儀器儀表包裝通用技術(shù)條件GB/T25480-2010儀器儀表運(yùn)輸、貯存基本環(huán)境條件及試驗(yàn)方法3術(shù)語(yǔ)和定義本文件沒(méi)有需要界定的術(shù)語(yǔ)和定義。4類型4.1依據(jù)瞄準(zhǔn)和讀取示值（以下簡(jiǎn)稱讀數(shù)）的不同方式，自準(zhǔn)直儀具有下列類型：a)鼓輪讀數(shù)式自準(zhǔn)直儀。該類型又分為兩種型式，其中，人眼通過(guò)目鏡瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，在測(cè)微鼓輪上讀數(shù)的，被稱為光學(xué)自準(zhǔn)直儀；采用光電器件，借助電表指零瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，在測(cè)微鼓輪上讀數(shù)的，被稱為光電自準(zhǔn)直儀；b)數(shù)字式自準(zhǔn)直儀。其特征是：采用CCD或其它光電器件探測(cè)自準(zhǔn)像位置，無(wú)需進(jìn)行瞄準(zhǔn)，直接在數(shù)顯表或顯示屏上讀數(shù)。4.2依據(jù)讀數(shù)系統(tǒng)的維數(shù)，自準(zhǔn)直儀具有下列兩種類型；a)單軸自準(zhǔn)直儀。其特征是：具有單一坐標(biāo)讀數(shù)系統(tǒng)；b)雙軸自準(zhǔn)直儀。其特征是：具有方向相互垂直的兩個(gè)坐標(biāo)讀數(shù)系統(tǒng)。4.3依據(jù)示值的單位，光學(xué)自準(zhǔn)直儀可分為以（"）為單位和以mm/m為單位兩種類型；后者也被稱為平直度檢查儀。光電自準(zhǔn)直儀以（"）為示值單位；數(shù)字式自準(zhǔn)直儀的示值以（"）單位，并具有切換成以mm/m為單位的功能。4.4依據(jù)技術(shù)指標(biāo)的高低，自準(zhǔn)直儀（以下簡(jiǎn)稱：儀器）可分為1、2、3級(jí)。5基本參數(shù)5.1儀器的基本參數(shù)如表1所示。2JB/T8232—XXXX1—12——3—45以mm/m為示值單位的自準(zhǔn)直儀的測(cè)量范圍 或6m以上測(cè)量范圍條件下,允許的最大工作距離，由5.2下列儀器附件，可由制造商部分或全部提供。帶座反射鏡、五棱鏡、尋像器等。6技術(shù)要求6.1主要技術(shù)指標(biāo)儀器的主要技術(shù)指標(biāo)應(yīng)符合表2的規(guī)定。1數(shù)字式自準(zhǔn)直儀和光電自準(zhǔn) 2 2光學(xué)自準(zhǔn)直儀的示值最大允——3 4—5—673JB/T8232—XXXX89 Ne—ΔNf—b6.2尋像器的尋像性能儀器在最大工作距離條件下，調(diào)整儀器或反射鏡時(shí)，對(duì)于合像式尋像器，應(yīng)能方便地使尋像器的雙像重合；對(duì)于激光尋像器，應(yīng)能方便地使尋像器所發(fā)射的激光束，經(jīng)反射回到發(fā)射小孔中。此時(shí)，撤除尋像器，儀器的自準(zhǔn)像應(yīng)位于視場(chǎng)(或顯示屏)中央的2/3范圍內(nèi)。6.3電氣安全性能6.3.1耐壓耐壓試驗(yàn)的試驗(yàn)電壓應(yīng)符合表3的規(guī)定。對(duì)儀器施加電壓，保持5s，應(yīng)無(wú)擊穿和飛弧現(xiàn)象。交流、直流試驗(yàn)方式可任選其一，能通過(guò)二者之一即可。一般情況選擇交流試驗(yàn)；如果為了避免容性電流，可選擇直流試驗(yàn)。VVVV6.3.2泄漏電流受試儀器在常溫常濕條件下的泄漏電流不應(yīng)大于1mA。6.3.3接地電阻帶有電源輸入插座的受試儀器，在插座中的保護(hù)接地點(diǎn)與儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.1Ω。帶有不可拆卸電源線的受試儀器，電源線插頭中的保護(hù)接地腳與儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.2Ω。6.4儀器外觀及各部分相互作用4JB/T8232—XXXX6.4.1儀器外表電鍍表面不應(yīng)有脫皮和斑點(diǎn)存在；表面涂覆層不應(yīng)有磕碰傷和顯著的顏色不均勻；零件表面不應(yīng)有毛刺；外部零件銳邊應(yīng)倒棱；零件接合處應(yīng)齊整。6.4.2裸露金屬面不應(yīng)有銹蝕、碰傷和顯著的劃痕，以及影響測(cè)量的其它缺陷。6.4.3光學(xué)零件的表面不應(yīng)有明顯的擦痕、麻點(diǎn)、水珠、霉點(diǎn)等疵?。还鈱W(xué)零件的膠合面不應(yīng)有氣泡和脫膠現(xiàn)象。6.4.4儀器的光學(xué)系統(tǒng)成像應(yīng)清晰。視場(chǎng)內(nèi)的自準(zhǔn)像相對(duì)于指標(biāo)線不應(yīng)有可覺(jué)察的偏斜和視差。視場(chǎng)內(nèi)不應(yīng)有影響觀察的陰影、亮斑和異物。6.4.5測(cè)微鼓輪的刻度線寬度應(yīng)與指標(biāo)線寬度相等；當(dāng)0刻度與指標(biāo)線對(duì)齊時(shí)，目鏡視場(chǎng)中的讀數(shù)標(biāo)尺應(yīng)與指標(biāo)線對(duì)齊6.4.6光學(xué)分劃元件和測(cè)微鼓輪上的刻度和刻字的技術(shù)要求應(yīng)符合GB/T11162的規(guī)定。6.4.7單軸自準(zhǔn)直儀的鏡筒或測(cè)微目鏡應(yīng)能繞其軸線旋轉(zhuǎn)90°,并能可靠定位；定位后，仍保持視場(chǎng)內(nèi)的自準(zhǔn)像相對(duì)于指標(biāo)線無(wú)可覺(jué)察的偏斜和視差。如果旋轉(zhuǎn)前將自準(zhǔn)像調(diào)整在視場(chǎng)中央，旋轉(zhuǎn)后，自準(zhǔn)像與視場(chǎng)中央的偏離量，應(yīng)不大于視場(chǎng)半徑的1/3。6.4.8帶座反射鏡反射面的口徑應(yīng)大于自準(zhǔn)直儀物鏡的通光孔徑。6.4.9所有緊固零件應(yīng)保證緊固可靠。6.4.10儀器上所有刻度、刻字以及銘牌標(biāo)記應(yīng)清晰、明顯。6.4.11數(shù)字式自準(zhǔn)直儀數(shù)顯面板的功能鍵應(yīng)靈敏、可靠，標(biāo)注符號(hào)或圖文應(yīng)清晰且含義準(zhǔn)確、易懂。6.4.12各活動(dòng)部分的移動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)舒適，不應(yīng)有卡住和急跳現(xiàn)象。6.4.13所有附件裝卸和調(diào)整應(yīng)方便、可靠。6.5運(yùn)輸貯存基本環(huán)境試驗(yàn)儀器在運(yùn)輸包裝條件下的環(huán)境模擬試驗(yàn)應(yīng)按GB/T25480的規(guī)定。其中選用：高溫+55℃,低溫-40℃,交變濕熱試驗(yàn)相對(duì)濕度95%，自由跌落4次，跌落高度按包裝件質(zhì)量選定。7試驗(yàn)方法7.1試驗(yàn)條件7.1.1儀器檢驗(yàn)溫度條件應(yīng)符合表4的規(guī)定。7.1.2檢驗(yàn)時(shí)的供電電源交流電壓應(yīng)滿足（220±22）V。1℃23h7.21級(jí)數(shù)字式自準(zhǔn)直儀的示值最大誤差7.2.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：c)1級(jí)激光小角度測(cè)量?jī)x（以下簡(jiǎn)稱測(cè)量?jī)x）；d)轉(zhuǎn)臺(tái)；e)多齒分度臺(tái)（以下簡(jiǎn)稱齒臺(tái)）；f)帶座反射鏡。7.2.2試驗(yàn)程序±20"示值范圍以內(nèi)，檢測(cè)點(diǎn)的間隔設(shè)置為2.5"；±20"示值范圍以外，檢測(cè)點(diǎn)的間隔設(shè)置為20"。5JB/T8232—XXXXii示值正方向87值負(fù)方向如圖1所示，將齒臺(tái)放在轉(zhuǎn)臺(tái)上，并使其示值為0，再將測(cè)量?jī)x的反射鏡組安裝在轉(zhuǎn)臺(tái)上，校正三者轉(zhuǎn)動(dòng)中心同心，其偏心差應(yīng)不大于5μm。如圖1所示，在轉(zhuǎn)臺(tái)外側(cè)安裝測(cè)量?jī)x的分光鏡組，必須通過(guò)校正，使其兩測(cè)量臂的光程相等，以便確定測(cè)量?jī)x的示值0點(diǎn)。其方法是先將測(cè)量?jī)x示值暫時(shí)清0，用齒臺(tái)產(chǎn)生+5°和-5°的轉(zhuǎn)角，讀取測(cè)量?jī)x的示值，若二示值之差的絕對(duì)值大于0.00002°，則應(yīng)使齒臺(tái)回到0位，試探性微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，使之略微旋轉(zhuǎn)角度φ0，將測(cè)量?jī)x重新清0后，重復(fù)以上程序。若二示值之差的絕對(duì)值仍大于0.00002°，則根據(jù)下列幾種情況，做出相應(yīng)調(diào)整：若測(cè)得二示值之差的符號(hào)與先前相同，絕對(duì)值減小，說(shuō)明先前轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)角φ0的微調(diào)方向正確，而量不足；則應(yīng)繼續(xù)同向微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，重復(fù)上述程序；若測(cè)得二示值之差的符號(hào)與先前相同，絕對(duì)值不減反增，說(shuō)明先前轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)角φ0的微調(diào)方向相反；則應(yīng)使齒臺(tái)回到0位，反向微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，重復(fù)上述程序；若測(cè)得二示值之差的符號(hào)與先前相反，說(shuō)明先前轉(zhuǎn)臺(tái)微調(diào)角度φ0過(guò)量，則應(yīng)使齒臺(tái)回到0位，減小微調(diào)量，同向微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，重復(fù)上述程序；如此反復(fù)調(diào)整，直至測(cè)量?jī)x讀取的二示值之差絕對(duì)值小于0.00002°，此時(shí)的測(cè)量?jī)x示值0點(diǎn)被確認(rèn)，在以下程序中，測(cè)量?jī)x不得再進(jìn)行清0操作。6JB/T8232—XXXX如圖1所示，在轉(zhuǎn)臺(tái)上安裝帶座反射鏡（以下簡(jiǎn)稱：反射鏡使其反射面中點(diǎn)法線通過(guò)轉(zhuǎn)臺(tái)中心。安裝被檢儀器，使其準(zhǔn)直光束對(duì)準(zhǔn)反射鏡的反射面，工作距離約100mm，且受檢示值的測(cè)量方向位于水平方向。調(diào)節(jié)被檢儀器方位，使自準(zhǔn)像位于儀器垂直和水平方向測(cè)量范圍的中點(diǎn)，將其示值清0（對(duì)于具有絕對(duì)坐標(biāo)功能的儀器，可直接選擇ABS顯示模式，調(diào)節(jié)受檢儀器方位，使示值為0即可，無(wú)需清0操作）。微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，使被檢儀器示值依次為2.5"，5"，7.5"，……，17.5"，20"，讀取測(cè)量?jī)x在相應(yīng)位置處的示值Ci，按公式（1）計(jì)算示值正方向各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki=ki?Ci×3600·················································(1)式中：Δki——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)儀器的示值誤差，單位為秒（"ki——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)儀器的示值，單位為秒（"Ci——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)測(cè)量?jī)x的示值，單位為度（。）。微調(diào)轉(zhuǎn)臺(tái)，使被檢儀器示值依次為-2.5"，-5"，-7.5"，??，-17.5"，-20"，讀取測(cè)量?jī)x在相應(yīng)位置處的示值k-i，按公式（1）計(jì)算示值~負(fù)方向各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。以正、負(fù)示值方向序號(hào)i=(-44)范圍內(nèi)的Δki中最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±10"范圍內(nèi)的示值最大誤差。以所有Δki中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±20"范圍內(nèi)的示值最大誤差。仿照以上程序和表5規(guī)定的示值檢測(cè)點(diǎn)位置，對(duì)儀器±20"范圍以外的示值誤差進(jìn)行檢驗(yàn)，以全部測(cè)量范圍內(nèi)所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器±300"測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤差。為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（1）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.32級(jí)數(shù)字式自準(zhǔn)直儀和光電自準(zhǔn)直儀的示值最大誤差7.3.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)指示計(jì)中心距為（500±0.05）mm的小角度檢查儀；b)兩只光學(xué)計(jì)（作為小角度檢查儀的指示計(jì)）；c)帶座反射鏡；d)1mm和表6所列尺寸的三等量塊。7.3.2試驗(yàn)程序檢測(cè)點(diǎn)的間隔設(shè)置為20.6"。對(duì)于測(cè)量范圍大于200"的儀器，試驗(yàn)程序應(yīng)分組進(jìn)行。例如：檢驗(yàn)測(cè)量范圍為(0~600)"的儀器時(shí)，可將全部測(cè)量范圍的示值分為三組，分別進(jìn)行檢驗(yàn)；每組11個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，利用每組的最后一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)與下一組起始檢測(cè)點(diǎn)位置相互重合的設(shè)置，將三組示值檢驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行銜接。各檢測(cè)點(diǎn)儀器示值代號(hào)及所使用的預(yù)置量塊尺寸如表6所示。7JB/T8232—XXXXij=1j=2j=30k01=0k02=k101k03=k1021k11k12k132k21k22k233k31k32k334k41k42k435k51k52k536k61k62k637k71k72k738k81k82k839k91k92k93k101k102—對(duì)于測(cè)量范圍小于(0～600)"的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測(cè)點(diǎn)終止。如圖2所示，在小角度檢查儀橫梁一端安裝帶座反射鏡（以下簡(jiǎn)稱：反射鏡），將被檢儀器安置在小角度檢檢查儀外端，但二者必須位于同一基體上；將被檢儀器適當(dāng)墊高，使其準(zhǔn)直光束對(duì)準(zhǔn)反射鏡的反射面，工作距離約100mm，且被檢驗(yàn)的測(cè)量方向位于垂直方向。先檢驗(yàn)第1組示值。在光學(xué)計(jì)A測(cè)量頭下方預(yù)置1.0mm量塊，在光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方預(yù)置1.5mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。再調(diào)整被檢儀器的調(diào)平裝置，使被檢儀器示值位于測(cè)量范圍的0點(diǎn)。撤去光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方的1.5mm量塊，按表6的順序依次換上i=1，2，……，9，10號(hào)量塊；調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A和B的示值為0。讀取示值ki，j。按公式（2）計(jì)算第1組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。8JB/T8232—XXXX在檢驗(yàn)以后各組示值時(shí)，被檢儀器起始檢測(cè)點(diǎn)的示值應(yīng)保持在上一組最后一個(gè)示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（3）計(jì)算第2、3、4組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki,1=ki,1-........................................................................Δki,j=ki,j-k0,j-+Δk10.............................................................式中：Δki，j——檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差（i為檢測(cè)點(diǎn)序號(hào)，j為組序號(hào)單位為秒（"ki，j——檢測(cè)點(diǎn)的儀器示值，單位為秒（"）lb0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmρ——1弧度所對(duì)應(yīng)的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。所有檢測(cè)點(diǎn)中，任意4個(gè)相鄰示值誤差為一組，找出組內(nèi)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差最大一組，以該組示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差，作為被檢儀器任意60"范圍內(nèi)的示值最大誤差。以所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差，作為被檢儀器(0~600)"范圍內(nèi)的示值最大誤為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki，j可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（2）、（3）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.4光學(xué)自準(zhǔn)直儀測(cè)微鼓輪一周內(nèi)的示值最大誤差7.4.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：b)兩塊1.0mm量塊或表8所列尺寸的三等量塊。7.4.2適用于以（"）為示值單位的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序測(cè)微鼓輪轉(zhuǎn)動(dòng)一周內(nèi)設(shè)置的檢測(cè)點(diǎn)數(shù)應(yīng)不少于6個(gè)，具體設(shè)置的檢測(cè)點(diǎn)數(shù)，視被檢儀器測(cè)微鼓輪的分度值和一周的測(cè)量范圍而定。例如：檢驗(yàn)分度值為1"，測(cè)微鼓輪一周為60"的儀器時(shí)，可將檢測(cè)點(diǎn)間隔設(shè)為10（格），共7個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，各檢測(cè)點(diǎn)光學(xué)計(jì)A和B所預(yù)置的示值如表7所示。i0000102030456按7.3.2和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。9JB/T8232—XXXX在光學(xué)計(jì)A、B測(cè)量頭下方分別預(yù)置1.0mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，使其示值為0，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。然后，調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A、B依次達(dá)到表7序1~6規(guī)定的預(yù)置示值，轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取鼓輪示值ki。按公式（4）計(jì)算各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki=ki-..........................................................................式中：Δki——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差，單位為秒（"kj——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)被檢儀器的示值，單位為秒（"ki——光學(xué)計(jì)A的預(yù)置示值，單位為毫米（mmBi——光學(xué)計(jì)B的預(yù)置示值，單位為毫米（mm）。ρ——1弧度所對(duì)應(yīng)的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按7.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。取測(cè)微鼓輪一周內(nèi)所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（4）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)儀器測(cè)量范圍的首、中、尾，各選測(cè)微鼓輪一周，進(jìn)行檢驗(yàn)。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.4.3適用于分度值為0.005mm/m的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序檢測(cè)點(diǎn)間隔設(shè)定為20（格），一周共6個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，各檢測(cè)點(diǎn)所使用的預(yù)置量塊尺寸如表8所示。i0012345按7.3.2和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。在光學(xué)計(jì)A測(cè)量頭下方預(yù)置1.0mm量塊，在光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方預(yù)置1.5mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，使其示值為0，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。撤去光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方的量塊，按表8順序，將表中對(duì)應(yīng)的量塊依次預(yù)置于光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方；調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A和B的示值為0，然后轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取鼓輪示值ki。按公式（5）計(jì)算各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki=ki-.......................................................................式中：Δki——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差，單位為mm/mm；kj——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)被檢儀器的示值，單位為mm/m；lbi——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。JB/T8232—XXXX取測(cè)微鼓輪一周內(nèi)所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（5）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)儀器測(cè)量范圍的首、中、尾，各選測(cè)微鼓輪一周，進(jìn)行檢驗(yàn)。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.4.4適用于分度值為0.0025mm/m的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序由于儀器的測(cè)微鼓輪一周的實(shí)有刻度為100格，而鼓輪所標(biāo)數(shù)字為“50”，為了方便讀數(shù)和計(jì)算，本項(xiàng)檢驗(yàn)所涉及的格數(shù)，以所標(biāo)數(shù)字為準(zhǔn)，短刻線被視為“半格”。檢測(cè)點(diǎn)間隔設(shè)定為10（格），一周共6個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，各檢測(cè)點(diǎn)光學(xué)計(jì)A和B所預(yù)置的示值，如表7序0~5所示。按7.3.2和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。在光學(xué)計(jì)A、B測(cè)量頭下方分別預(yù)置1.0mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，使其示值為0，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。然后，調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A、B達(dá)到表7序1~5規(guī)定的預(yù)置示值，轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取鼓輪示值ki。按公式（6）計(jì)算各被檢點(diǎn)的示值誤差。Δki=ki.......................................................................式中：Δki——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差，單位為mm/m；kj——第i號(hào)檢測(cè)點(diǎn)被檢儀器的示值，單位為mm/m；Ai——光學(xué)計(jì)A的預(yù)置示值，單位為毫米（mmBi——光學(xué)計(jì)B的預(yù)置示值，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。取測(cè)微鼓輪一周內(nèi)所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大與最小值的代數(shù)差作示值最大誤差。為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（6）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)儀器測(cè)量范圍的首、中、尾，各選測(cè)微鼓輪一周，進(jìn)行檢驗(yàn)。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.5光學(xué)自準(zhǔn)直儀全部測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤差7.5.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)同第6.3.1條的a)、b)、c)項(xiàng)；b)表9或表10或表11所列尺寸的三等量塊；c)對(duì)于沒(méi)有調(diào)平裝置的被檢儀器，被檢儀器下方應(yīng)墊入輔助調(diào)平裝置。7.5.2適用于以（"）為示值單位的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序測(cè)微鼓輪每轉(zhuǎn)動(dòng)一周，設(shè)置一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)。試驗(yàn)程序的分組和所用量塊，視被檢儀器的測(cè)量范圍而定。例如：檢驗(yàn)測(cè)微鼓輪一周為60"，測(cè)量范圍為(0~600)"的儀器時(shí)，可將全部測(cè)量范圍的示值分為四組，分別進(jìn)行檢驗(yàn)。利用每組的最后一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)與下一組起始檢測(cè)點(diǎn)位置相互重合的設(shè)置，將四組示值檢驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行銜接。各檢測(cè)點(diǎn)儀器示值代號(hào)及所使用的預(yù)置量塊尺寸如表9所示。ij=1j=2j=3j=40k03=k32k04=k3301k11k12k13JB/T8232—XXXX2k21k22k23—3k31k32k33 對(duì)于測(cè)量范圍小于（0~600）"的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測(cè)點(diǎn)終止。按7.3.2和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。先檢驗(yàn)第1組示值。在光學(xué)計(jì)A測(cè)量頭下方預(yù)置1.0mm量塊，在光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方預(yù)置1.5mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。調(diào)整被檢儀器測(cè)微鼓輪，使儀器示值位于測(cè)量范圍的0點(diǎn)，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。撤去光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方的量塊，按表9的順序，將表中對(duì)應(yīng)的量塊依次預(yù)置于光學(xué)計(jì)B的測(cè)量頭下方；調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)B的示值為表9規(guī)定的示值，光學(xué)計(jì)A的示值保持為0；然后轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取示值ki，j。按公式（7）計(jì)算第1組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。在檢驗(yàn)以后各組示值時(shí)，被檢儀器測(cè)微鼓輪起始檢測(cè)點(diǎn)的示值，應(yīng)保持在上一組最后一個(gè)示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（8）計(jì)算第2、3、4組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki,1=ki,1..................................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk3......................................................式中：Δki，j——檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差（i為檢測(cè)點(diǎn)序號(hào)，j為組序號(hào)單位為秒（"ki，j——檢測(cè)點(diǎn)的儀器示值，單位為秒（"）lb0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmGi——光學(xué)計(jì)B的預(yù)置示值，單位為毫米（mm）；ρ——1弧度所對(duì)應(yīng)的秒值，ρ=206265"適用于本文件；L——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。以所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki，j可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（7）、（8）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.5.3適用于分度值為0.005mm/m的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序?qū)τ跍y(cè)量范圍為（0~1600)i的被檢儀器，將全部測(cè)量范圍的示值劃分為四組，分別進(jìn)行檢驗(yàn)；每組5個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，測(cè)微鼓輪每轉(zhuǎn)動(dòng)一周，設(shè)置一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)。利用每組的最后一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)與下一組起始檢測(cè)點(diǎn)位置相互重合的設(shè)置，將四組示值檢驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行銜接。試驗(yàn)程序中，各檢測(cè)點(diǎn)所使用的預(yù)置量塊尺寸，如表10所示。i001234JB/T8232—XXXX對(duì)于測(cè)量范圍小于（0~1600)i的被檢儀器，程序可以在范圍終端的檢測(cè)點(diǎn)終止。按7.3.2和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。先檢驗(yàn)第1組示值。在光學(xué)計(jì)A測(cè)量頭下方預(yù)置1.0mm量塊，在光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方預(yù)置2.5mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。調(diào)整被檢儀器測(cè)微鼓輪，使儀器示值位于測(cè)量范圍的0點(diǎn)，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。撤去光學(xué)計(jì)A和B測(cè)量頭下方的量塊，按表10的順序，將表中的量塊依次預(yù)置于光學(xué)計(jì)A和B的測(cè)量頭下方；調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A和B的示值為0，然后轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取示值ki，j。按公式（9）計(jì)算第1組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。在檢驗(yàn)以后各組示值時(shí)，被檢儀器測(cè)微鼓輪起始檢測(cè)點(diǎn)的示值，應(yīng)保持在上一組最后一個(gè)示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（10）計(jì)算每組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki,1=ki,1.............................................................Δki,j=ki,jk0,j+Δk4,................................................式中：Δki，j——檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差（i為檢測(cè)點(diǎn)序號(hào)，j為組序號(hào)），單位為mm/m；ki，j——檢測(cè)點(diǎn)的儀器示值，單位為mm/m；lai——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊a的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmla0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊a的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmL——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。以所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki，j可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（9）和（10）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按此程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.5.4適用于分度值為0.0025mm/m的光學(xué)自準(zhǔn)直儀的試驗(yàn)程序由于儀器的測(cè)微鼓輪一周的實(shí)有刻度為100格，而鼓輪所標(biāo)數(shù)字為“50”，為了方便讀數(shù)和計(jì)算，本項(xiàng)檢驗(yàn)所涉及的格數(shù)以所標(biāo)數(shù)字為準(zhǔn)，短刻線被視為“半格”。將全部測(cè)量范圍的示值等分為兩組，分別進(jìn)行檢驗(yàn)；每組7個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，測(cè)微鼓輪每轉(zhuǎn)動(dòng)一周，設(shè)置一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)。利用每組的最后一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)與下一組起始檢測(cè)點(diǎn)位置相互重合的設(shè)置，將兩組示值檢驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行銜接。試驗(yàn)程序中，各檢測(cè)點(diǎn)所使用的量塊尺寸和光學(xué)計(jì)B的預(yù)置示值，如表11所示。i000120340560JB/T8232—XXXX按7.3.3和圖2配置測(cè)量器具和被檢儀器。先檢驗(yàn)第1組示值。在光學(xué)計(jì)A量頭下方預(yù)置1.0mm量塊，在光學(xué)計(jì)B測(cè)量頭下方預(yù)置2.5mm量塊，調(diào)整光學(xué)計(jì)A和B，使其示值為0。轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，使其示值為0，再調(diào)整被檢儀器調(diào)平裝置，使被檢儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像。撤去光學(xué)計(jì)A和B測(cè)量頭下方的量塊，按表11的順序，將表中的量塊依次預(yù)置于光學(xué)計(jì)A和B測(cè)量頭下方；調(diào)節(jié)量塊升降機(jī)構(gòu)，使光學(xué)計(jì)A的示值為0，預(yù)置光學(xué)計(jì)B的示值為表11所規(guī)定的示值，然后轉(zhuǎn)動(dòng)被檢儀器測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像并讀取示值ki，j。按公式（11）計(jì)算第1組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。在檢驗(yàn)第2組示值時(shí)，被檢儀器測(cè)微鼓輪起始檢測(cè)點(diǎn)的示值，應(yīng)保持在上一組最后一個(gè)示值位置上，其余程序與上述程序相同。最后，按公式（12）計(jì)算每組各檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差。Δki,1=ki,1......................................................Δki,2=ki,2k0.2+Δk6,1.............................................式中：Δki，j——檢測(cè)點(diǎn)的示值誤差（i為檢測(cè)點(diǎn)序號(hào)，j為組序號(hào)），單位為mm/m；ki，j——檢測(cè)點(diǎn)的儀器示值，單位為mm/m；Gi——光學(xué)計(jì)B的預(yù)置示值，單位為毫米（mmlai——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊a的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmla0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊a的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlbi——量塊檢定證書(shū)上給定的i號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mmlb0——量塊檢定證書(shū)上給定的0號(hào)量塊b的中心長(zhǎng)度，單位為毫米（mm）L——小角度檢查儀兩指示計(jì)安裝孔中心距，按6.3.1規(guī)定的測(cè)量器具為L(zhǎng)=500mm。以所有檢測(cè)點(diǎn)示值誤差中的最大值和最小值的代數(shù)差作為被檢儀器全部測(cè)量范圍內(nèi)的示值最大誤為了減小測(cè)量誤差，對(duì)于每一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)示值ki,j可以進(jìn)行正測(cè)和反測(cè)，取其示值的平均值代入公式（11）、（12）進(jìn)行計(jì)算。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.6含有回程誤差的測(cè)微鼓輪示值重復(fù)性7.6.1測(cè)量器具帶座反射鏡和1級(jí)平板。7.6.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調(diào)整儀器方位，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央。按示值遞增方向轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，重復(fù)5次；再按示值遞減方向轉(zhuǎn)動(dòng)鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，重復(fù)5次，正、反向10次讀數(shù)（以格數(shù)為單位）的最大與最小值之差，即為含有回程誤差的測(cè)微鼓輪的示值重復(fù)性。檢驗(yàn)應(yīng)在儀器示值范圍的兩端和中間三個(gè)位置上進(jìn)行。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.7數(shù)字式自準(zhǔn)直儀示值重復(fù)性按7.6.2安置測(cè)量器具和被檢儀器，利用一塊遮光板遮擋準(zhǔn)直光束，再移開(kāi)，觀察每次重新顯示的示值；反復(fù)5次，取其中示值最大值與最小值之差，作為示值重復(fù)性。7.8數(shù)字式和光電自準(zhǔn)直儀工作2h內(nèi)的示值漂移7.8.1測(cè)量器具JB/T8232—XXXX7.8.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調(diào)整儀器方位，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央。對(duì)于數(shù)字式自準(zhǔn)儀，直接讀取示值；對(duì)于光電自準(zhǔn)儀，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)微鼓輪，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，讀取儀器示值。監(jiān)視儀器在2h內(nèi)的示值變化，以最大變化量作為檢驗(yàn)結(jié)果。對(duì)于雙軸自準(zhǔn)直儀，每一個(gè)測(cè)量方向均應(yīng)按以上程序進(jìn)行檢驗(yàn)。7.9光電自準(zhǔn)直儀瞄準(zhǔn)時(shí)由于調(diào)節(jié)靈敏度所引起的電表指零變化7.9.1測(cè)量器具同6.6.1。7.9.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約100mm；調(diào)整儀器方位，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央。將靈敏度調(diào)整至最高，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)微鼓輪瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，使電表指零，讀取儀器示值。然后緩慢減低靈敏度，觀察電表指零變化，并找到指針偏轉(zhuǎn)最大處，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)微鼓輪，使電表指零，再次讀取儀器示值，以該示值與先前讀得示值之差作為檢驗(yàn)結(jié)果。7.10在最大工作距離測(cè)量條件下的測(cè)量范圍7.10.1測(cè)量器具帶座反射鏡。1.1.1試驗(yàn)程序?qū)ё瓷溏R放在被檢儀器最大工作距離處；調(diào)整帶座反射鏡方位，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央。微調(diào)帶座反射鏡，使其偏轉(zhuǎn)±1ˊ或偏轉(zhuǎn)到基本參數(shù)規(guī)定的測(cè)量范圍的上下限，儀器應(yīng)能正常讀數(shù)。7.11自準(zhǔn)直光束的平行性對(duì)示值的影響7.11.1測(cè)量器具7.6.1所列測(cè)量器具和專用光欄板（參見(jiàn)附錄A）。7.11.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器和帶座反射鏡放在平板上，工作距離約300mm，調(diào)整儀器方位，使之自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央；將專用光欄板置于二者之間，并使板上一個(gè)通光孔對(duì)準(zhǔn)儀器光軸（參見(jiàn)圖3a）瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，讀取儀器初始示值。移動(dòng)專用光欄板，使通光孔分別位于偏離儀器光軸的上、下、左、右四個(gè)位置，其偏離量為10mm（參見(jiàn)圖3b），讀取各位置上的儀器示值與初始示值之差，其中的最大差值（對(duì)于以mm/m為示值單位的儀器，按0.005mm/m相當(dāng)于1"折算），就是自準(zhǔn)直光束的平行性對(duì)示值的影響。a)7.12基座圓形水準(zhǔn)器的正確性7.12.1測(cè)量器具JB/T8232—XXXX帶座反射鏡和水平儀零位檢定器。7.12.2試驗(yàn)程序被檢儀器和帶座反射鏡放在水平儀零位檢定器平臺(tái)上；調(diào)整儀器方位，使之自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)（或顯示器窗口）中央，并使反射鏡左右擺動(dòng)，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)兩邊緣時(shí)的示值之差小于5"。調(diào)整水平儀零位檢定器，使儀器基座圓形水準(zhǔn)器的氣泡應(yīng)在分劃圈中央。將儀器在平臺(tái)上原地調(diào)頭180°,儀器基座圓形水準(zhǔn)器的氣泡應(yīng)仍在分劃圈中央。7.13讀數(shù)系統(tǒng)測(cè)量方向的偏差7.13.1測(cè)量器具1級(jí)平板和角度90°±5"、工作面粗糙度Ra≤0.1μm的直角鐵；7.13.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器和直角鐵放在已調(diào)整至水平的平板上，工作面距離約100mm；對(duì)于具有調(diào)平裝置的儀器，應(yīng)調(diào)整儀器至水平；對(duì)于不具備調(diào)平裝置的儀器，應(yīng)使儀器基座底面直接與平板工作面接觸。左右擺動(dòng)直角鐵，使自準(zhǔn)像先后位于視場(chǎng)（或顯示器窗口）左邊緣和右邊緣，并分別讀取示值，兩示值之差（對(duì)于以μm/mm為示值單位的儀器，按1μm/200mm相當(dāng)于1"折算）即為讀數(shù)系統(tǒng)測(cè)量方向的偏差。7.14視軸對(duì)儀器底面的平行度7.14.1測(cè)量器具同7.13.1。7.14.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z儀器放在平板上，并使其基座底面直接與平板工作面接觸；將直角鐵放在相距被檢儀器約100mm處，并使其工作面朝向被檢儀器物鏡。左右擺動(dòng)直角鐵，使自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央，讀取當(dāng)前示值，該示值與測(cè)量范圍中點(diǎn)示值之差（對(duì)于以μm/mm為示值單位的儀器，按1μm/200mm相當(dāng)于1"折算即為視軸對(duì)儀器底面的平行度。7.15帶座反射鏡反射面的面形偏差7.15.1測(cè)量器具平面干涉儀7.15.2試驗(yàn)程序?qū)⒈粰z反射鏡放在平面干涉儀上，按GB/T2831-2009的附錄B的方法檢驗(yàn)面形偏差。7.16帶座反射鏡反射面與鏡座的垂直度7.16.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：b)示值最大誤差不大于1"的自準(zhǔn)儀；c)平行度不大于0.005mm的平行墊塊。7.16.2試驗(yàn)程序?qū)⒆詼?zhǔn)直儀和直角鐵放在平板上，調(diào)整儀器方位，使經(jīng)直角鐵反射的自準(zhǔn)像位于視場(chǎng)中央，瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，并讀取示值；撤去直角鐵，換上帶座反射鏡，用儀器瞄準(zhǔn)自準(zhǔn)像，并讀取示值；與先前讀取的示值之差，即為帶座反射鏡反射面與底面的垂直度。將帶座反射鏡側(cè)面朝下，墊上平行墊塊，置于平板上，按以上程序?qū)ё瓷溏R反射面與底面的垂直度進(jìn)行檢驗(yàn)。JB/T8232—XXXX7.17五棱鏡光軸偏轉(zhuǎn)角90°的偏差7.17.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)示值最大誤差不大于0.5"的自準(zhǔn)儀；b)1級(jí)平板；c)二塊帶座反射鏡。7.17.2試驗(yàn)程序如圖4所示，將被檢五棱鏡、自準(zhǔn)直儀和二塊帶座反射鏡放在平板上，使四者光軸等高。先使自準(zhǔn)直儀位于Ⅰ位置，五棱鏡位于a位置，調(diào)整反射鏡1的方位，使經(jīng)其反射的自準(zhǔn)像位于自準(zhǔn)儀視場(chǎng)中央并處于瞄準(zhǔn)狀態(tài)，讀取示值α1。然后將五棱鏡翻轉(zhuǎn)180°,使之位于b位置；調(diào)整反射鏡2的方位，使經(jīng)其反射的自準(zhǔn)像被自準(zhǔn)儀瞄準(zhǔn)，且自準(zhǔn)直儀示值仍保留在α1。此時(shí)，兩反射鏡位置被固定，不得再作任何調(diào)整。將自準(zhǔn)直儀移到對(duì)面的Ⅱ位置，并使五棱鏡位于c位置；調(diào)整自準(zhǔn)直儀方位，使之瞄準(zhǔn)經(jīng)反射鏡1反射的自準(zhǔn)像，自準(zhǔn)直儀示值仍保留在α1。然后將五棱鏡翻轉(zhuǎn)180°,使之位于d位置，瞄準(zhǔn)經(jīng)反射鏡2反射的自準(zhǔn)像，讀取示值α2，按公式（13）計(jì)算五棱鏡光軸偏轉(zhuǎn)角90°的偏差。Δ90=..............................................................................(13)式中：Δ90——五棱鏡光軸偏轉(zhuǎn)角90°的偏差，單位為秒（"）；α1——五棱鏡位于a位置時(shí)，自準(zhǔn)直儀的示值，單位為秒（"α2——五棱鏡位于d位置時(shí)，自準(zhǔn)直儀的示值，單位為秒（"）。7.18尋像器的尋像性能按6.2的要求進(jìn)行檢驗(yàn)。7.19電氣安全性能試驗(yàn)7.19.1耐壓試驗(yàn)7.19.1.1試驗(yàn)工具具有耐壓檢測(cè)功能的測(cè)試儀，其測(cè)試電壓AC/DC范圍為(0～3)