(高清版)GB∕T 37400.14-2019 重型機(jī)械通 用技術(shù)條件 第14部分：鑄鋼件無損探傷

重型機(jī)械通用技術(shù)條件第14部分：鑄鋼件無損探傷國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)IGB/T37400.14—2019 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 23.1超聲檢測(cè) 23.2射線檢測(cè) 2 3 34.1總則 34.2檢測(cè)檔案 44.3檢測(cè)人員 45鑄鋼件超聲檢測(cè) 45.1訂貨時(shí)應(yīng)明確的內(nèi)容 45.2受檢鑄件的準(zhǔn)備 45.3檢測(cè)系統(tǒng) 55.4檢測(cè)儀的校準(zhǔn) 65.5超聲可探性的確認(rèn) 65.6檢測(cè) 75.7缺陷分析 95.8缺陷尺寸測(cè)定 95.9質(zhì)量等級(jí) 5.10檢測(cè)報(bào)告 6鑄鋼件射線檢測(cè) 6.1檢測(cè)前應(yīng)明確的內(nèi)容 6.2像質(zhì)級(jí)別 6.3設(shè)備與器材 6.4透照方法 6.5底片質(zhì)量要求 6.6底片觀察 6.7散射線屏蔽 6.8缺陷影像質(zhì)量評(píng)級(jí)方法 6.9檢測(cè)報(bào)告 7鑄鋼件滲透檢測(cè) 7.1檢測(cè)前應(yīng)明確的內(nèi)容 7.2安全防護(hù) 7.3檢測(cè)要求 ⅡGB/T37400.14—20197.4檢測(cè)材料及靈敏度 7.5檢測(cè)工藝 7.6顯示的評(píng)定與質(zhì)量等級(jí) 7.7檢測(cè)報(bào)告 8鑄鋼件磁粉檢測(cè) 8.1檢測(cè)前應(yīng)明確的內(nèi)容 8.2安全防護(hù) 8.3方法概述 8.4表面狀態(tài)和表面準(zhǔn)備 8.5設(shè)備和器材 8.6磁化方法 8.7電流種類 8.8磁場(chǎng)方向和有效區(qū) 8.9磁化驗(yàn)證 8.10磁粉檢測(cè)操作 8.11觀察條件 8.13顯示的評(píng)定與質(zhì)量等級(jí) 8.14檢測(cè)報(bào)告 附錄A(規(guī)范性附錄)補(bǔ)焊區(qū)的檢測(cè) 附錄B(資料性附錄)傳輸修正及衰減系數(shù) 附錄C(資料性附錄)DGS(AVG)曲線應(yīng)用 附錄D(規(guī)范性附錄)常用靈敏度試片(塊) ⅢGB/T37400.14—2019 本部分為GB/T37400的第14部分。1GB/T37400.14—2019重型機(jī)械通用技術(shù)條件第14部分：鑄鋼件無損探傷1范圍GB/T37400的本部分規(guī)定了鑄鋼件的超聲檢測(cè)、射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè)等無損檢測(cè)方法、一般要求及其相應(yīng)的質(zhì)量等級(jí)。本部分適用于：——厚度≤600mm經(jīng)熱處理的合金和非合金鐵素體鋼鑄件的A型脈沖反射法超聲檢測(cè)。對(duì)于厚度>600mm的鑄件，如果沒有其他規(guī)定，也可參照?qǐng)?zhí)行；——厚度≥5mm鑄鋼件的射線檢測(cè)；——鑄鋼件表面開口性缺陷的滲透檢測(cè)；本部分不適用于奧氏體鑄鋼件的超聲檢測(cè)。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T5097無損檢測(cè)滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè)觀察條件GB/T9445無損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證GB/T12604.1無損檢測(cè)術(shù)語超聲檢測(cè)GB/T12604.2無損檢測(cè)術(shù)語射線照相檢測(cè)GB/T12604.3無損檢測(cè)術(shù)語滲透檢測(cè)GB/T12604.5無損檢測(cè)術(shù)語磁粉檢測(cè)GB12664便攜式X射線安全檢查設(shè)備通用規(guī)范GB/T14058γ射線探傷機(jī)GB/T15822.1無損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第1部分：總則GB/T15822.2無損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第2部分：檢測(cè)介質(zhì)GB/T15822.3無損檢測(cè)磁粉檢測(cè)第3部分：設(shè)備GB/T18851.2無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第2部分：滲透材料的檢驗(yàn)GB/T18851.3—2008無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第3部分：參考試塊GB/T18851.4無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第4部分：設(shè)備GB/T18851.5無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第5部分：溫度高于50℃的滲透檢測(cè)GB/T18851.6無損檢測(cè)滲透檢測(cè)第6部分：溫度低于10℃的滲透檢GB/T19348.1無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類GB/T19799.1—2015無損檢測(cè)超聲檢測(cè)1號(hào)校準(zhǔn)試塊GB/T19799.2—2012無損檢測(cè)超聲檢測(cè)2號(hào)校準(zhǔn)試塊GB/T19802無損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求2GB/T37400.14—2019GB/T19803—2005無損檢測(cè)射線照相像質(zhì)計(jì)原則與標(biāo)識(shí)GB/T20129無損檢測(cè)用電子直線加速器GB/T20737無損檢測(cè)通用術(shù)語和定義GB/T23901.1—2019無損檢測(cè)射線照相檢測(cè)圖像質(zhì)量第1部分：線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測(cè)定GB/T23907—2009無損檢測(cè)磁粉檢測(cè)用試片GB/T27664.1無損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T37400.7重型機(jī)械通用技術(shù)條件第7部分：鑄鋼件補(bǔ)焊GB/T12604.1、GB/T12604.2、GB/T12604.3、GB/T12604.5、GB/T和定義適用于本文件。3.1.1底波降低量reductionofbackwallecho在缺陷附近完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度與缺陷區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度的比值。注：比值需換算為dB。3.1.2檢測(cè)的靈敏度。3.1.3探頭移動(dòng)距離與對(duì)應(yīng)反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。3.1.4注：非延伸性按缺陷峰值點(diǎn)最大間距判定，若測(cè)出的峰值點(diǎn)最大間距小于或等于探頭聲束直徑(-6dB),則該缺陷定義為非延伸性缺陷。3.1.5實(shí)際尺寸大于或等于探頭在缺陷處聲束直徑(—6dB)的缺陷。注：延伸性缺陷按缺陷峰值點(diǎn)最大間距判定，若測(cè)出的峰值點(diǎn)最大間距大于探頭聲束直徑(-6dB),則該缺陷定義為延伸性缺陷。3.2射線檢測(cè)3.2.1T受檢工件名義厚度。注：公稱厚度不考慮材料制造偏差和加工減薄。3GB/T37400.14—20193.2.2射線照射方向上材料的公稱厚度。3.2.3沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位射線源與受檢工件近源側(cè)表面之間的距離。3.2.4射線源的有效焦點(diǎn)尺寸。3.2.53.3.1長度大于3倍寬度的顯示。3.3.2長度小于或等于3倍寬度的顯示。3.3.3成排缺陷顯示arraydefectindications3.3.4在缺陷最嚴(yán)重的部位，為評(píng)價(jià)缺陷數(shù)量和密集程度而設(shè)置的150mm×105mm的一個(gè)長方形4.1.1檢測(cè)方法和質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)的選擇應(yīng)依據(jù)鑄鋼件的具體使用和種類確定，并符合相應(yīng)技術(shù)文件的要求。4.1.3凡要求有表面檢測(cè)的鐵磁性鑄件，應(yīng)優(yōu)先選用磁粉檢測(cè)方法。若因結(jié)構(gòu)形狀及資源條件等原因4.1.4鑄鋼件不同區(qū)域的質(zhì)量等級(jí)，應(yīng)在合同、訂貨技術(shù)條件或圖樣中予以規(guī)定。質(zhì)量等級(jí)的選擇應(yīng)1)給出具體的位置和尺寸范圍(長度和寬度);4GB/T37400.14—20192)對(duì)于待焊區(qū)域和特殊邊緣區(qū)，還要給出深度范圍。b)對(duì)于不同區(qū)域的質(zhì)量，可以選擇相同的質(zhì)量等級(jí)也可以選擇不同的質(zhì)量等級(jí)。4.1.5若訂貨時(shí)沒有規(guī)定質(zhì)量等級(jí)，且材料標(biāo)準(zhǔn)也沒有其他規(guī)定，則應(yīng)按最低質(zhì)量等級(jí)驗(yàn)收。4.1.6在特殊情況下，對(duì)于機(jī)加面的邊緣區(qū)(見圖4)的外層區(qū)域(或稱特殊邊緣區(qū)),可選用較高的質(zhì)量等級(jí)。4.1.7對(duì)于鑄件補(bǔ)焊區(qū)域的無損檢測(cè)，應(yīng)依據(jù)GB/T37400.7執(zhí)行。補(bǔ)焊區(qū)域質(zhì)量要求與基體材料應(yīng)相同。補(bǔ)焊區(qū)的檢測(cè)見附錄A。4.2檢測(cè)檔案4.2.1檢測(cè)檔案至少應(yīng)包括：a)無損檢測(cè)委托單或檢測(cè)合同；b)無損檢測(cè)工藝文件；c)無損檢測(cè)原始記錄；d)無損檢測(cè)報(bào)告。4.2.2合同有要求時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)準(zhǔn)備一個(gè)書面檢測(cè)工藝規(guī)程，必要時(shí)需經(jīng)用戶認(rèn)可。4.2.3檢測(cè)程序及結(jié)果應(yīng)正確、完整并有相應(yīng)人員簽名認(rèn)可。檢測(cè)記錄、報(bào)告等保存期不應(yīng)少于5年。4.3檢測(cè)人員4.3.1實(shí)施檢測(cè)的人員，應(yīng)按GB/T9445或其他等效標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)進(jìn)行資格鑒定，并取得相應(yīng)檢測(cè)方法等級(jí)的資格證書。4.3.2GB/T9445所規(guī)定的各級(jí)資格人員所從事的工作應(yīng)與其資格等級(jí)和方法相適應(yīng)。4.3.3凡從事無損檢測(cè)工作的人員，視力應(yīng)滿足下列要求：a)矯正視力不應(yīng)低于5.0(小數(shù)記錄值為1.0);b)從事表面檢測(cè)工作的人員不應(yīng)有色盲。4.3.4從事射線檢測(cè)的人員上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識(shí)的培訓(xùn)，并取得放射工作人員證。5鑄鋼件超聲檢測(cè)5.1訂貨時(shí)應(yīng)明確的內(nèi)容訂貨時(shí)應(yīng)明確以下事宜：——要求進(jìn)行的特殊檢測(cè)方法。5.2受檢鑄件的準(zhǔn)備在超聲檢測(cè)之前，鑄鋼件應(yīng)至少進(jìn)行一次奧氏體化熱處理。最終驗(yàn)收的超聲檢測(cè)的檢測(cè)應(yīng)安排在最終熱處理之后進(jìn)行。鑄件超聲檢測(cè)應(yīng)安排在外觀檢查合格后進(jìn)行，鑄件的檢測(cè)面及底面應(yīng)無影響超聲檢測(cè)的異物，機(jī)加工表面粗糙度應(yīng)至少達(dá)到Ra6.3,非加工的表面粗糙度應(yīng)至少達(dá)到Ra12.5。GB/T37400.14—20195.3檢測(cè)系統(tǒng)———增益線性應(yīng)滿足表1要求，時(shí)基線性誤差最大允許值為全屏寬度的±2%,測(cè)試方法按GB/T27664.1。增益預(yù)定的全屏幅度%限值0基準(zhǔn)線37%～43%8%～12%5探頭公稱頻率應(yīng)在1MHz～5MHz之間。對(duì)于以發(fā)現(xiàn)缺陷為目的進(jìn)行的初始掃查，應(yīng)在規(guī)定范圍采用，近表面區(qū)也可使用SE(雙晶)直探頭或(雙晶)斜探頭。雙晶探頭建議用于近表面缺陷以及深度小晶片尺寸應(yīng)依據(jù)檢測(cè)聲程和頻率選擇。聲程較短時(shí)，應(yīng)使用晶片直徑6mm～12mm(或面積相當(dāng)?shù)姆骄?小探頭。聲程較長(如單晶直探頭大于200mm,單晶斜探頭大于100mm)時(shí)，宜使用晶片尺寸12mm～25mm的探頭。探頭與檢測(cè)表面之間的間隙(g)不應(yīng)大于0.5mm。圓柱形或球形表面可按式(1)計(jì)算：56GB/T37400.14—2019若g>0.5mm,應(yīng)使探頭楔塊與工件表面吻合，并重新設(shè)置靈敏度和掃查范圍。5.3.3檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度應(yīng)至少保證能調(diào)整到5.6.4所要求的檢測(cè)靈敏度。耦合劑應(yīng)能潤濕整個(gè)受檢表面，并且具有足夠的導(dǎo)聲性能?？梢杂盟C(jī)油、耀糊或其他性能相當(dāng)?shù)慕橘|(zhì)。調(diào)整儀器和檢測(cè)工件時(shí)應(yīng)采用同一種耦合劑。參考試塊的聲學(xué)特性應(yīng)與被檢鑄件相同或相近。應(yīng)測(cè)量參考試塊與受檢材料的材質(zhì)衰減系數(shù)差異，以便后續(xù)對(duì)檢測(cè)靈敏度及缺陷當(dāng)量進(jìn)行修正。5.4檢測(cè)儀的校準(zhǔn)采用按照GB/T19799(所有部分)規(guī)定的校準(zhǔn)試塊，檢測(cè)儀線性的校準(zhǔn)應(yīng)使用直探頭或斜探頭在校準(zhǔn)試塊上進(jìn)行。必要時(shí)，還應(yīng)考慮鑄件與校準(zhǔn)試塊的聲速差異。如果可行，線性的校準(zhǔn)盡可能直接在鑄件本體上進(jìn)行。5.5超聲可探性的確認(rèn)檢測(cè)前應(yīng)進(jìn)行可探性判斷，符合要求后才能進(jìn)行檢測(cè)?？商叫詶l件：先將儀器“抑制”旋鈕置于零位，使用頻率2MHz～2.5MHz中某一頻率的縱波直探頭，對(duì)鑄鋼件的最大探測(cè)距離處(最厚處)或反射雜波最多處進(jìn)行探測(cè)；在最大被檢深度處的平底孔的回波高度為示波屏高度的2/5時(shí)，若噪聲信號(hào)反射幅度比選定為縱波同聲程檢測(cè)靈敏度的反射回波低6dB以上，則該鑄件適合超聲檢測(cè)(即可探性符合要求)。應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中加以說明。若降低頻率仍不具可探性，則應(yīng)對(duì)鑄件重新進(jìn)行熱處理改善透聲性，可探性滿足要求后才能進(jìn)行檢測(cè)。超聲可探性要求按表2。表2超聲檢測(cè)可探性要求壁厚最小平底孔直徑34687GB/T37400.14—20195.6檢測(cè)應(yīng)根據(jù)鑄件的形狀、尺寸、可能產(chǎn)生的鑄造缺陷類型和可能在焊接時(shí)發(fā)生的缺陷等因素，選擇合適的聲束入射方向和探頭。最合適的檢測(cè)工藝應(yīng)由制造廠確定。應(yīng)注意鑄件的關(guān)鍵部位，必要時(shí)可編制書面的檢測(cè)工藝。焊接與制造過程中可能會(huì)產(chǎn)生危害性缺陷的部位，可采用斜探頭檢測(cè)。鑄件受檢部位應(yīng)至少用直探頭盡可能從兩相對(duì)面進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于只能從一面進(jìn)行檢測(cè)的，應(yīng)采用直探頭和雙晶直探頭檢測(cè)。對(duì)于只能從一面進(jìn)行檢測(cè)，而且壁厚小于60mm的部位，只用雙晶直探頭即可。鑄件采用單面檢測(cè)時(shí)，若需要發(fā)現(xiàn)靠近探頭的近表面缺陷，則應(yīng)使用近表面分辨力高的探頭。對(duì)于單直探頭掃查不能完全覆蓋的部位，以及訂貨時(shí)規(guī)定的特殊區(qū)域，應(yīng)補(bǔ)充橫波斜探頭掃查。探頭掃查速率應(yīng)不大于150mm/s,進(jìn)行全體積檢測(cè)的，相鄰兩次掃查至少應(yīng)有15%的重疊。盡可能用鑄件本體調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度。在不能用鑄件本體的情況下，方可使用試塊。采用試塊時(shí)，除非不可行，則應(yīng)測(cè)定傳輸修正△V,在測(cè)定傳輸修正時(shí)，既要考慮耦合面的表面質(zhì)量，還要考慮底面的表面質(zhì)量，因其影響反射波高度(用作基準(zhǔn))。傳輸修正測(cè)定方法參見附錄B,只有△V,>4dB時(shí)才進(jìn)行該修正。掃查時(shí)，應(yīng)把增益提高到在示波屏能見到干擾背景(掃查靈敏度)。掃查過程中，要監(jiān)視底面反射信號(hào)的幅度是否有明顯的降低。底面反射波幅的降低，不僅可能表明存在缺陷，也可能表明探頭與鑄件表面耦合不良、底面反射面不平行或鑄件中局部的衰減變化。如果懷疑由于缺陷的存在引起底波降低會(huì)超過應(yīng)記錄的值，則應(yīng)對(duì)該部位在降低增益的情況下重新檢測(cè)，并測(cè)定底波降低量。垂直于檢測(cè)面的平面狀缺陷的回波幅度可能較小，甚至可能小于3mm平底孔當(dāng)量直徑的記錄限。若檢測(cè)過程中，發(fā)現(xiàn)此類缺陷信號(hào)，因提高檢測(cè)靈敏度，使這種反射體在示波屏上能清晰地見到其動(dòng)態(tài)回波圖形(見圖3)。若受檢部位表面質(zhì)量情況有所變化，可能造成檢測(cè)靈敏度的急劇變化。這種情況下，應(yīng)遵守5.6.4.1條第三段所述的調(diào)節(jié)掃查靈敏度的條件。采用雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)，靈敏度應(yīng)在鑄件上耦合面與底面盡可能平行的部位內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。如果不可能，則要使用有平行面的試塊或鉆孔的試塊。用底面調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，若底面為曲面，其靈敏度修正與計(jì)算法相同。宜選用DGS系統(tǒng)調(diào)節(jié)靈敏度，適用于直探頭和斜探頭檢測(cè)?？墒褂描T件本體或參考試塊，根據(jù)相應(yīng)探頭的DGS系統(tǒng)，調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度。應(yīng)測(cè)量材料的聲衰減，材質(zhì)衰減系數(shù)(α)測(cè)量方法參見附錄B。只有在衰減量影響超過4dB時(shí)才進(jìn)行該修正。DGS系統(tǒng)有DGS曲線、DGS面板以及DGS軟件等，DGS曲線應(yīng)用參見附錄C。8GB/T37400.14—20195.6.4.3DAC(距離-波幅曲線)法用一組能覆蓋受檢鑄件厚度的參考試塊，找出各反射體的反射波最高點(diǎn)，將最高的反射波調(diào)至滿屏高的80%左右，在不動(dòng)增益的情況下，依次連接各反射體反射波的最高點(diǎn)，由此形成一條光滑的曲線。該曲線一般應(yīng)采用至少3個(gè)點(diǎn)進(jìn)行繪制。如果在受檢鑄件厚度以內(nèi)，超聲波衰減量超過檢測(cè)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍，則允許制作分段曲線。另外，只要能計(jì)算出超聲波聲衰減特性，也可采用DGS(5.6.4.2)或計(jì)算法(5.6.4.4)原理，補(bǔ)充或確定DAC曲線。5.6.4.4計(jì)算法計(jì)算法適用于檢測(cè)厚度或聲程大于或等于探頭3倍近場(chǎng)的場(chǎng)合。靈敏度也是以儀器上設(shè)定的某一基準(zhǔn)高度為基礎(chǔ)來調(diào)節(jié)的。應(yīng)按式(2)計(jì)算不同距離的平底孔與大平底的分貝差值，按式(3)計(jì)算不同直徑與不同距離處平底孔的分貝差值：式中：xf——所需的檢測(cè)聲程，單位為毫米(mm);xb——用以調(diào)節(jié)基準(zhǔn)波高處的工件厚度，單位為毫米(mm);式中：d?,d?——平底孔當(dāng)量直徑，單位為毫米(mm);xi,x?——平底孔埋深，單位為毫米(mm);α——衰減系數(shù)，單位為分貝每毫米(dB/mm)。材料的聲衰減應(yīng)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量方法參見附錄B。只有在材質(zhì)衰減系數(shù)α影響超過4dB時(shí)才進(jìn)行該修正。對(duì)于空心圓柱形工件，靈敏度修正所需增加的分貝差值應(yīng)按式(4)計(jì)算：………(4)式中：d——工件內(nèi)徑，單位為毫米(mm);D——工件外徑，單位為毫米(mm)。注：“十”表示外圓徑向檢測(cè)，內(nèi)孔凸柱面反射；“一”表示內(nèi)孔徑向探也可以使用帶有橫孔(橫孔長度應(yīng)大于-20dB聲束寬度)的參考試塊。式(5)可用于平底孔和橫孔的直徑轉(zhuǎn)換(僅適用于D?≥2λ、x≥5倍近場(chǎng)長度、單晶探頭):式中：…………D。——橫孔直徑，單位為毫米(mm);9GB/T37400.14—2019有下列兩種回波可能在鑄件檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)：——缺陷回波；——缺陷引起的底波衰減。以上兩種回波既可單獨(dú)出現(xiàn)，也可同時(shí)出現(xiàn)，均應(yīng)注意并分別予以評(píng)定?；夭ǜ叨纫云降卓桩?dāng)量直徑大小表示；底波衰減量是由底波高度的下降量以dB表示。達(dá)到或超過表3所規(guī)定的記錄限的缺陷回波均應(yīng)記錄。不論回波高度大小如何，下列回波也均應(yīng)予以記錄：—-—認(rèn)為對(duì)聲束反射不利的鑄造缺陷回波。所有探出應(yīng)記錄的缺陷部位均應(yīng)做出標(biāo)記，并應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中加以說明，可以草圖或照片的形式。表3超聲檢測(cè)記錄限壁厚區(qū)域非延伸性缺陷延伸性缺陷底波衰減量平底孔當(dāng)量直徑邊緣和中心區(qū)域43646688特殊邊緣區(qū)335.7缺陷分析所有應(yīng)記錄的缺陷均需進(jìn)行詳盡的分析?？梢酝ㄟ^增加其他超聲檢測(cè)方法(其他頻率、角度和尺寸的探頭)或其他無損檢測(cè)方法(如射線檢測(cè))輔助檢測(cè)。5.8缺陷尺寸測(cè)定超聲檢測(cè)，只有在特定條件(例如，已知缺陷類型、缺陷幾何形狀，聲束能以最佳的角度入射到缺陷等)下才有可能準(zhǔn)確測(cè)定缺陷尺寸。通常，鑄鋼件中的缺陷不能滿足這些條件。大的缺陷有時(shí)可能會(huì)看成許多小的應(yīng)記錄缺陷。通過改變掃查方向或探頭角度，有助于全面了解缺陷。根據(jù)缺陷實(shí)際尺寸與探頭在缺陷處的聲束直徑相比較，缺陷分為非延伸性缺陷和延伸性缺陷。聲束直徑可以從相應(yīng)的探頭說明書或聲波曲線圖中查出。聲束直徑(-6dB)與聲程的關(guān)系，對(duì)于最常用的探頭見圖1,或用式(6)得出。GB/T37400.14—2019MHz2MHz4MHz5MHz2MHz4MHz242MIz,T,8×954MHz,L,φ1062679100200300400S—5004835說明：圖1近場(chǎng)區(qū)長度和常用單晶片探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲束直徑(-6dB)與聲程關(guān)系的近似值Dp———聲束直徑(—6dB),單位為毫米(mm);S——聲程，單位為毫米(mm);D———晶片直徑，單位為毫米(mm);N近場(chǎng)區(qū)長度,單位為毫米(mm)。5.8.3平行于受檢面的缺陷尺寸的測(cè)定在確定缺陷尺寸時(shí)，應(yīng)盡可能選用近場(chǎng)區(qū)長度與缺陷聲程相近的探頭。移動(dòng)探頭，根據(jù)波幅降低程度，按以下方法測(cè)量缺陷尺寸：——達(dá)到表3規(guī)定記錄限的缺陷，應(yīng)以記錄限降低6dB測(cè)量；——5.6.6中所述的其他兩類缺陷，應(yīng)以最大回波高度降低6dB(半波高法)測(cè)量。在底波降低的情況下，應(yīng)以缺陷處的底波相對(duì)于完好部位底波下降6dB的方式測(cè)量。盡可能準(zhǔn)確地對(duì)這些探測(cè)點(diǎn)做出標(biāo)記(例如：直探頭的探頭中心，斜探頭的入射點(diǎn))。將各標(biāo)記點(diǎn)連成一條外形輪廓線即給出缺陷的尺寸。對(duì)于斜探頭，只要被檢工件的幾何外形允許，將缺陷的各邊沿點(diǎn)GB/T37400.14—2019利用距離投影原理將其投影到檢測(cè)面上。推薦采用在缺陷部位聲束直徑盡可能小的探頭(探頭的近場(chǎng)點(diǎn)或雙晶斜探頭的聚焦區(qū))?！捎弥碧筋^測(cè)量：從兩相對(duì)面采用垂直入射聲束測(cè)量(圖2);各自測(cè)得的聲程差而求得。圖2直探頭測(cè)量深度方向上的缺陷尺寸對(duì)于深度約為50mm左右或以內(nèi)的近表面缺陷，可采用以下方法測(cè)量其深度方向上的延伸尺寸：采用雙晶斜探頭，把被測(cè)缺陷深度方向的最大回波高度調(diào)至100%示波屏高度，通過探頭對(duì)缺陷的垂直移動(dòng)，找出回波高度下降至10%示波屏高度處，從聲程S?和S?以及折射角即可算出缺陷在深度方向上的延伸尺寸(見圖3)。圖3斜探頭測(cè)定垂直于受檢面的延伸性缺陷的延伸尺寸和回波動(dòng)態(tài)波形GB/T37400.14—2019回波高度回波高度8b)連在一起的缺陷d——沿壁厚方向上的缺陷尺寸，其值為(S?—S?)cosα,單位為毫米(mm);凡是達(dá)到或超過記錄限的缺陷，均應(yīng)按表4評(píng)定鑄件質(zhì)量等級(jí)。表4鑄件超聲檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)特性單位區(qū)域“質(zhì)量等級(jí)2234受檢區(qū)域內(nèi)的鑄件壁厚非延伸性缺陷d最大平底孔當(dāng)量直徑邊緣38中心表面中需記錄的缺陷個(gè)數(shù)個(gè)邊緣3356不作為驗(yàn)收依據(jù)中心不作為驗(yàn)收依據(jù)最大底波降低量—6延伸性缺陷最大平底孔當(dāng)量直徑邊緣38中心缺陷在壁厚方向上的最大延伸范圍%邊緣0區(qū)域厚度的15%中心GB/T37400.14—2019表4(續(xù))特性單位區(qū)域質(zhì)量等級(jí)234缺陷寬度≤6dB聲束直徑時(shí)缺陷最大長度mm邊緣0中心最大單個(gè)缺陷面積e,fmm2邊緣20002000200020002000中心2000020000每個(gè)評(píng)定框內(nèi)最大總面積mm2邊緣中心200002000020000評(píng)定框mm22MHz～2.5MHz時(shí)，非鑄件形狀或耦合不良引起的底波降低量6區(qū)域劃分：邊緣區(qū)=d/3,但最大30mm,中心區(qū)=剩余的其他區(qū)域，d=檢測(cè)部位的壁厚，見圖4。b質(zhì)量等級(jí)1級(jí)僅用于待焊區(qū)域和特殊邊緣區(qū)?！叭魺o其他要求，當(dāng)壁厚超過600mm時(shí)，記錄和允許極限為φ8mm平底孔當(dāng)量直徑，但信噪比至少為6dB。4發(fā)生爭(zhēng)議時(shí)，缺陷當(dāng)量和尺寸，應(yīng)以晶片直徑為24mm,2MHz的直探頭檢測(cè)結(jié)果為準(zhǔn)，或與其聲束特性相同的探頭。延伸性缺陷尺寸測(cè)量時(shí)，盡可能用缺陷處聲束直徑最小的探頭，如雙晶探頭的焦點(diǎn)，或探頭的近場(chǎng)。間距小于25mm的缺陷顯示應(yīng)當(dāng)作為一個(gè)缺陷評(píng)定。壁厚壁厚邊緣區(qū)中心區(qū)一邊緣區(qū)說明：壁厚方向區(qū)域劃分以鑄件最終尺寸為基準(zhǔn)。檢測(cè)報(bào)告至少包括下列內(nèi)容：GB/T37400.14—2019a)工件信息：4)表面狀況；6)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或等級(jí)。b)檢測(cè)范圍。d)檢測(cè)部位和檢測(cè)方法。e)靈敏度。g)檢測(cè)日期和檢測(cè)人員姓名。6鑄鋼件射線檢測(cè)6.1檢測(cè)前應(yīng)明確的內(nèi)容訂貨時(shí)需明確以下事宜：——檢測(cè)范圍；——是否要求書面檢驗(yàn)規(guī)程；——要求進(jìn)行的特殊檢測(cè)方法。6.2像質(zhì)級(jí)別射線照相像質(zhì)分為A級(jí)和B級(jí)。6.3設(shè)備與器材采用GB/T19348.1規(guī)定的工業(yè)射線照相膠片，選用金屬箔增感屏。A級(jí)或B級(jí)照相適用的膠片與增感屏組合按表5規(guī)定。GB/T37400.14—2019表5膠片等級(jí)與增感屏射線裝置透照厚度膠片等級(jí)金屬箔增感屏種類和厚度A級(jí)照相B級(jí)照相B級(jí)照相不使用，或使用厚度≤0.03mm的鉛箔增感前屏及后屏≤0.15mm,鉛前屏及后屏0.02mm～0.15mm,鉛前屏及后屏0.02mm～0.2mm,鉛前屏及后屏0.1mm～0.3mm,鉛前屏b0.02mm～0.3mm,鉛后屏鉛前屏鉛前屏0.02mm～0.2mm鉛后屏前屏及后屏°,0.25mm～0.7mm鋼或銅前屏及后屏C,0.25mm～0.7mm鋼或銅前屏：≤1mm,鋼、銅或鈦后屏：≤1mm銅、鋼，或≤0.5mm鈦前屏：≤1mm鈦，不用后屏前屏°:≤1mm鈦：后屏：≤0.5mm鈦可以使用更高級(jí)別的膠片。膠片前放置≤0.03mm鉛前屏?xí)r，可以在工件與膠片間放置0.1mm的鉛質(zhì)濾光板。A級(jí)照相時(shí)，可以使用0.5mm～2.0mm的鉛屏。dA級(jí)照相時(shí)，經(jīng)供需雙方協(xié)商，可以使用0.5mm～1.0mm的鉛屏。經(jīng)協(xié)商也可使用鎢屏。膠片灰霧度應(yīng)不超過0.3。應(yīng)從購進(jìn)的膠片中按批抽樣，采用與實(shí)際相同的暗室處理?xiàng)l件處理，然后進(jìn)行灰霧度測(cè)量。經(jīng)過測(cè)量的膠片若6個(gè)月內(nèi)沒有使用完，應(yīng)重新測(cè)量。GB/T37400.14—2019使用GB/T19803—2005以及GB/T23901.1—2019規(guī)定的一般選用R20的FE型像質(zhì)計(jì)。應(yīng)滿足GB/T19802的規(guī)定，或具有同等性能。觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。6.4.2.1如圖5～圖7所示，將含有應(yīng)識(shí)別鋼絲(見表6)在內(nèi)的像質(zhì)計(jì)置于工件源側(cè)表面，與工件一起應(yīng)為應(yīng)識(shí)別鋼絲線徑(見表6)的10倍以上，同時(shí)要在像質(zhì)計(jì)上放置標(biāo)記“F”且其影像應(yīng)出現(xiàn)在底片上。射線源工件膠片膠片側(cè)像質(zhì)讓源側(cè)像質(zhì)計(jì)射線源射線源膠片膠片側(cè)像質(zhì)計(jì)工件像質(zhì)計(jì)a)平板形工件b)筒形工件照相布置(源在內(nèi)單壁透照)射線源射線源圖6筒形工件照相布置(雙壁單影法)膠片圖7筒形工件照相布置(雙壁雙影法)表6應(yīng)識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小線徑透照厚度應(yīng)識(shí)別的最小線徑透照厚度應(yīng)識(shí)別的最小線徑A級(jí)B級(jí)A級(jí)B級(jí)GB/T37400.14—2019透照厚度應(yīng)識(shí)別的最小線徑透照厚度應(yīng)識(shí)別的最小線徑A級(jí)B級(jí)A級(jí)B級(jí)——6.4.2.2透照厚度變化較小時(shí)，在能代表透照厚度的部位放置1個(gè)像質(zhì)計(jì)。6.4.2.3透照厚度變化較大時(shí)，在能代表透照厚度較厚的部位和較薄的部位分別放置1個(gè)像質(zhì)計(jì)。6.4.2.4筒形工件按圖5進(jìn)行周向全景照相時(shí)，一般放置4個(gè)像質(zhì)計(jì)，分布在圓周的4等份位置。6.4.3照相布置射線源、像質(zhì)計(jì)、膠片間的相對(duì)位置見圖5～圖7。射線源至工件的最短距離(L?),由焦點(diǎn)尺寸f、工件源側(cè)表面至膠片的距離L?決定，應(yīng)滿足式(7)或式(8)的要求。式中：L?——射線源至工件的距離，單位為毫米(mm);f——焦點(diǎn)尺寸，單位為毫米(mm);L?——工件源側(cè)表面至膠片的距離，單位為毫米(mm)。L?——射線源至工件的距離，單位為毫米(mm);f——焦點(diǎn)尺寸，單位為毫米(mm);L?——工件源側(cè)表面至膠片的距離，單位為毫米(mm)。L?小于公稱厚度的1.2倍時(shí)，式(7)、式(8)及圖8中的L?值取公稱厚度值。射線源至工件的最短距離L?值可由圖8查出。上述幾何條件不能滿足時(shí)，若像質(zhì)要求能夠滿足，則可不受該最短距離L?值規(guī)定的限制。GB/T37400.14—2019源至工件表面距離I?(mm)B級(jí)30002000500200302000源至工件表面距離L?源至工件表面距離L?(mm)A級(jí)3003020-5圖8由工件表面至膠片的距離(L?)和射線源尺寸(f)決定源至工件表面最短距離(L?)的諾模圖照相時(shí)，檢測(cè)區(qū)表面應(yīng)放置標(biāo)記，其影像應(yīng)出現(xiàn)在照相底片上。照相底片應(yīng)與檢測(cè)區(qū)一一對(duì)應(yīng)。需要2張或2張以上膠片對(duì)工件進(jìn)行分割照相檢測(cè)時(shí)，膠片間應(yīng)有一定的重疊區(qū)，此時(shí)，在工件表6.4.6X射線管電壓及射線源的選擇最高允許X射線管電壓不應(yīng)超過圖9規(guī)定。此外，Y射線和1MeV以上X射線適用透照厚度范圍GB/T37400.14—2019見表7規(guī)定。如果表6的像質(zhì)要求能夠滿足，則可不受此限制。X射線笞也壓兒八X射線笞也壓兒八圖9500kV以下X射線裝置最高管電壓與透照厚度的關(guān)系圖表7Y射線和1MeV以上X射線適用透照厚度適用透照厚度A級(jí)檢驗(yàn)B級(jí)檢驗(yàn)mm～100mmmm～200mm60mm～150mmX射線1MeV～4MeVmm～200mm50mm～180mmX射線4MeV～12MeVX射線12MeV以上80mm以上X射線、Y射線與不同透照厚度對(duì)應(yīng)的膠片及增感屏組合由表5規(guī)定。但如果滿足表6的像質(zhì)要工件形狀復(fù)雜、厚度變化較大時(shí)，可以采用圖10所示的多層膠片法進(jìn)行照相。該方法是將2張或2張以上感光度相同或不同的膠片裝入同一暗盒進(jìn)行照相。GB/T37400.14—2019像質(zhì)計(jì)膠片圖10多張膠片照相法6.5底片質(zhì)量要求6.5.1應(yīng)識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小線徑射線底片上像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)識(shí)別表6規(guī)定的最小線徑。如底片黑度均勻部位能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則該絲認(rèn)為是可識(shí)別的。6.5.2底片黑度檢測(cè)區(qū)內(nèi)缺陷影像外的底片黑度應(yīng)在表8規(guī)定范圍內(nèi)。但若能達(dá)到6.5.1所規(guī)定的像質(zhì)要求，也可不受此限制。表8黑度范圍A級(jí)B級(jí)多張膠片照相法，單片觀察時(shí)底片黑度應(yīng)滿足表8要求；迭片觀察時(shí)單片黑度最低應(yīng)在0.8以上、迭片黑度最高應(yīng)在4.0以下。不應(yīng)產(chǎn)生妨礙缺陷評(píng)定的偽缺陷影像。6.6底片觀察根據(jù)底片黑度，按表9類別，使用6.3.5規(guī)定的觀片燈對(duì)底片進(jìn)行觀察。GB/T37400.14—2019表9觀片燈的適用范圍底片黑度觀片燈亮度cd/m2最大1.5最小1000最大2.5最小10000最大3.5最小30000最大4.5最小300000在暗室使用適合底片尺寸的遮光罩對(duì)底片進(jìn)行觀察。6.7散射線屏蔽降低散射線影響的方法如下：a)在X射線裝置窗口放置照射筒或準(zhǔn)直裝置，將射線束控制在檢測(cè)區(qū)所需的最小范圍內(nèi)。另b)周向全景曝光中無法使用限制射線束的裝置時(shí)，在盡可能在寬敞的透照室內(nèi)進(jìn)行照相。工件盡可能遠(yuǎn)離周圍物體，相距較近的物體應(yīng)覆蓋上鉛板。c)用鉛字“B”驗(yàn)證背散射的影響。鉛字“B”高10mm、最小厚度1.5mm,緊貼暗盒背面放置。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護(hù)符合要求。6.8缺陷影像質(zhì)量評(píng)級(jí)方法缺陷影像(以下簡(jiǎn)稱缺陷)的質(zhì)量評(píng)級(jí)按如下步驟進(jìn)行：a)按6.6規(guī)定觀察底片。b)確認(rèn)底片符合6.5的象質(zhì)要求。d)確認(rèn)被檢鑄件的公稱厚度值。e)評(píng)定視野由公稱厚度值決定，且取最小公稱厚度值。2)僅對(duì)影像的清晰部分進(jìn)行測(cè)量，虛影部分不計(jì)入；3)兩個(gè)或兩個(gè)以上缺陷在底片上重疊時(shí)，分別進(jìn)行測(cè)量。g)缺陷評(píng)級(jí)方法如下：1)氣孔類缺陷按6.8.2.1換算出缺陷點(diǎn)數(shù)，然后按表10評(píng)級(jí)；2)夾砂及夾渣類缺陷按6.8.2.1換算出缺陷點(diǎn)數(shù)，然后按表10評(píng)級(jí)；3)縮孔類缺陷，先按其影像形狀分為線狀縮孔或樹枝狀縮孔，線狀縮孔按6.8.2.2測(cè)量長度，然后再按表10評(píng)級(jí)；樹枝狀縮孔按6.8.2.2測(cè)量面積，然后按表10評(píng)級(jí)；4)氣孔、夾砂及夾渣、縮孔類缺陷評(píng)級(jí)時(shí)，表11和表12給出了不計(jì)入評(píng)定的最大缺陷尺寸。當(dāng)按表中“1級(jí)”對(duì)應(yīng)尺寸去除不計(jì)缺陷后評(píng)定結(jié)果為1級(jí)時(shí)即定為1級(jí)；按表中“1級(jí)”對(duì)GB/T37400.14—2019應(yīng)尺寸去除不計(jì)缺陷后評(píng)定結(jié)果為2級(jí)或2級(jí)以上、按表中“2級(jí)和2級(jí)以上”對(duì)應(yīng)尺寸去除不計(jì)缺陷后評(píng)定結(jié)果為1級(jí)時(shí)，則應(yīng)定為2級(jí)；評(píng)定結(jié)果為2級(jí)或以上時(shí)，其結(jié)果即為5)如果同時(shí)存在2種或以上缺陷，就應(yīng)當(dāng)分別評(píng)級(jí)。在有必要確定其綜合級(jí)別時(shí)，可取其中級(jí)別數(shù)較大(等級(jí)低)者為其綜合級(jí)別。在同一評(píng)定視野內(nèi)，最低等級(jí)包括2種以上缺陷時(shí)，綜合級(jí)別應(yīng)降低1級(jí)。但是，在各種缺陷都獨(dú)自為1級(jí)時(shí)，只有超過缺陷點(diǎn)數(shù)、缺陷長度或缺陷面積允許限度1/2的缺陷在2種以上時(shí)，綜合級(jí)別才定為2級(jí)。此外，按表11和表12中“2級(jí)和2級(jí)以上”對(duì)應(yīng)尺寸去除不計(jì)缺陷后評(píng)為1級(jí)、但按“1級(jí)”對(duì)應(yīng)尺寸去除不計(jì)缺陷后評(píng)為2級(jí)時(shí)，如果還有混合存在的缺陷定為2級(jí)，則綜合級(jí)別應(yīng)降低到3級(jí)。表10射線檢測(cè)缺陷影像的最大允許值公稱厚度質(zhì)量等級(jí)12345氣孔b346946968夾雜(夾砂、夾渣)b346946968線狀縮孔缺陷位于評(píng)定框邊界時(shí)，框外部分應(yīng)計(jì)算。不應(yīng)有裂紋、內(nèi)冷鐵未完全熔合和泥芯撐未完全熔合性質(zhì)的缺陷。氣孔、夾砂和夾渣類缺陷以點(diǎn)數(shù)計(jì)?！熬€狀縮孔以毫米為單位計(jì)。d樹枝狀縮孔以平方毫米為單位計(jì)。GB/T37400.14—2019表11不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷的最大尺寸單位為毫米評(píng)定級(jí)別公稱厚度>80～1201級(jí)2級(jí)和以上表12不評(píng)定缺陷的最大長度或面積評(píng)定級(jí)別公稱厚度>10～20>20～40>40～80>80～1201級(jí)線狀樹枝2級(jí)和以上線狀樹枝90mm2換算氣孔、夾砂及夾渣類缺陷點(diǎn)數(shù)時(shí)，應(yīng)將表13規(guī)定的評(píng)定框置于檢測(cè)區(qū)內(nèi)缺陷點(diǎn)數(shù)最多的區(qū)域。單個(gè)缺陷，根據(jù)其尺寸按表14換算其點(diǎn)數(shù)。表11規(guī)定了不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷尺寸，在測(cè)量缺陷尺寸以確定是否計(jì)入其點(diǎn)數(shù)時(shí)，僅測(cè)量缺陷影像黑度較高區(qū)域的尺寸，不包括周圍的虛影部分。評(píng)級(jí)時(shí)，只計(jì)算評(píng)定框內(nèi)缺陷的總點(diǎn)數(shù)，但如果評(píng)定框外的缺陷正好位于評(píng)定框的邊界上，則該缺陷的點(diǎn)數(shù)應(yīng)計(jì)入總點(diǎn)數(shù)中。表13氣孔、夾砂夾渣類缺陷評(píng)定框要求單位為毫米>10～20>20～40>40～80>80～120評(píng)定框直徑表14缺陷尺寸與點(diǎn)數(shù)缺陷尺寸>2.0~>4.0~>6.0~>8.0~>10.0~>15.0~>20.0~>25.0~12358GB/T37400.14—2019評(píng)定框應(yīng)置于檢測(cè)區(qū)內(nèi)縮孔長度或面積最大的區(qū)域。2個(gè)以上縮孔密集分布時(shí)，評(píng)定框內(nèi)應(yīng)盡可能多地包括最長的和面積最大的缺陷。當(dāng)大缺陷的尺寸超過評(píng)定框的直徑時(shí)，最大缺陷置于評(píng)定框的中心位置。評(píng)定框的尺寸見表15規(guī)定。不評(píng)定缺陷的最大長度或面積見表12規(guī)定。線狀縮孔的長度，取連續(xù)狀態(tài)的缺陷的最大長度。2個(gè)以上的縮孔，取各自長度的總和為該組線狀縮孔的總長度。如果評(píng)定框外的缺陷正好位于評(píng)樹枝狀縮孔的面積，應(yīng)取連續(xù)狀態(tài)缺陷的最大長度與垂直方向上最大寬度的乘積。如果評(píng)定框外表15縮孔類缺陷評(píng)定框要求單位為毫米公稱厚度根據(jù)氣孔缺陷的點(diǎn)數(shù)，按表10評(píng)級(jí)。此外，不應(yīng)存在單個(gè)氣孔尺寸超過1/2公稱厚度或15mm的情況。根據(jù)夾砂或夾渣缺陷的點(diǎn)數(shù)，按表10評(píng)級(jí)。此外，不應(yīng)存在單個(gè)夾砂或夾渣的尺寸超過公稱厚度值或30mm的情況。線狀縮孔和樹枝狀縮孔按表10評(píng)級(jí)。不應(yīng)存在裂紋類缺陷。6.9檢測(cè)報(bào)告檢測(cè)報(bào)告中應(yīng)記錄以下事項(xiàng)：a)檢測(cè)實(shí)施部門；b)產(chǎn)品名稱；c)照相日期；d)底片編號(hào)；h)照相設(shè)備；i)射線源尺寸；j)管電壓或γ源類別；GB/T37400.14—2019k)管電流或γ源活度；m)膠片等級(jí)；n)增感屏；p)源至膠片距離；r)檢測(cè)部位及相關(guān)事項(xiàng)；s)檢測(cè)人員資格及簽名；t)其他事項(xiàng)。7鑄鋼件滲透檢測(cè)——檢測(cè)范圍；——鑄件各區(qū)域的質(zhì)量等級(jí)； ——要求進(jìn)行的特殊檢測(cè)方法。滲透檢測(cè)前，檢測(cè)面應(yīng)進(jìn)行預(yù)處理(見7.5.1)。然后的放大缺陷顯示。GB/T37400.14—2019擦洗允許干燥水洗水洗多余滲透劑去除效果檢查施加水溶性顯像劑干燥顯像時(shí)間觀察后清洗若有要求，則做防護(hù)水噴洗時(shí)間透時(shí)間劑和允許的乳化施加水洗型滲透劑和允許的滲透時(shí)問水和溶劑水洗施加干粉顯像劑干燥7.4檢測(cè)材料及靈敏度滲透檢測(cè)有各種不同的檢測(cè)系統(tǒng)。根據(jù)滲透劑的種類、滲透劑的去除和顯像劑的種類不同，滲透檢測(cè)方法按表16進(jìn)行分類。GB/T37400.14—2019表16滲透檢測(cè)方法分類滲透劑滲透劑的去除顯像劑分類名稱方法名稱分類名稱熒光滲透檢測(cè)著色滲透檢測(cè)熒光、著色滲透檢測(cè)AD水洗型滲透檢測(cè)親油性后乳化滲透檢測(cè)溶劑去除型滲透檢測(cè)親水型后乳化滲透檢測(cè)ce干粉顯像劑水溶解顯像劑水懸浮顯像劑溶劑懸浮顯像劑自顯像一族材料的靈敏度等級(jí)，應(yīng)用1型參考試塊(GB/T18851.3—2008)進(jìn)行測(cè)定。等級(jí)評(píng)定應(yīng)按材料型式試驗(yàn)方法進(jìn)行。要能檢出更小的缺陷，所用材料的靈敏度就應(yīng)越高。根據(jù)表17中要求的質(zhì)量等級(jí)，質(zhì)量等級(jí)01和1級(jí)(見7.6.2),應(yīng)使用符合GB/T18851.2的高靈敏度滲透檢測(cè)材料。7.4.4其他要求檢測(cè)時(shí)，若某一制造商的滲透材料不夠用，不應(yīng)用其他制造商的材料補(bǔ)充或代用。特定情況下使用的滲透檢測(cè)材料，應(yīng)按GB/T18851.2需要滿足特殊要求，如可燃性、硫、鹵素、鈉和其他污染物含量。7.5檢測(cè)工藝缺陷。清理面積至少為檢測(cè)部位四周向外擴(kuò)展25mm。根據(jù)鑄件要求的不同質(zhì)量等級(jí)，各質(zhì)量等級(jí)要求的表面粗糙度見表17。受檢表面應(yīng)徹底干燥，以免缺陷中殘留有水或溶劑。在整個(gè)滲透時(shí)間內(nèi)，應(yīng)一直保持滲透劑完全濕潤檢測(cè)表面。檢測(cè)面溫度應(yīng)保持在10℃~50℃范圍內(nèi)。特殊情況下，溫度不低于5℃時(shí)也可以使用。溫度低于10℃或高于50℃時(shí)，應(yīng)按GB/T18851.6或GB/T18851.5的規(guī)定，對(duì)滲透材料族和檢測(cè)工藝進(jìn)行驗(yàn)證，滿足要求后才能使用。滲透時(shí)間取決于滲透劑性能、檢測(cè)溫度、受檢零件的材料和受檢缺陷特性。滲透時(shí)間可在5min～60min范圍內(nèi)。滲透時(shí)間應(yīng)不少于靈敏度測(cè)定所用時(shí)間，或不少于滲透劑GB/T37400.14—2019制造廠商推薦的時(shí)間。任何情況下，在滲透時(shí)間內(nèi)滲透劑不能變干。用水去除多余滲透劑時(shí)，可噴水沖洗或用濕布擦。沖洗時(shí)要盡量減小機(jī)械作用的影響。水溫不應(yīng)超過50℃。用溶劑去除多余滲透劑時(shí)，首先應(yīng)使用干凈不起毛的布擦去多余滲透劑，然后再用干凈不起毛的布，蘸少許溶劑進(jìn)行擦洗。不應(yīng)將溶劑直接噴到受檢表面上進(jìn)行清洗。應(yīng)使用浸泡或起泡設(shè)備施加乳化劑。乳化濃度和接觸時(shí)間，應(yīng)由使用者根據(jù)制造商說明書通過預(yù)先試驗(yàn)來確定。乳化劑接觸時(shí)間不應(yīng)超過預(yù)試驗(yàn)確定的時(shí)間。乳化后，應(yīng)進(jìn)行最后水洗。采用浸沒法施加乳化劑，接觸時(shí)間應(yīng)由使用者根據(jù)制造商說明書或通過預(yù)先試驗(yàn)來確定。應(yīng)首先使用水除去多余的水洗型滲透劑。隨后用干凈的不起毛的布，蘸少許溶劑進(jìn)行清洗。去除多余滲透劑時(shí)，應(yīng)目視檢查檢測(cè)表面的滲透劑殘留狀況，工件上不應(yīng)出現(xiàn)過度背景。熒光滲透劑，應(yīng)在UV-A光源下檢查。檢測(cè)面上UV-A的最低輻照強(qiáng)度不應(yīng)小于3W/m2(300μW/cm2)。除水基顯像劑外，去除多余滲透劑后，應(yīng)盡快采用下述方法之一干燥檢測(cè)面：b)在環(huán)境溫度下蒸發(fā)；c)升高溫度蒸發(fā)；d)強(qiáng)制空氣循環(huán)；e)a)～d)方法的組合。干燥時(shí)，表面溫度不應(yīng)超過50℃。顯像劑施加應(yīng)在去除多余滲透劑后盡快進(jìn)行。使用時(shí)顯像劑應(yīng)攪拌均勻，檢測(cè)面上顯像劑厚度要均勻。干粉顯像劑只可與熒光滲透劑一起使用。顯像劑應(yīng)采用下述方法之一均勻地施加到檢測(cè)面上：GB/T37400.14—2019——噴粉；——流化床或噴粉艙。應(yīng)在檢測(cè)表面上形成薄薄的涂層，不應(yīng)有局部堆積。使用浸沒在攪動(dòng)的懸浮液中或使用適當(dāng)?shù)难b置噴灑，使其在工件表面覆蓋一層薄而均勻的顯像劑。顯像劑的浸沒時(shí)間和溫度，應(yīng)由使用者根據(jù)制造商說明書或通過預(yù)先試驗(yàn)來確定。只要能確保得到最檢測(cè)工件可通過蒸發(fā)或空氣循環(huán)烘箱干燥。7.5.4.5特殊用途的水基或溶劑型顯像劑(如可剝離顯像劑)——施加相同的滲透劑，然后從預(yù)清洗到施加顯像劑，嚴(yán)格按原來的工藝方法操作；——去除多余滲透劑和工件干燥后，按制造商推薦的方法施加可剝離顯像劑；——等推薦的顯像時(shí)間過去后，小心剝下顯像劑薄膜。在與工件直接接觸的薄膜表面就會(huì)呈現(xiàn)出顯像時(shí)間宜在10min～30min之間。顯像開始時(shí)間要求：—-—干顯像劑施加后立即進(jìn)行；——濕顯像劑完成干燥后立刻進(jìn)行。初次觀察宜在施加顯像劑后或在顯像劑干燥后立即進(jìn)行。最終觀察應(yīng)在剛過顯像時(shí)間后立即進(jìn)行。觀察時(shí)可使用反差眼鏡或2倍～10倍放大鏡協(xié)助觀察。不應(yīng)佩戴光敏眼鏡。進(jìn)入暗室的操作人員，眼睛應(yīng)有足夠的黑暗適應(yīng)時(shí)間，一般至少5min。UV輻射不應(yīng)直接照射操作者眼睛。操作者要觀察的所有表面，不應(yīng)發(fā)熒光。操作者視野內(nèi)不應(yīng)有在UV光下發(fā)熒光的紙或布。檢測(cè)表面應(yīng)在UV-A光源下觀察，光源應(yīng)符合GB/T5097的要求。檢測(cè)表面的UV-A輻射強(qiáng)度不應(yīng)小于10W/m2(1000μW/cm2),可見光照度不應(yīng)大于201x。GB/T37400.14—2019應(yīng)在自然光或白光燈下檢測(cè)，檢測(cè)面的白光照度不小于5001x。觀察現(xiàn)場(chǎng)避免陰影和反光。7.5.6后處理和防護(hù)完成檢測(cè)后，只有滲透檢測(cè)材料可能影響后續(xù)工序或使用功能時(shí)，才對(duì)工件進(jìn)行后處理。7.6顯示的評(píng)定與質(zhì)量等級(jí)顯示尺寸的最終評(píng)定應(yīng)在規(guī)定的最短顯像時(shí)間之后，缺陷顯示衰退之前的時(shí)間段內(nèi)進(jìn)行。顯示分為以下3種：——偽顯示：由于滲透劑污染及檢測(cè)環(huán)境等所引起的滲透劑顯示。僅對(duì)相關(guān)顯示進(jìn)行評(píng)定。鑄件滲透檢測(cè)質(zhì)量等級(jí)見表17。表17滲透檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)(評(píng)定框尺寸150mm×105mm)質(zhì)量等級(jí)表面粗糙大值應(yīng)記錄的最小缺陷顯示的直徑或長度mm非線性缺陷顯示(成排缺陷顯示除外)線性缺陷顯示或成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示缺陷顯示個(gè)數(shù)缺陷顯示的長度mm受檢部位的鑄件厚度>16mm～50mm最大允許長度/mm11111221832436522864663364555質(zhì)量等級(jí)01僅用于承受高負(fù)荷的小鑄件和機(jī)械加工面。在缺陷評(píng)定框內(nèi)，同時(shí)存在線性顯示和非線性顯示時(shí)，尺寸應(yīng)滿足各自要求，缺陷個(gè)數(shù)為兩者之和。GB/T37400.14—2019檢測(cè)報(bào)告應(yīng)至少包括以下內(nèi)容：a)檢測(cè)工件信息：4)表面狀況；6)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或等級(jí)。c)檢測(cè)方法。d)檢測(cè)結(jié)果(發(fā)現(xiàn)缺陷的描述和位置)。e)檢測(cè)日期和操作者姓名。8鑄鋼件磁粉檢測(cè)訂貨時(shí)需明確以下事項(xiàng)：——鑄件各區(qū)域的質(zhì)量等級(jí)；——是否要求書面檢驗(yàn)規(guī)程；——退磁及其要求。磁粉檢測(cè)基本步驟有：——磁化被檢區(qū)域；各質(zhì)量等級(jí)要求的鑄件表面粗糙度Ra的最大值見表19。當(dāng)使用非熒光磁粉時(shí)，磁粉的顏色應(yīng)與被檢表面的底色有足夠的反差。也可通過采用彩色磁粉或在被檢表面涂反差劑來達(dá)到。GB/T37400.14—20198.5設(shè)備和器材磁粉檢測(cè)設(shè)備應(yīng)符合GB/T15822.3的規(guī)定。當(dāng)使用便攜式電磁軛時(shí)，在磁軛最大間距情況下，交流電磁軛至少應(yīng)有4.5kg的提升力，直流(包括整流電)電磁軛或永久性磁軛至少應(yīng)有18kg的提升力，交叉磁軛(旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng))至少應(yīng)有11.8kg的提升力(磁極與試件表面間隙為小于或等于0.5mm)。磁介質(zhì)性能應(yīng)符合GB/T15822.2的要求。檢測(cè)介質(zhì)可以用干粉，也可以用磁懸液?？梢允菬晒猓部梢允欠菬晒?。磁粉應(yīng)具有高磁導(dǎo)率、低矯頑力和低剩磁，非熒光磁粉應(yīng)與被檢工件表面顏色有較高的對(duì)比度。當(dāng)選擇質(zhì)量等級(jí)01級(jí)時(shí)(見8.13.2),宜采用熒光的磁懸液。磁懸液濃度應(yīng)根據(jù)磁粉種類、粒度、施加方法和被檢懸液濃度范圍應(yīng)符合表18的規(guī)定。測(cè)定前應(yīng)對(duì)磁懸液進(jìn)行充分的攪拌。表18磁懸液濃度磁粉類型配制濃度沉淀濃度(含固體量)mL/100mL非熒光磁粉熒光磁粉0.5～3.00.1～0.4干粉通常用于交流和半波整流的磁化電流或磁軛進(jìn)行連續(xù)法檢測(cè)，通電時(shí)間至少0.5s。當(dāng)零件被磁化時(shí)，磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具均勻地撒在工件被檢面上。磁粉不應(yīng)施加磁痕。濕法主要用于連續(xù)法和剩磁法檢測(cè)。采用濕法時(shí)，應(yīng)確保整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液潤濕。采用濕法時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)進(jìn)行水?dāng)嘣囼?yàn)，驗(yàn)證磁懸液在工件表面的潤濕性。將磁懸液施加于被檢表面，若磁懸液液膜在工件表面均勻連續(xù)而沒有斷開時(shí)，即表明潤濕性良好。8.5.3試片(塊)常用試片(塊)見附錄D。8.6磁化方法磁化方法通常有(見GB/T15822.1):GB/T37400.14—2019——通磁磁化(穿棒法、通電導(dǎo)體感應(yīng)磁化、便攜式電磁軛、固定式磁設(shè)備、剛性線圈以及柔性磁粉檢測(cè)常用的電流類型有：交流、整流電流(全波整流、半波整流)和直流。示及換算關(guān)系符合GB/T15822.1的規(guī)定。通常情況下，對(duì)于表面缺陷，交流電的檢測(cè)靈敏度最高。若需發(fā)現(xiàn)近表面缺陷，應(yīng)使用直流或整流電。時(shí)間。缺陷的可檢測(cè)性取決于其主軸與磁場(chǎng)方向的夾角α。圖12對(duì)此進(jìn)行了說明。圖12可檢出缺陷的方向被檢部位應(yīng)在接近相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行磁化，角度最大偏差不超過30°。這也可通過一種或使用磁軛或觸頭檢測(cè)時(shí)，其有效區(qū)范圍見圖13陰影區(qū)域。GB/T37400.14—2019d/2--—磁軛電極；圖13磁極檢測(cè)有效區(qū)每次檢測(cè)應(yīng)有足夠重疊區(qū)。使用磁軛或觸頭局部檢測(cè)時(shí)典型的磁化方式見圖14。a)交叉磁軛(旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng))可不考慮重疊區(qū)，但應(yīng)注意有效檢測(cè)區(qū)范圍。8.9磁化驗(yàn)證對(duì)大多數(shù)鐵磁性材料，切向磁場(chǎng)強(qiáng)度宜為2kA/m～6kA/m(有效值)。磁場(chǎng)強(qiáng)度應(yīng)采用下列方法之一進(jìn)行驗(yàn)證：a)用有細(xì)小自然缺陷或人工缺陷的試片(塊)對(duì)磁化效果最差的部位進(jìn)行測(cè)試。b)使用霍爾效應(yīng)元件盡可能靠近檢測(cè)表面測(cè)量切向磁場(chǎng)強(qiáng)度。注：在靠近零件形狀突變部位或者磁力線離開零件表面的地方，很難準(zhǔn)確測(cè)量切向磁場(chǎng)強(qiáng)度。c)通過計(jì)算磁化電流近似值來達(dá)到所推薦的切向磁場(chǎng)強(qiáng)度。對(duì)于不同的磁化方法，電流值的選GB/T37400.14—2019d)基于已知原理的其他方法。注：緊貼受檢表面放置的磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)可以給出切向磁場(chǎng)大小和方向，但并不能證明磁場(chǎng)強(qiáng)度就滿足要求。8.10磁粉檢測(cè)操作用連續(xù)法時(shí)，磁化電流應(yīng)在施加磁懸液之前接通，然后一邊施加磁懸液一邊磁化，使被檢面被磁懸液覆蓋，且至少反復(fù)磁化2次，磁化時(shí)間為1s~3s。停施磁懸液后，應(yīng)繼續(xù)磁化1s以上。施加磁懸液時(shí)應(yīng)注意流動(dòng)的磁懸液不應(yīng)破壞已形成的磁痕。每次檢測(cè)前應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)靈敏度綜合測(cè)試。最可靠的方式是使用有已知缺陷種類、位置、尺寸和分布的自然缺陷試樣進(jìn)行測(cè)試。如果沒有，可以使用人工缺陷試塊或試片。使用人工缺陷試塊或試片時(shí)，一般應(yīng)選用代表深度為A1-30/100的人工槽試片。但當(dāng)選擇質(zhì)量等級(jí)01級(jí)(見8.13.2)時(shí)，應(yīng)選用表深度為A1-15/100的人工槽試片。若在預(yù)定方向出現(xiàn)清晰的磁痕顯試樣(試塊或試片)不能有剩磁和以前殘留的磁痕顯示。剩磁法主要用于材料矯頑力大于或等于1kA/m,且磁化后其保持的剩磁場(chǎng)大于或等于0.8T的材料檢測(cè)。這種情況下，磁粉應(yīng)在磁化后施加的，一般通電時(shí)間為0.25s~1s。施加磁粉之前，任何鐵磁性物體不應(yīng)接觸被檢工件表面。8.11.1觀察條件應(yīng)滿足GB/T5097的要求。8.11.2非熒光磁粉檢測(cè)缺陷磁痕的評(píng)定應(yīng)在可見光下進(jìn)行，一般工件表面可見光照度應(yīng)大于或等于10001x;現(xiàn)場(chǎng)采用便攜式設(shè)備檢測(cè)，受條件限制無法滿足時(shí)，可見光照度可以適當(dāng)降低，但不應(yīng)低于5001x。8.11.3熒光磁粉檢測(cè)按以下要求：——不可戴光敏眼鏡；——UV輻射不應(yīng)直接照射操作者眼睛。操作者要觀察的所有表面，不應(yīng)發(fā)熒光；——操作者視野內(nèi)不應(yīng)有在UV光下發(fā)熒光的紙或布；——如有必要，檢測(cè)室可安裝UV-A背景燈，以便操作者能自由移動(dòng)；-—檢測(cè)表面應(yīng)在UV-A光源下觀察，光源應(yīng)符合GB/T5097標(biāo)準(zhǔn)要求。檢測(cè)表面的UV-A輻射強(qiáng)度不應(yīng)小于10W/m2,可見光照度不應(yīng)大于201x。8.11.4辨認(rèn)細(xì)小磁痕，可用2倍～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。8.12退磁GB/T37400.14—20198.13顯示的評(píng)定與質(zhì)量等級(jí)顯示分為以下3種：——相關(guān)顯示：磁粉檢測(cè)時(shí)由缺陷產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)吸附磁粉而產(chǎn)生的磁痕顯示，一般也稱為缺陷———非相關(guān)顯示：磁粉檢測(cè)時(shí)由截面變化或材料磁導(dǎo)率改變等產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)吸附磁粉的磁痕顯示；——偽顯示：不是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。僅對(duì)相關(guān)顯示進(jìn)行評(píng)定。鑄件磁粉檢測(cè)質(zhì)量等級(jí)見表19。表19磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)(評(píng)定框尺寸150mm×105mm)質(zhì)量等級(jí)表面粗糙最大值應(yīng)記錄的最小缺陷顯示的直徑或長度非線性缺陷顯示(成排缺陷顯示除外)線性缺陷顯示或成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示單個(gè)線性或成排缺陷顯示全部線性和成排缺陷顯示總面積mm2單個(gè)缺陷顯示的長度受檢部位的鑄件厚度最大允許長度b/mm01”11111221224365224466336694—555注：表中所列尺寸是指磁痕的顯示尺寸，而不是缺陷的實(shí)際尺寸。質(zhì)量等級(jí)01僅用于承受高負(fù)荷的小鑄件和機(jī)械加工面。b在評(píng)定框內(nèi)最多可以有兩個(gè)都達(dá)到最大允許長度的缺陷顯示。8.14檢測(cè)報(bào)告檢測(cè)報(bào)告至少包括以下內(nèi)容：a)檢測(cè)工件信息：2)被檢部位；3)材料；4)表面狀況；5)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。GB/T37400.14—2019b)檢測(cè)時(shí)機(jī)和范圍。e)檢測(cè)結(jié)果(發(fā)現(xiàn)缺陷的描述和位置)。f)檢測(cè)日期和操作者姓名。GB/T37400.14—2019(規(guī)范性附錄)補(bǔ)焊區(qū)的檢測(cè)A.1檢測(cè)時(shí)機(jī)補(bǔ)焊區(qū)的驗(yàn)收檢測(cè)應(yīng)在鑄件消除應(yīng)力處理之后進(jìn)行。按基材檢測(cè)方法，根據(jù)第7章和第8章進(jìn)行滲透或磁粉檢測(cè)。驗(yàn)收要求，除滿足基材要求外，不應(yīng)有裂紋及未融合性質(zhì)的缺陷。按基材檢測(cè)方法，應(yīng)根據(jù)第6章進(jìn)行射線檢測(cè)。驗(yàn)收要求，除滿足基材要求外，不應(yīng)有裂紋及未融合性質(zhì)的缺陷。A.4超聲檢測(cè)應(yīng)先按第5章基材檢測(cè)的方法進(jìn)行超聲檢測(cè)，另外還應(yīng)按A.4.2和A.4.3進(jìn)行額外檢測(cè)。驗(yàn)收要求除滿足基材要求外，不應(yīng)有裂紋及未融合性質(zhì)的缺陷。a側(cè)視圖俯視圖圖A.1補(bǔ)焊區(qū)檢測(cè)范圍及掃查示意圖A.4.3掃查面及探頭掃查面見圖A.1側(cè)視圖，斜探頭掃查方向見圖A.1的俯視圖。探頭要求應(yīng)符合5.3.2的規(guī)定，并根據(jù)補(bǔ)焊深度d,按表A.1選擇合適的探頭。GB/T37400.14—2019探頭選用檢測(cè)靈敏度設(shè)置60°~70°雙晶斜探頭十雙晶直探頭見5.6.445°斜探頭十雙晶直探頭45°斜探頭十雙晶直探頭十單晶直探頭也可采用平底孔以外的其他參考反射體制作DAC曲線。若不能換算成平底孔當(dāng)量，則記錄要求41GB/T37400.14—2019(資料性附錄)傳輸修正及衰減系數(shù)B.1傳輸修正分別在試塊以及被檢工件(上、下底面平行)上完好部位找出一次底波，調(diào)節(jié)儀器，使一次底波達(dá)到同樣的滿屏高。分別記錄此時(shí)的dB值V?和V?以及對(duì)應(yīng)的聲程S?和S2。使用兩個(gè)相同的斜探頭，一個(gè)作為發(fā)射探頭，一個(gè)作為接收探頭，分別在試塊以及被檢工件(上、下底面平行)上找出一倍跨距的反射回波，調(diào)節(jié)儀器，使回波幅度達(dá)到同樣的滿屏高。記錄此時(shí)的dB值V?和V?以及對(duì)應(yīng)的聲程S?和S?。B.1.3傳輸修正計(jì)算傳輸修正可用式計(jì)算按式(B.1):△V?=V?-V?—△Vg…………(B.1)式中：V?—--—對(duì)應(yīng)聲程為S?時(shí)儀器的讀數(shù)，單位為分貝(dB);V?——對(duì)應(yīng)聲程為S?時(shí)儀器的讀數(shù)，單位為分貝(dB);△V?——不同聲程大平底反射的回波dB差，可以通過DGS曲線查出，當(dāng)S大于或等于三倍近場(chǎng)S?——聲程，單位為毫米(mm);B.2衰減系數(shù)同聲程底波，調(diào)節(jié)儀器，使底波達(dá)到同樣的屏高。分別記錄此時(shí)聲程S?、S?對(duì)應(yīng)的dB值V?和V?。B.2.2.1在受檢工件上，找兩處厚度不同部位，兩部位的聲束反射面應(yīng)足夠大(至少大于-20dB聲束寬度),將探頭對(duì)準(zhǔn)尖角處，移動(dòng)探頭找出其最大反射波幅，分別記下最大波幅時(shí)兩端角處聲程S?、S?對(duì)應(yīng)的dB值V?和V?。B.2.2.2或采用一收一發(fā)兩個(gè)同樣的探頭，在受檢工件上，獲得兩個(gè)不同聲程Sí、S2的反射波