JB4730—94壓力容器無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

1、中國(guó)石油化工總公司附錄A搭接標(biāo)記的安放位置（補(bǔ)充件）鋼熔化焊對(duì)接焊縫射線透照搭接標(biāo)記的安放位置如下：圖（A15） 附錄B焦點(diǎn)尺寸的計(jì)算（補(bǔ)充件）如焦點(diǎn)的形狀為矩形、正方形、圓形或橢圓形時(shí).，則在計(jì)算焦點(diǎn)至工件 距離f時(shí)可用下列有關(guān)公式計(jì)算焦點(diǎn)尺d=a (B-1)d= (a+b) /2 (B-2)d二小(B-3)其中，公式(B-1)適用于方形焦點(diǎn)，公式（B-2）適用于長(zhǎng)方形焦點(diǎn)及橢圓形焦點(diǎn)，公式（B-3）適用于圓形焦 點(diǎn)。橢圓形圓形正方形長(zhǎng)方形圖B-1理想焦點(diǎn)圖形附錄C對(duì)接焊縫透照厚度（補(bǔ)充件）透照厚度應(yīng)按圖C-1所示部位實(shí)測(cè)值確定，如實(shí)測(cè)有困難時(shí),可按表 C-1確定。X射線X射線X射線X射線X

2、射線X射線X射線X射線X射線射線源在試件外部時(shí) 雙壁單投影時(shí) 射線源在試件內(nèi)部時(shí)雙壁雙投影時(shí)圖CT各種焊接接頭的母材厚度和透照厚度表CT各種焊接接頭的母材厚度 和透照厚度mm透照厚度 透照方式 母材厚度 焊縫余高鈦鋼、鋁單層透照T T T T無(wú)單面雙面單面（有墊板）TT十1T十2T十1十T' TT十2T十4T十2十T'雙層透照T T T T無(wú)單面雙面單面（有墊板）T X2TX2十1TX2十2T X2十1十T' T X 2 TX2 十 2T X2 十 4T X2 十 2 十 T'注:公稱厚度取母材厚度，對(duì)接接頭的母材厚度不同時(shí),取薄的厚度值，表中T ' 為

3、墊板厚度。附錄D可擴(kuò)大評(píng)定區(qū)的處理辦法（補(bǔ)充件）D1當(dāng)評(píng)定區(qū)缺陷點(diǎn)數(shù)超過(guò)規(guī)定的級(jí)別，但不超過(guò)圖D-1中規(guī)定的上 限值，附近的缺陷點(diǎn)數(shù)乂較少時(shí),可將評(píng)定區(qū)沿焊縫方向擴(kuò)大三倍,求出缺陷的總點(diǎn)數(shù),取其1/3 進(jìn)行評(píng)定。D2當(dāng)缺陷點(diǎn)數(shù)超過(guò)圖D-1中的上限值時(shí)，則不能用此方法進(jìn)行評(píng)定。缺陷點(diǎn)數(shù)的上限值(取整數(shù))母材厚度,nun陷點(diǎn)數(shù)圖D-1可擴(kuò)大評(píng)定區(qū)的缺陷點(diǎn)數(shù)上限值附錄E透照厚度及底片有效檢出范圍的計(jì)算方法(補(bǔ)充件)E1外徑小于或等于76mm的鋼管焊縫，采用雙壁雙投影法一次成象透 照時(shí),透照厚度T A 應(yīng)按下列公式計(jì)算。El. 1 T A計(jì)算式：T A =0.8 (D-T) T ) 12 +T (E-

4、1)式中:D-鋼管外徑,mm; T-鋼管壁厚,mm。E1.2等效T A計(jì)算式:T A =2T ( 1 十 d/D) (E-2)式中:T-鋼管壁厚,mm; d-鋼管內(nèi)徑,mm; D-鋼管外徑,mm。E2采用雙壁雙投影一次成象透照時(shí)，其檢出范圍必須保證在90%以上，并應(yīng)按下 式計(jì)算：L= ( L 1 4 L 2 )/ L 1 ) 100%(E-3)式中:L-檢出范圍，機(jī)L 1 -外壁周長(zhǎng),mm;L 2 -底片上不見(jiàn)鋼絲區(qū)域的長(zhǎng)度,mm °附錄F專用象質(zhì)計(jì)和未焊透深度對(duì)比塊的型式和規(guī)格(補(bǔ)充件)Fl I型專用象質(zhì)計(jì)F1.1外徑大于76mm且小于或等于89mm的鋼管焊縫,采用雙壁單投影法分段

5、 透照,應(yīng)選用I型專用象質(zhì)計(jì)。F1.2 I型專用象質(zhì)計(jì)由5根直徑相同的鋼絲和鉛字符號(hào)組成，其制作要求應(yīng) 符合GB5618的規(guī)定，其型式、線編號(hào)見(jiàn)圖F-l oF2未焊透對(duì)比塊F2.1未焊透對(duì)比塊的形式和規(guī)格應(yīng)符合圖F-2和表F-1的規(guī)定。F2.2專用對(duì)比塊應(yīng)與被檢工件材料相同。F3溝槽對(duì)比塊F3.1溝槽對(duì)比塊的形式和規(guī)格應(yīng)符合圖F-3和表F-2的規(guī)定。F3.2溝槽對(duì)比塊應(yīng)與被檢工件材料相同。圖F-l I型專用象質(zhì)計(jì)L?5mm S?5mm圖F-2專用對(duì)比塊表 F-l mm管壁厚T第一階厚度T1偏差第二階厚度T2偏差笫三階厚度T3偏差3. 5 1 0. 65 0. 5 4 1 0. 6 0. 4 5

6、 1 0. 5 0. 25 6 1 0 0. 06 0. 4 +0. 02 5 0 0. 1 +0. 0250圖F-3溝槽對(duì)比塊表 F-2 mm尺寸hl h2 h3 h4 h5偏差h偏差d偏差D偏差I(lǐng)比塊編號(hào)0.3 0.6 1.2 1.5 1.8 0 -0. 06 2. 5 0 -0. 10 1. 0 +0. 06 0 對(duì)II 0. 5 1. 0 1. 5 2. 0 2. 5 0 -0. 10 3. 5 0 -0. 12 1. 0 +0. 06 0 2. 0 +0. 06 0 附錄G雙晶直探頭性能要求 （補(bǔ)充件）G1距離一波幅特性曲線用圖8 1試塊，在各個(gè)厚度上測(cè)定其回波高度（dB）,并作出如

7、圖G-1所示的 特性曲線,該特性曲線須滿足下列條件：a.在厚度19mm上的回波高度，與最大回波高度差必須在36dB范圍內(nèi)。b.在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差也必須在36dB范圍內(nèi)。G2表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度，必須比最大回波高度低40dB以上。G3檢出靈敏度對(duì)準(zhǔn)圖G-2試塊4）5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差必須在 -10+2dB 范圍內(nèi)。G4有效波束寬度對(duì)準(zhǔn)圖G-2試塊65.6mm平底孔，與聲波分割面平行地移動(dòng)探頭，按6dB法測(cè) 定波束寬度,其有效值必須大于16mm。回波高度,dB板厚，mm圖G-1距離一波幅特性曲線圖G-2測(cè)定儀器和探頭組合性能試塊附錄

8、H壓力容器鋼板橫波檢測(cè)（補(bǔ)充件）H1適用范圍本附錄規(guī)定了用斜探頭超聲波（橫波）檢測(cè)鋼板中非夾層性缺陷的方法,并作為直 探頭超聲檢測(cè)的補(bǔ)充。H2檢測(cè)裝量H2. 1原則上選用K1斜探頭，圓晶片直徑應(yīng)在1325mm之間，方晶片面積應(yīng) 不小于200mm 2。如有特殊需要也可選用其它尺寸和K值的探頭。H2. 2檢測(cè)頻率為25MHz。H3靈敏度校準(zhǔn)試塊H3.1試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。H3.2試塊上的人工缺陷為尖角槽，角度為60 ° ,槽深為極厚的3%槽的長(zhǎng)度為 25mm,槽寬不超過(guò)深度的一倍。H3.3試塊的尺寸、尖角槽位置應(yīng)符合圖H-1的規(guī)定切槽圖H-1靈敏度校準(zhǔn)試塊

9、H3.4對(duì)于板厚超過(guò)50mm的鋼板，要在鋼板的底面配置笫二個(gè)如H3. 3所述的 校準(zhǔn)槽。H4靈敏度的確定H4. 1厚度小于或等于50mm的鋼板。H4. 1. 1把探頭放在試塊有槽的一面上,使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊,找出第一個(gè)全跨距 反射的最大波幅,調(diào)節(jié)儀器，使該反射的最大波幅為滿刻度的80%,在熒光屏上記錄下這 一信號(hào)的位置。H4.1. 2移動(dòng)探頭,得到笫二個(gè)全跨距信號(hào),并找出信號(hào)最大反射波幅,記下這一 信號(hào)幅值點(diǎn)在熒光屏上的位置,在熒光屏上將這兩個(gè)槽反射信號(hào)幅值點(diǎn)連成一直線,獲得 距離一波幅曲線。H4.2厚度大于50mm而小于或等于150mm的鋼板。H4. 2. 1將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽,并找

10、出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波 幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%,在熒光屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。不改變儀器調(diào) 整狀態(tài)，在3/2跨距上重復(fù)該項(xiàng)操作。H4. 2. 2不改變儀器調(diào)整狀態(tài),把探頭再次放在試塊面上,使波束對(duì)準(zhǔn)試塊表面上 的槽，并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點(diǎn)。H4. 2. 3在熒光屏上將H4. 2. 1和H4. 2. 2所確定的點(diǎn)相連接，獲得距離一波幅 曲線。H4.3厚度大于150mm而小于或等于250mm的鋼板。H4. 3.1把探頭置于試塊表面上,使聲束對(duì)準(zhǔn)試塊底面上的切槽的槽邊，并找出笫 一個(gè)1/2跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光屏

11、滿刻度的80%, 在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。'H4. 3. 2不改變儀器的調(diào)整狀態(tài),把探頭再次放在試塊面上，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽獲 得最大反射,在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。H4. 3. 3在熒光屏上將H4. 3. 1和H4. 3. 2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為這 種鋼板的距離一波幅曲線。H5掃查方法H5.1以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格子線掃查鋼板的軋制面，格子線中 心距為200mm。掃查時(shí)把探頭放在鋼板的某一邊緣附近，使聲束與該邊緣垂直。H5. 2當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí),移動(dòng)探頭使之能在熒光屏上得到最大反射。H5. 3對(duì)于每一個(gè)等于或超過(guò)距離一波幅曲線的缺陷顯示,應(yīng)記錄其位置,并移動(dòng) 探

12、頭使波幅降到滿刻度的25%來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)度,波幅低于距離一波幅曲線的缺陷,指示長(zhǎng) 度較長(zhǎng)時(shí)，也可記錄備案。H5.4在每一個(gè)記錄缺陷位置上,應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm X 200mm的區(qū) 域作100%檢測(cè)。H6驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等于或超過(guò)距離一波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的。但用縱波方法 作輔助檢測(cè)時(shí),若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按縱波檢測(cè)的規(guī)定處理。附錄I壓力容器鍛件橫波檢測(cè)（補(bǔ)充件）II適用范圍橫波檢測(cè)僅適用于內(nèi)外徑之比大于或等于80%的環(huán)形和筒形鍛件。12探頭12. 1探頭公稱頻率主要為2. 5MHz o12.2 探頭晶片面積為140400mm 2。12.3 原則上應(yīng)采用K1探頭,但根

13、據(jù)工件幾何形狀的不同，也可采用其它的K13靈血度校準(zhǔn)試塊13.1為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作 對(duì)比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V 形槽長(zhǎng)度為25mm，深度為鍛件壁厚的1%角度為60 °。也可采用其它等效的反射體 （如邊角反14檢加方法14. 1掃查方式14. 1. 1掃查方向見(jiàn)圖1-1。圖1-114. 1. 2探頭移動(dòng)速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。14. 1. 3掃查復(fù)蓋量應(yīng)為探頭寬度的 15%以上。14. 2靈敏度校驗(yàn)從鍛件外圓面將探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)斷面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽,調(diào)整增益,使最大反射高度為滿刻 度的80%,將該值

14、標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度;再移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面的標(biāo)準(zhǔn) 溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上,將以上兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng),使之包括全部 檢測(cè)范圍，繪出距離一波幅曲線。內(nèi)圓面檢測(cè)時(shí)的靈敏度也應(yīng)按上述方法確定，但探頭斜楔 應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。15記錄記錄超過(guò)距離一波幅曲線一半的缺陷反射波和缺陷位置。附錄J高壓無(wú)縫鋼管軸向橫波檢測(cè)（補(bǔ)充件）J1檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)設(shè)備由超聲波探傷儀、斜探頭等組成,探頭應(yīng)與鋼管表面吻合良好,晶片長(zhǎng)度 不大于25mm。探頭頻率為2. 510MHz。J2靈敏度校準(zhǔn)試塊J2.1靈敏度校準(zhǔn)試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理工藝相同或相似 的鋼管， 不得有影響人工缺陷顯示的

15、缺陷。J2.2鋼管橫向缺陷檢測(cè)試塊的尺寸、尖角槽和位置應(yīng)符合圖J 1和表JT 的規(guī)定。t圖J-1橫向缺陷試塊表JT人工缺陷等級(jí)mm 等級(jí)長(zhǎng)度L人工缺陷深度tI 40公稱壁厚的5%,最小為0. 2mm,最大為1mmII 40公稱壁厚的8%,最小為0. 2mm,最大為3mmIII 40公稱壁厚的10%最小為0. 2mm,最大為3mmJ2.3鋼管橫向缺陷檢測(cè)試塊的人工缺陷槽一般在外表面加工，當(dāng)外徑大于或等 于80mm且壁厚不小于10mm時(shí)，應(yīng)同時(shí)在內(nèi)表面加工。同一個(gè)試塊上內(nèi)外表面 人工缺陷沿鋼管 軸向應(yīng)有足夠的間距，以使在調(diào)試時(shí)容易分辨。J3檢測(cè)靈敏度的確定J3.1可直接在對(duì)比試塊上將人工尖角槽的反

16、射回波幅度 調(diào)到熒光屏滿刻度的50%,以 此作為基準(zhǔn)靈敏度。J3. 2對(duì)于在內(nèi)外表面加工槽的對(duì)比試塊,應(yīng)將內(nèi)表面槽的回波幅度調(diào)到滿刻度 的 80%o然后再將外表面槽的反射回波幅度點(diǎn)標(biāo)在熒光屏上，作出距離一波幅曲線。J3.3檢測(cè)靈敏度應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB oJ4結(jié)果評(píng)定J4.1若缺陷回波幅度大于或等于人_E缺陷的基準(zhǔn)回波幅度或是高于距離一波幅 曲線，則該鋼管為不合格。不合格品允許采取修磨等方法進(jìn)行處理,復(fù)驗(yàn)合格后可判為 合格。J4.2合格級(jí)別的確定由供需雙方商定。 附錄K壓力容器奧氏體鋼鍛件斜角檢測(cè) （補(bǔ)充件）K1適用范圍斜角檢測(cè)僅適用于內(nèi)外徑之比大于或等于80%的環(huán)形和筒形鍛件。K2對(duì)比試塊

17、K2.1為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V 形槽長(zhǎng)度為25mm，深度t為鍛件壁厚的3%或5%,角度為60 °。也可采用其它等效的 反射體（如邊角反射等）。K3掃查方式掃查方向如附錄I圖1T的規(guī)定K4靈敏度校驗(yàn)K4. 1采用刻槽法時(shí),一般需將探頭置于外圓表面上,聲束垂直于刻槽長(zhǎng)度方向， 移動(dòng)探頭并調(diào)整儀器靈敏度，使外壁槽笫二次反射（W型反射）或內(nèi)壁槽第二次反射（X反 射）回波高度至少為滿刻度的20%o連接外壁槽笫一、笫二次回波峰值點(diǎn)或內(nèi)壁槽笫一、 二次回波的峰值點(diǎn)，以此作為全跨距校正

18、的距離一波幅曲線。RL 2如果采用全跨距校正從內(nèi)外壁表面的槽上都得不到至少為滿刻度20%的笫回波,則應(yīng)采用半跨距校正（此時(shí)內(nèi)外壁均應(yīng)各制一槽,并使其互不影響）。使來(lái)自 外壁槽的笫一次回波高度至少為滿刻度的20%,連接內(nèi)壁槽笫一次回波和外壁槽第一次 回波的峰值點(diǎn)，以此作為半跨距校正的距離一波幅曲線。K4. 3內(nèi)徑小于500mm，而且長(zhǎng)度超過(guò)900mm的筒形鍛件,通常都不從內(nèi)表面進(jìn) 行掃查。附錄L聲能傳輸損耗差的測(cè)定（補(bǔ)充件）工件本身影響反射波幅的兩個(gè)主要因素是:材料的材質(zhì)衰減和工件表 面粗糙度及耦合狀況造成的表面聲能損失。普遍碳素鋼或低合金鋼板材的材質(zhì)衰減，在頻率低于3MHz、聲程不超過(guò)200m

19、m 時(shí)，或者衰減系數(shù)小于0. OldB/mm時(shí)，可以不計(jì)。標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊均應(yīng)滿足這一 要求。受檢工件檢測(cè)時(shí)，如聲程較大,或材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)上述范圍，在確定缺陷反射波 幅時(shí),應(yīng)考慮材質(zhì)衰減修正。如被檢工件表面比較粗糙還應(yīng)考慮表面聲能損失問(wèn)題。L1橫波超聲材質(zhì)衰減的測(cè)量L1.1制作與受檢工件材質(zhì)相同或相近,厚度約40mm、表面粗糙度與對(duì)比試塊相 同的平面型試塊，見(jiàn)圖L-l o圖L-1超聲衰減的測(cè)定L1.2用斜探頭按深度1:1調(diào)節(jié)儀器時(shí)基掃描線。L1.3另選用一只與該探頭尺寸、頻率、K值相同的斜探頭，兩探頭按圖L-1所 示方向置于平板試塊上,兩探頭入射點(diǎn)間距為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài),找到最大

20、反 射波幅,記錄其波幅值H 1 (dB)oL1.4將兩探頭拉開(kāi)到距離為2P,找到最大反射波幅,記錄其波幅值H 2 (dB) oL1.5衰減系數(shù)a H可用下式計(jì)算： a H H S S H =1 2 2 1 D / ( ) (L-1)S 1 1 1 40 = + / cosb (L-2)S12180 = + / cosb (L-3) 1 1 tg tg 1 0=a b / (L-4)式中：1 0 -晶片到射點(diǎn)的距離，作為簡(jiǎn)化處理亦可取1 1=1 0 ,mm;一聲程S 1、S2不考慮材質(zhì)衰減時(shí)大平面的反射波幅dB差。可用公式201gS 2 / S 1 計(jì)算或從該探頭的距離一波幅曲線上查得，約為6d

21、B。L1.6如果在圖L-1試塊和對(duì)比試塊的探測(cè)面測(cè)得波幅相差不超過(guò)IdB,則可不 考慮工件 的材質(zhì)衰減。L2傳輸損失差的測(cè)定L2.1用斜探頭按深度調(diào)節(jié)儀器時(shí)基掃描線。L2.2選用另一只與該探頭尺寸、頻率、K值相同的斜探頭，兩探頭按圖K-2所 示方向置于對(duì)比試塊探測(cè)面上，兩探頭入射點(diǎn)間距離為1P,儀器調(diào)為一發(fā)一收狀態(tài)。圖 L-2傳輸損失差的測(cè)定L2.3在對(duì)比試塊上，找出最大反射波幅，記錄其波幅值H 1 (dB)。L2. 4在受檢工件上(不通過(guò)焊縫)同樣測(cè)出接收波最大反射波幅,記錄其波幅值H 2 (dB)。L2.5傳輸損失差 V為： V= H 1 一 H 2 D 1 - D 2 (L-5)式中：D

22、 1 -不考慮材質(zhì)衰減時(shí)，聲程S 1、S 2的反射波幅dB差，可用公式201g S 2 / S 1計(jì)算或從探 頭的距離一波幅曲線上查得,dB;S 1在對(duì)比試塊中的聲程,mm;S 2 在工件板材中的聲程,mm;D 2試塊中聲程S 1與工件中聲程S 2的超聲材質(zhì)衰減差值,dB。如試塊 材質(zhì)衰減系數(shù)小于0.01dB/mm,此項(xiàng)可以不予考慮。 附錄M用于非標(biāo)準(zhǔn)溫度的檢測(cè)方法 (補(bǔ)充件)Ml概述當(dāng)滲透檢測(cè)不可能在1550 C溫度范圍內(nèi)進(jìn)行時(shí)，則要求對(duì)較低或較高溫度 時(shí)的檢測(cè)方法作出鑒定。通常使用鋁合金對(duì)比試塊進(jìn)行。M2鑒定方法M2.1溫度低于15 c條件下滲透檢測(cè)方法的鑒定 在試塊和所有使用材料都降到預(yù)

23、定溫度后，將準(zhǔn)備的低溫檢測(cè)方法用于B區(qū)。然后把試塊加熱到1550 c之間，在A區(qū)用標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行檢測(cè)，比較A、B兩區(qū) 的裂紋顯示跡痕。如果顯示跡痕基本上相同，則可以認(rèn)為準(zhǔn)備采川的方法是可行的。M2. 2溫度高于50 C條件下滲透檢測(cè)方法的鑒定如果準(zhǔn)備采用的檢測(cè)溫度高于50 C,則將試塊加溫至這一溫度，在B區(qū)進(jìn)行檢 測(cè)。然后把試塊冷卻到1550 C之間，在A區(qū)用標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行檢測(cè)，比較A、B 兩區(qū)的裂紋顯示跡痕。如果顯示跡痕基本上相同，則可以認(rèn)為準(zhǔn)備采用的方法是可行的。附錄N膠片手工沖洗和干燥操作40（參考件）N1準(zhǔn)備工作將膠片裝在顯影夾上,并在開(kāi)始顯影之前攪動(dòng)溶液。N2開(kāi)始顯影啟動(dòng)計(jì)時(shí)器并將膠片浸

24、入顯影液中，顯影夾之間應(yīng)留有一定距離，使沖洗過(guò)程中膠片彼此不會(huì)相貼。不斷將顯影夾上下移動(dòng)，大約15s oN3顯影室溫20 C時(shí)，正常的顯影時(shí)間約為58min 0延長(zhǎng)顯影時(shí)間，會(huì)使底片黑度 增加，并稍微增加對(duì)比度。在選擇顯影時(shí)間時(shí)，應(yīng)遵照膠片制造廠的建議;在溫度稍高或稍 低時(shí)必須調(diào)整顯影時(shí)間，調(diào)整量也應(yīng)根據(jù)膠片制造廠所推薦的數(shù)據(jù)。N4攪動(dòng)顯影過(guò)程中應(yīng)不時(shí)將膠片作垂直方向的上下移動(dòng)，以使膠片均勻顯影。N5停顯或漂洗在顯影結(jié)束后，將膠片浸入3%醋酸停顯液約30s,以中和遺留在膠片乳膠中的顯 影劑。如果不能使用停顯液，則可在清水中將膠片強(qiáng)力抖動(dòng)，進(jìn)行漂洗23min。N6定影為保證均勻而快速的定影，膠片

25、在浸入定影液時(shí)以及在第Imin末，要均勻作上 下方向的移動(dòng)約10s左右.，然后浸泡到定影結(jié)束（其時(shí)間至少為達(dá)到底片透明所需時(shí) 間的兩倍）。在新鮮的定影液中，定影時(shí)間一般不超過(guò)15min。若經(jīng)常移動(dòng)膠片，可以縮 短定影時(shí)間，但必須避免膠片在定影液中互相接觸。N7定影液的中和在定影和沖洗工序之間,可使用“海波”凈化劑或定影液中和劑進(jìn)行中和處理，這樣可以減少?zèng)_洗時(shí)間和用水量。N8沖洗沖洗的效率，與沖洗用水、水溫、水流量以及被沖洗底片的種類有關(guān)。一般當(dāng)溫 度在16 c以下時(shí)沖洗過(guò)程比較緩慢。當(dāng)溫度在30 C以上時(shí)，應(yīng)注意底片浸在水 中的時(shí)間不能太長(zhǎng)。底片在槽中沖洗時(shí).，不允許再加入新從定影液中取的底片

26、。如水槽容 積有限而一次沖洗乂有較多底片，則應(yīng)隨時(shí)把一部分已經(jīng)沖洗過(guò)的底片移到進(jìn)水口的方 向上去。利用小水量分級(jí)沖洗的方法在相同的沖洗時(shí)間里能達(dá)到最佳的沖洗效果。最好把 ；中洗槽分為兩部分（可以用兩個(gè)水槽），把從定影液中取出的底片放在出水口部分， 經(jīng)過(guò)一段時(shí)間沖洗后,把底片移到進(jìn)水口部分,從而在新鮮水中完成沖洗。N9洗滌劑把底片浸入洗滌劑中約30s,可以使水從底片表面均勻流下，以縮短干燥時(shí)間，避 免底片上出現(xiàn)水跡。一般可采用0.1%左右濃度的餐具洗滌劑的水溶液作為洗滌劑， 或采用其它成分的洗滌劑。N10干燥底片的干燥與下列因素有關(guān):膠片類型、處理方法（水洗后乳膠的硬度、洗滌劑的 應(yīng)用）以及干燥

27、用的空氣（溫度、濕度、流量）。一般可在常溫下干燥，也可用不高于60 C的鼓風(fēng)機(jī)循環(huán)空氣進(jìn)行干燥。附錄0顯影液的補(bǔ)充方法（參考件）01配方成分顯影液補(bǔ)充液水對(duì)甲氨基酚硫酸鹽（米吐?tīng)枺o(wú)水亞硫酸鹽對(duì)苯二酚（兒奴尼）無(wú)水碳酸鹽澳化鉀氫氧化鈉加水至 800ml 4g 65g 10g 45g 5g 一1000ml 800ml 6g 70g 20g 60g 一10g 1000ml注:藥品應(yīng)按表中次序加入水中，并攪動(dòng)使之溶解。02顯影溫度及時(shí)間溫度（） 18 20 22 24 26時(shí)間（min） 7 6 5 4 3. 503注意事項(xiàng)03.1補(bǔ)充液只允許加入至原顯影液體積的3倍。03.2當(dāng)用洗片夾在槽中顯影時(shí)

28、.，每顯1m 2膠片將會(huì)帶出約320ml顯影液，故 每顯1m 2膠片應(yīng)加入320ml補(bǔ)充液。03.3最后一次添加補(bǔ)充液后，每公升顯影液可顯14 2 m膠片，然后廢棄。附錄P串列式檢測(cè)方法(參考件)P1 一般要求P1.1超聲波探傷儀的工作方式必須滿足一收一發(fā)工作狀態(tài)。P1. 2探頭掃查可以采用手動(dòng)方法，也可采用自動(dòng)方法，但應(yīng)保證探頭相對(duì)申列基 準(zhǔn)線等 距離移動(dòng)。P1.3推薦采用頻率為22.5MHz、K值為1的探頭，兩探頭入射點(diǎn)最短間 距應(yīng)小于 20mm oP2儀器調(diào)整P2.1時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)應(yīng)按單斜探頭的方法調(diào)節(jié),最大探測(cè)范圍應(yīng)大于1跨距 聲程。P2.2靈敏度調(diào)整應(yīng)在工件無(wú)缺陷部位進(jìn)行,將收、發(fā)

29、兩探頭相對(duì)放置,間距為1 跨距，見(jiàn)圖P-1和式(PT),找出底面最大反射波，使反射波幅為熒光屏滿刻度的40%以 此為基準(zhǔn)波高。將靈敏度分別提高8dB、14dB、20dB即為判廢靈敏度、定量靈敏度和 評(píng)定靈敏度。圖P-1靈敏度調(diào)節(jié)P3檢測(cè)程序P3. 1檢測(cè)準(zhǔn)備a.檢測(cè)面為對(duì)接焊縫的單面雙側(cè)；b.在離參考線距離(L-0.5P)的位置標(biāo)記串列基準(zhǔn)線，見(jiàn)圖P-2和式(P-1)。 參考線檢測(cè)截面掃查線串列基準(zhǔn)線圖P-2串列基準(zhǔn)線的標(biāo)記L 一為參考線至檢測(cè)截面的距離P=2TK (P-1)P3.2 初始檢測(cè)P3. 2.1檢測(cè)靈敏度不低于評(píng)定線靈敏度。P3. 2. 2掃查方式采用橫方形或縱方形串列掃查,掃查范

30、圍以串列基準(zhǔn)線為中心 盡可能掃查到整個(gè)檢測(cè)截面,每個(gè)檢測(cè)截面應(yīng)掃查一遍。P3. 2. 3標(biāo)記超過(guò)評(píng)定線的反射波，當(dāng)該反射波被判定為缺陷時(shí),應(yīng)在焊縫的相應(yīng) 位置作 出記號(hào)。P3. 3檢測(cè)P3. 3.1檢測(cè)只對(duì)初始檢測(cè)標(biāo)記部位進(jìn)行。P3. 3. 2檢測(cè)靈敏度為評(píng)定靈敏度。P3. 3. 3反射波出現(xiàn)在相當(dāng)于半跨距聲程位置(見(jiàn)圖P-3)的缺陷，其水平距離和深度分別為： 1=TK (Y/2)(P-2)h=T-(Y/2K)(P-3)式中:Y收、發(fā)兩探頭入射點(diǎn)間距,mm o圖P-3串列掃查缺陷定位P3. 3. 4以熒光屏滿刻度的40%線為基準(zhǔn)波高，測(cè)出缺陷最大反射波高與基準(zhǔn)波 高的dB數(shù)差值作為缺陷的相對(duì)波

31、幅。P3. 3. 5缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定采用以評(píng)定靈敏度為測(cè)長(zhǎng)靈敏度的絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度。即進(jìn)行左右 掃查(橫方形串列掃查)，以波幅超過(guò)評(píng)定線的探頭移動(dòng)范圍作為缺陷指示長(zhǎng)度。P4缺陷評(píng)定所有反射波幅度超過(guò)評(píng)定線的缺陷，均按標(biāo)準(zhǔn)正文9.1.7條和9.1.8條的規(guī)定 予以等級(jí)評(píng)定。附錄Q鈦制壓力容器焊縫超聲波檢測(cè)(參考件)Q1檢測(cè)范圍和一般要求本附錄采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀以單斜探頭接觸法為主進(jìn)行檢測(cè)并對(duì) 檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行等級(jí)評(píng)定。本附錄適用于厚度大于或等于8mm的鈦容器對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)。Q2試塊Q2.1試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢鈦板性能相同或相近，試塊經(jīng)超聲檢測(cè)后不得有大于小 2mm平底孔當(dāng)量以

32、上的缺陷存在。Q2.2試塊尺寸、形狀見(jiàn)表Q-1和圖Q 1。表Q-1試塊尺寸mm試塊號(hào) 試塊長(zhǎng)度L試塊厚度T試塊的測(cè)定范圍1 300 25 2 840 2 500 50 >4080 圖 QT 試塊形狀Q3檢測(cè)準(zhǔn)備Q3. 1檢測(cè)面a.檢測(cè)前，應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)域影響聲束傳播的匕濺、銹蝕、油垢等。表面粗糙 時(shí)，應(yīng)打磨平滑，以保持良好的聲學(xué)接觸。b.焊縫外觀及檢測(cè)表面應(yīng)經(jīng)檢查合格后,方可進(jìn)行檢測(cè)。Q3. 2探頭的選擇一般應(yīng)使用K值為2.0的斜探頭。如有必要,也可選用其它K值的探頭。Q3. 3距離一波幅曲線的制作距離一波幅曲線應(yīng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)繪制，由定量線、判廢線和評(píng)定線組成。其 基準(zhǔn)電平以6 5

33、mm橫通孔的回波為基準(zhǔn)。參見(jiàn)圖Q-2和表Q-2。幅dB圖Q-2距離一波幅曲線表Q-2距離一波幅曲線的靈敏度評(píng)定線定量線判廢線5 26dB 5 20dB 小 5 12dBQ3.4掃查靈敏度掃查靈敏度不低于評(píng)定線。Q4掃查方法掃查方法按照9.1.5條的規(guī)定。Q5缺陷定量位于定量線或定量線以上的缺陷應(yīng)進(jìn)行幅度和指示長(zhǎng)度的測(cè)定。Q5.1缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定按下列方法進(jìn)行a.當(dāng)反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度。b.當(dāng)反射波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),用端點(diǎn)6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度。Q5. 2缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm的缺陷按5mm計(jì)。Q5. 3對(duì)缺陷回波高度介于測(cè)長(zhǎng)線和定量線之間的缺陷,若認(rèn)為有必要記錄時(shí)，也

34、 可采用上述方法進(jìn)行幅度和指示長(zhǎng)度的測(cè)定。Q6缺陷等級(jí)評(píng)定Q6. 1不允許存在反射波幅位于或超過(guò)判廢線的缺陷。Q6.2位于判廢線和定量線之間的缺陷，其等級(jí)評(píng)定如表Q-3 o表Q-3缺陷按指示長(zhǎng)度分級(jí)mm板厚 T 840 >4080i W 10 W 14 TH W 13 W 13 TIII W 20 W 12 T等級(jí)IV指示長(zhǎng)度大于川級(jí)考注：當(dāng)對(duì)接焊縫兩側(cè)板厚不同時(shí)，以較薄者為準(zhǔn)。Q6. 3深度相同的兩個(gè)缺陷相鄰間距小于或等于其中較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí),應(yīng) 將兩個(gè)缺陷作為一個(gè)缺陷處理,其指示長(zhǎng)度為這兩個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度之和。Q6.4如檢測(cè)人員能判定為危害性缺陷時(shí),不受上述條文限制。第一篇總則1主

35、題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射線檢測(cè)、超聲檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)和渦流檢測(cè)五種無(wú)損檢 測(cè)方法及缺陷等級(jí)評(píng)定。本標(biāo)準(zhǔn)所述各種無(wú)損檢測(cè)方法,適用于金屬材料制壓力 容器的原材料、零部件和焊縫。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB 150鋼制壓力容器GB 3721磁粉探傷機(jī)GB 5097黑光源的間接評(píng)定方法GB 5616常規(guī)無(wú)損探傷應(yīng)用導(dǎo)則GB 5618線型象質(zhì)計(jì)GB 9445無(wú)損檢測(cè)人員技術(shù)資格鑒定通則GB/T12604. 16無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)JB 4126超聲波檢驗(yàn)用鋼質(zhì)試塊的制造和控制ZBJ04001 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法ZB Y230 A型脈沖 反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件ZB Y231超聲探

36、傷用探頭性能測(cè)試方法ZB Y232超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件ZB Y344超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法3術(shù)語(yǔ)本標(biāo)準(zhǔn)所用術(shù)語(yǔ)除應(yīng)符合GB/T12604. 16的規(guī)定外,還應(yīng)符合下述規(guī)定。3.1 密集區(qū)缺陷在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射 信號(hào);或是在50mmX 50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以 上的缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。3.2 山缺陷引起的底波降低量BG/BF(dB)在靠近缺陷處的無(wú)缺陷完好區(qū)內(nèi)第一 次底波幅度BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度BF之比，用聲壓級(jí)(dB)值來(lái)表 示。3. 3檢測(cè)截面用列掃

37、查檢測(cè)時(shí)，作為檢測(cè)對(duì)象的截面,一般以焊縫截面作為檢測(cè)截面,見(jiàn)圖3-1 o3.4串列基準(zhǔn)線串列掃查時(shí)，作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)的基準(zhǔn)線,一般設(shè)在離檢測(cè)截面距 離為0. 5倍跨距的位置，見(jiàn)圖3-1 o串列基準(zhǔn)線檢測(cè)截面檢測(cè)面圖3-1檢測(cè)截面及串列基準(zhǔn)線3 . 5參考線施焊前預(yù)先在母材檢測(cè)面上,離焊縫坡口一定距離處畫(huà)出一標(biāo)記線，以其作為確 定串列基準(zhǔn)線的依據(jù)，見(jiàn)圖3 - 2 o該線即為參考線。熔合面參考線坡口面參考線圖3-2參考線3.6 橫方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭，使其入射點(diǎn)相對(duì)串列基準(zhǔn)線保持等距離且平行于焊縫移動(dòng)的掃查方法，見(jiàn)圖3-3 o串列基準(zhǔn)線橫方形掃查 縱方形掃查圖3-3橫方形掃查及

38、縱方形掃查3.7 縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭，使其入射點(diǎn)相對(duì)用列基準(zhǔn)線保持等距離且垂直于焊縫移動(dòng)的 掃查方法，見(jiàn)圖3-3 o4 一般要求4.6 選擇原則1.1 .1壓力容器射線、超聲、磁粉、滲透、渦流檢測(cè)方法的選擇、檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽 檢率等，應(yīng)按壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程、GB150、GB5616及有關(guān)技術(shù)文 件的要求和原則執(zhí)行。1.2 . 2凡鐵磁性材料制成的壓力容器及零部件,應(yīng)使川磁粉檢測(cè)方法檢測(cè)表面缺 陷,確因結(jié)構(gòu)形狀等原因不能使用磁粉檢測(cè)時(shí),方可采用滲透檢測(cè)。4.7 制造廠的檢測(cè)責(zé)任4. 2.1當(dāng)壓力容器及零部件需按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，制造廠、裝配或組裝部門(mén)應(yīng) 按本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定制定出符合有關(guān)

39、規(guī)范要求的無(wú)損檢測(cè)規(guī)程。每一檢測(cè)規(guī)程至少應(yīng) 復(fù)制一份副本，以供制造廠所有無(wú)損檢測(cè)人員參考和使用。4. 2.2檢測(cè)程序及結(jié)果應(yīng)正確、完整并有相應(yīng)責(zé)任人員簽名認(rèn)可。檢測(cè)記錄、報(bào) 告等保存期不得少于7年。7年后，若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管。4. 2. 3檢測(cè)檔案中,對(duì)于檢測(cè)人員承擔(dān)檢測(cè)項(xiàng)目的相應(yīng)資格等級(jí)和有效期應(yīng)有記 錄。4. 2.4檢測(cè)用儀器、設(shè)備的性能應(yīng)定期檢驗(yàn)合格并有記錄。4.3檢測(cè)人員4. 3.1凡從事壓力容器及零部件檢測(cè)的人員，都必須經(jīng)過(guò)技術(shù)培訓(xùn)I,并按照勞動(dòng) 部文件“鍋爐壓力容器無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒定考核規(guī)則”及GB9445進(jìn)行考核 鑒定。5. 3.2無(wú)損檢測(cè)人員按技術(shù)等級(jí)分為高、中、初級(jí)。

40、取得不同無(wú)損檢測(cè)方法的各 技術(shù)等級(jí)人員，只能從事與該等級(jí)相應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)工作，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。6. 3. 3凡從事壓力容器及零部件無(wú)損檢測(cè)工作的人員，除具有良好的身體素質(zhì)外, 視力必須滿足下列要求：7. 3. 3.1校正視力不得低于1. 0,并一年檢查一次。8. 3. 3. 2從事磁粉、滲透檢測(cè)工作的人員，不得有色盲、色弱。9. 3. 3. 3從事射線評(píng)片人員應(yīng)能辨別距離400mm遠(yuǎn)的一組高為0. 5mm、間距為0. 5mm的印刷字母。4.4無(wú)損檢測(cè)責(zé)任人員的職責(zé)4. 4.1參與壓力容器及零部件制造的無(wú)損檢測(cè)責(zé)任工程師,有責(zé)任保證本標(biāo)準(zhǔn)在 使用中的正確實(shí)施，有權(quán)拒絕受理不按本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行的任

41、何檢測(cè)內(nèi)容。5. 4. 2無(wú)損檢測(cè)責(zé)任工程師,應(yīng)由具有鍋爐壓力容器無(wú)損檢測(cè)高級(jí)或中級(jí)的資格 者擔(dān)任。6. 5驗(yàn)收標(biāo)記如果檢測(cè)內(nèi)容作為壓力容器產(chǎn)品驗(yàn)收的項(xiàng)目，則檢測(cè)合格的所有工件上都應(yīng)作永 久性或半永久性的標(biāo)記,標(biāo)記應(yīng)醒目。產(chǎn)品上不適合打印標(biāo)記時(shí),應(yīng)采取詳細(xì)的檢 測(cè)草圖或其它有效方式標(biāo)注，使下道工序或最后的檢測(cè)人員能夠辨明。第二篇焊健射線透照檢測(cè)5 一般要求5.1 檢測(cè)范圍本章規(guī)定了在焊縫透照檢測(cè)過(guò)程中，為獲得合格透照底片所必須遵循的程序和要求。本章適用于碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金材料制壓力容器焊縫及鋼 管對(duì)接環(huán)縫的射線透照檢測(cè)。5.2 防護(hù)5.2.1 X射線和丫射線對(duì)人體

42、有不良影響，應(yīng)盡量避免射線的直接照射和散射線的影響。5.2.2 從事射線檢測(cè)的人員應(yīng)備有劑量?jī)x或其它劑量測(cè)試設(shè)備，以測(cè)定工作環(huán)境的射線照射 量和個(gè)人受到的累計(jì)劑量. y射線檢測(cè)操作中,每次都應(yīng)測(cè)定工作場(chǎng)所和丫射線源容器附近的 射線劑量，以便了解射源位置，免受意外照射。5.2.3 在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)應(yīng)設(shè)置安全線。安全線上應(yīng)有明顯警告標(biāo)志，夜間應(yīng)設(shè)紅燈。5.2.4 檢測(cè)人員每年允許接受的最大射線照射劑量為5x10 2- Sv,非檢測(cè)人員每年允許接受 的最大劑量為5xlO3-Sv。5.3 檢測(cè)人員應(yīng)符合4.3條的有關(guān)規(guī)定。5.4 射線透照等效系數(shù)材料的射線透照等效系數(shù)見(jiàn)表5-1 o將此系數(shù)乘以待檢

43、容器材料的厚度，即能得到相當(dāng)于多 少厚度鋼的吸收效果。表5-1某些金屬的射線透照等效系數(shù)射線能量金屬 100 kV 150 kV 220 kV 250 kV 400 kV 1 MeV 2 MeV 金25 MeV Ir （銖）Co （鉆）鐵/鋼鎂鋁鋁合金鈦銅鋅黃銅因康銀合金蒙乃爾合金錯(cuò)鉛 1.0 0.05 0.08 0.10 -1.5 - 1.7 2.4 14.0 1.0 0.05 0.12 0.14 0.54 1.6 1.4 1.4 1.4- 2.3 14.0 1.0 0.08 0.18 0.18 0.54 1.4 1.3 1.3 1.3 1.2 2.0 12.0 1.0- - 1.4- 1.

44、7-1.0-0.71 1.4 1.3 1.3 1.3 -1.5 -1.0-0.9 1.1 - 1.2 1.3 - 1.0 5.0 1.0-0.9 1.1 - 1.1 1.3 - 1.0 2.5 1.0-0.9 1.2 1.2 1.0 1.3- 1.0 2.7 1.0-0.35 0.35 0.9 1.1 1.1 1.1 1.3 -1.2 4.0 1.0-0.35 0.35 0.9 1.1 1.0 1.0 13- 1.0 2.3 5.5透照方式按射線源、工件和膠片三者間的相互位置關(guān)系，透照方式分為縱縫透照法、環(huán)縫外透法、環(huán) 縫內(nèi)透法、雙壁單影法和雙壁雙影法五種，見(jiàn)圖5-1 o圖5-1透照方式示意圖

45、縱縫透照法（b）環(huán)縫外透法（c）環(huán)縫內(nèi)透法（d）雙壁單影法（e）雙壁雙影法注：C1射線源不在部件中心：C2射線源在部件中心。5.6 表面要求焊縫的表而質(zhì)量（包括焊縫余高）應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的圖像應(yīng)不 掩蓋焊縫中的缺陷或與之相混淆，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)男蘩怼?.7 定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記5.7.1 定位標(biāo)記焊縫透照部位應(yīng)有搭接標(biāo)記（T）,如有需要也可放置中心標(biāo)記（）。當(dāng)抽查時(shí)搭接標(biāo)記稱為有效 區(qū)段透照標(biāo)記。5.7.2 識(shí)別標(biāo)記被檢的每段焊縫附近均應(yīng)貼有下列鉛質(zhì)識(shí)別標(biāo)記：產(chǎn)品編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)和透照 日期。返修透照部位還應(yīng)有返修標(biāo)記RI、R2（其數(shù)碼1、2指返修次數(shù)）。5.7.

46、3 標(biāo)記位置上述定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記均應(yīng)放在膠片的適當(dāng)位置，并離焊縫邊緣至少5mm o搭接標(biāo)記的 安放位置見(jiàn)附錄A（補(bǔ)充件）。工件表而應(yīng)作出永久性標(biāo)記，以作為對(duì)每張底片重新定位的依 據(jù)。產(chǎn)品上不適合打印標(biāo)記時(shí)，應(yīng)采用詳細(xì)的透照部位草圖或其它的有效方式標(biāo)注。5.8 象質(zhì)計(jì)象質(zhì)計(jì)是用來(lái)檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的。衡量質(zhì)量的參數(shù)是象質(zhì)指數(shù)。它等于底片上 能識(shí)別出的最細(xì)金屬絲的線編號(hào)。5.8.1 線型象質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格線型象質(zhì)計(jì)金屬絲的材料應(yīng)與被透照容器的材料相一致，見(jiàn)表5-2 °線型象質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī) 格應(yīng)符合GH5618的規(guī)定。表5-2不同線型象質(zhì)計(jì)適用的材料范圍象質(zhì)計(jì)材料Fe碳素 鋼、不

47、銹鋼Ti鈦合金A1鋁合金Cu銅合金適用材料范圍黑色金屬鈦及鈦合金鋁及鋁 合金銅及銅合金5.8.2 象質(zhì)計(jì)標(biāo)志及代號(hào) 象質(zhì)計(jì)應(yīng)具有下列標(biāo)志： 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)JB 4730線材代號(hào)一一 Fe、Ti、Al、Cu等 線徑編號(hào)R 10系列;1/7、6/12、 10/16 583象質(zhì)計(jì)的放置 線型象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表而上被檢焊縫區(qū)的一端（被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4部位）。金 屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)射線源一側(cè)無(wú)法放置象質(zhì)計(jì)時(shí),也可放 在膠片一側(cè)的工件表而上,但象質(zhì)計(jì)指數(shù)應(yīng)提高一級(jí)或通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)，使實(shí)際象質(zhì)指數(shù)達(dá)到規(guī) 定的要求。象質(zhì)計(jì)放在膠片一側(cè)工件表而上時(shí),應(yīng)附加“F”標(biāo)記以示區(qū)別。采

48、用射線源置于圓心位置的周向爆光時(shí),象質(zhì)計(jì)應(yīng)在內(nèi)壁每隔90。放置一個(gè)。5.9 射線透照質(zhì)量等級(jí)射線透照的質(zhì)量等級(jí)分為A級(jí)（普通級(jí)）、AB級(jí)（較高級(jí)）和B級(jí)（高級(jí)）。不同材料、不同 厚度的工件采用A級(jí)、AB級(jí)或B級(jí)時(shí),在射線底片上必須顯示的最小象質(zhì)計(jì)線徑及相應(yīng) 的象質(zhì)指數(shù)見(jiàn)表5 3 °表5-3象質(zhì)計(jì)的選用適合的透照厚度TAmni要求達(dá)到的象 質(zhì)指數(shù)線徑mm A級(jí)AB級(jí)B級(jí)16 0.100 < 6 15 0,125 < 6 >6 - 8 14 0.160 < 6 >6-8 >8 10 13 0.200 >6 8 >8-12 >10 16

49、 12 0.250 >8 10 >1216 >16 25 11 0.320 >10 16 >1620 >25 32 10 0.400 >1625 >2025 >3240 9 0.500 >2532 >2532 >4050 8 0.630 >3240 >32 50 >5080 7 0.800 >4060 >50 80 >80 150 6 1.000 >60-80 >80 120 >150 2005 1.250 >80-150 > 120-150 >200

50、-2504 1.600>150 170>150 200-3 2.000 >170 180 >200-250-2 2.500 >180 190 1 3.200 >190 200一一5.10 膠片和增感屏5.10.1 膠片的分類和選擇工業(yè)X射線膠片的類型見(jiàn)表5-4。通常，如需縮短曝光時(shí)間，則需使用表5-4中號(hào)數(shù)較大的 膠片;如需提高射線透照的底片質(zhì)量,則需使用號(hào)數(shù)較小的膠片。表5-4工業(yè)射線透照膠片的 類型高千伏數(shù)kV厚度,mm圖5-6透照不同厚度材料時(shí)允許使用的最高X射線管電壓5.13 無(wú)用射線和散射線的屏蔽表5-6不同射線源適用的材料透照厚度范圍mm碳素鋼、

51、低合金鋼和不銹鋼射線源A級(jí)AB級(jí)B級(jí)Ir 192 20100 3095 40-90 Co 60 40-200 50 175 60-150 l-2MeV X 射線 30200 40175 60-150大于 2MeV X 射線 >40 >50 >50注：采用內(nèi)透法（中心法和偏心法）時(shí)，透照厚度可為表5-6下限值的一半。5.13.1 為減少散射線的影響，應(yīng)采用適當(dāng)?shù)钠帘畏椒ㄒ韵拗剖軝z部位的受照面積。通常， 可在X射線管窗口上裝設(shè)錐形鉛罩或鉛質(zhì)遮光板。為避免從其它工件或膠片后方和側(cè)面物 體上產(chǎn)生的散射線對(duì)膠片的影響，可采用加厚增感屏，或在膠片與增感屏后再加上一塊鉛板, 其厚度約14m

52、m o如工件邊緣處于射線透照區(qū)內(nèi)，通?？捎脠D5 7的方法或其它適 當(dāng)方法來(lái)屏蔽散射線。圖5-7減少散射線影響的方法5.13.2 為檢查背散射，可在暗可背面貼附一個(gè)“ B ”的鉛字標(biāo)記（其高度為13mm.厚度為 1.6mm）。若在較黑背影上出現(xiàn)“ B ”的較淡影象，就說(shuō)明背散射線保護(hù)不夠,應(yīng)采取有效措施重 照。如在較淡背景上出現(xiàn)“B ”的較黑影象，則不能作為該底片判廢的依據(jù)。5.14 曝光5.14.1 應(yīng)根據(jù)設(shè)備、膠片、增感屏和其它具體條件制作或選用合適的曝光曲線，并以此確定 曝光規(guī)范。5.14.2 為達(dá)到規(guī)定的底片黑度，推薦采用不低于15mA. min的曝光量,以防止用短焦距和高 電壓所引起的

53、不良影響。5.15 膠片處理5.15.1 膠片的處理應(yīng)按膠片的使用說(shuō)明書(shū)或公認(rèn)的有效方法處理?？刹捎米詣?dòng)沖洗或手工沖 洗方式。5.15.2 膠片的自動(dòng)沖洗應(yīng)注意精確控制膠片顯影、定影、水洗和干燥等工序的傳送速度及藥 液補(bǔ)充。5.15.3 膠片的手工沖洗應(yīng)采用槽浸方式,在規(guī)定的溫度（20 左右）和時(shí)間內(nèi)進(jìn)行顯影、定影 等操作。定影后的底片應(yīng)經(jīng)充分水洗和洗滌劑處理，以防止水跡的產(chǎn)生，然后自然干燥或在干 燥箱內(nèi)烘干。膠片的手工沖洗方法可參考附錄N（參考件）。5.15.4 顯影液性能的控制應(yīng)采用定期添加補(bǔ)充液的方法來(lái)維持顯影液性能的恒定。詳見(jiàn)附錄0（參考件）。5.16 底片質(zhì)量5.16.1 象質(zhì)指數(shù)底

54、片上必須顯示出的最小線徑及象質(zhì)指數(shù)，見(jiàn)表5 3 o5.16.2 黑度選擇的曝光條件應(yīng)使底片有效評(píng)定區(qū)域內(nèi)的黑度滿足表5-7的要求。表5-7底片的黑度范 圍射線種類底片黑度D灰霧度DO A級(jí)AB 級(jí) 1.23.5X 射線B 級(jí) 1.53.5<03丫 射線 1.83.5<0.3注：表中D值包括了 DO值5.16.3 影象識(shí)別要求5.16.3.1 底片上的象質(zhì)計(jì)影象位置應(yīng)正確，定位標(biāo)記和識(shí)別標(biāo)記齊全，且不掩蓋被檢焊縫影 象。5.16.3.2 在焊縫影象上，如能清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的象質(zhì)計(jì)金屬絲影象，就認(rèn)為是 可識(shí)別的。5.16.4 不允許的假缺陷在底片評(píng)定區(qū)域內(nèi)不應(yīng)有以下妨礙底片

55、評(píng)定的假缺陷。a.灰霧；b.處理時(shí)產(chǎn)生的條紋、水跡或化學(xué)污斑等缺陷；c.劃痕、指紋、臟物、靜電痕跡、黑點(diǎn)或撕裂等；d.由于增感屏不好造成的缺陷顯示。5.17 底片的觀察5.17.1 評(píng)片環(huán)境評(píng)片應(yīng)在專用評(píng)片室內(nèi)進(jìn)行。評(píng)片室內(nèi)的光線應(yīng)暗淡，但不全暗,室內(nèi)照明用光不得在底片表 而產(chǎn)生反射。5.17.2 觀片燈觀片燈最大亮度應(yīng)不小于100000cd/m2,且觀察的漫射光亮度應(yīng)可調(diào)。對(duì)不需要觀察或透 光量過(guò)強(qiáng)的部分應(yīng)采用適當(dāng)?shù)恼诠獍迤帘螐?qiáng)光。經(jīng)照射后的底片亮度應(yīng)不小于30cd/m2 o 5.18報(bào)告及驗(yàn)收標(biāo)記5.18.1報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a.委托單位、被檢工件名稱、編號(hào)；b.被檢工件材質(zhì)、母材厚

56、度；c.檢測(cè)裝置的名稱、型號(hào)；d.透照方法及透照規(guī)范；e.透照部位及工件草圖（或示意圖）；f.檢測(cè)結(jié)果、缺陷等級(jí)評(píng)定及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)名稱；g.返修情況；h.檢測(cè)人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；i.檢測(cè)日期。5.18.2驗(yàn)收標(biāo)記應(yīng)符合4.5條的規(guī)定。6焊縫射線透照缺陷等級(jí)評(píng)定6.1 鋼制壓力容器對(duì)接焊縫透照缺陷等級(jí)評(píng)定6.1.1 檢測(cè)范圍和一般要求6.1.1.1 本條適用于2250mm板厚的碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼制壓力容器對(duì)接焊縫的 X射線和y射線透照和缺陷等級(jí)評(píng)定。6.1.1.2 透照底片質(zhì)量等級(jí)、透照范圍和焊縫的缺陷等級(jí)評(píng)定，應(yīng)按產(chǎn)品技術(shù)條件和GB150的 規(guī)定選擇,并應(yīng)符合圖樣規(guī)定。6.1.2 底片質(zhì)量應(yīng)符合5.16條的規(guī)定。6.1.3 焊縫缺陷等級(jí)評(píng)定6.13.1 根據(jù)缺陷的性質(zhì)和數(shù)量,將焊縫缺陷分為