超聲波檢測(cè)(相關(guān)知識(shí))課件

超聲檢測(cè)是五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)之一，是目前應(yīng)用最廣泛，使用頻率最高且發(fā)展較快的一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。超聲檢測(cè)是產(chǎn)品制造中實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制、節(jié)約原材料、改進(jìn)工藝、提高勞動(dòng)生產(chǎn)率的重要手段，也是設(shè)備維護(hù)中可不或缺的手段之一。我國(guó)特種設(shè)備相關(guān)法規(guī)，如《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》《蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》《熱水鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》等都對(duì)特種設(shè)備的制造、安裝、修理改造或定期檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)提出了超聲檢測(cè)的要求。超聲檢測(cè)一般是指使超聲波與工件相互作用，就反射、衍射、透射和散射的波進(jìn)行研究，對(duì)工件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特性測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征，并進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)估的技術(shù)。在特種設(shè)備行業(yè)中，超聲檢測(cè)通常指宏觀缺陷檢測(cè)和材料厚度測(cè)量。超聲波檢測(cè)基礎(chǔ)

利用聲響來(lái)檢測(cè)物體的的好壞，這種方法早已被人們采用。如，用手拍西瓜，聽(tīng)是否熟了；敲瓷碗，聽(tīng)是否裂了。聲音反映物體內(nèi)部某些性質(zhì)，這早已為人所知。人類也很早就意識(shí)到，可能存在著人耳聽(tīng)不到的“聲音”。1817年克拉尼就指出了人的聽(tīng)覺(jué)所能聽(tīng)到的聲音的最高頻率為每秒二萬(wàn)二千次（22000赫茲）。1830年，法國(guó)物理學(xué)家薩伐爾(FelixSavart1791-1841)制作了一個(gè)高轉(zhuǎn)速齒輪，用以撥動(dòng)一片金屬片而產(chǎn)生了高達(dá)24000赫茲的超聲波。而真正促使人類研究利用超聲波進(jìn)行探測(cè)的事件是泰坦尼克號(hào)沉沒(méi)事件。1912年4月10日，被稱為“世界工業(yè)史上奇跡”的“永不沉沒(méi)”的“泰坦尼克號(hào)”從英國(guó)南安普頓出發(fā)駛往美國(guó)紐約開(kāi)始其處女航。15日23時(shí)40分，載著1316名乘客和891名船員的豪華巨輪在與冰山相撞繼而沉沒(méi)，1500人葬生海底，造成了在和平時(shí)期最嚴(yán)重的一次航海事故。此后不久，一個(gè)叫瑞查得森的人就向英國(guó)專利局申請(qǐng)了用在空氣和水下傳播的聲音回聲定位的專利。利用上述方案進(jìn)行探測(cè)的設(shè)備于1914年由美國(guó)的瑞格納德·Ａ·泰森德（ReginaldA.Tessenden）完成并在美國(guó)獲得的專利。20世紀(jì)70年代，英國(guó)原子能管理局無(wú)損檢測(cè)研究中心哈維爾（Harwell）實(shí)驗(yàn)室的M.G.silk提出了衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)（TOFD）。TOFD技術(shù)是一種利用缺陷端點(diǎn)的衍射信號(hào)檢測(cè)和測(cè)定缺陷尺寸的超聲檢測(cè)技術(shù)，近年來(lái)在西方工業(yè)發(fā)達(dá)國(guó)家已開(kāi)始廣泛應(yīng)用。近年來(lái)，超聲檢測(cè)技術(shù)一直是無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的研究熱點(diǎn)，隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，新的超聲檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用層出不窮，如超聲成像技術(shù)、導(dǎo)波技術(shù)、電磁超聲技術(shù)、超聲相控陣技術(shù)、激光超聲技術(shù)、量子聲學(xué)技術(shù)等等。我國(guó)開(kāi)始超聲檢測(cè)的研究和應(yīng)用時(shí)間較短。1950年鐵道部引進(jìn)若干臺(tái)瑞士制造的以聲響穿透式超聲波探傷儀，并用于路軌檢驗(yàn)，這是國(guó)內(nèi)應(yīng)用這一技術(shù)的開(kāi)端。經(jīng)過(guò)60年的發(fā)展，我國(guó)的超聲檢測(cè)技術(shù)取得了巨大的進(jìn)步。超聲檢測(cè)技術(shù)幾乎滲透到所有工業(yè)部門。建立了一只數(shù)量龐大專業(yè)技術(shù)人員隊(duì)伍，理論及應(yīng)用研究逐步深入，標(biāo)準(zhǔn)體系日漸完備，儀器設(shè)備制造行業(yè)蓬勃發(fā)展，管理水平逐步提高。但是，與發(fā)達(dá)國(guó)家相比，我國(guó)的超聲檢測(cè)總體水平還有很大差距，在人員、設(shè)備、投入、管理、標(biāo)準(zhǔn)等方面還有待進(jìn)一步提高。超聲在國(guó)防和國(guó)民經(jīng)濟(jì)中的用途可分為兩大類，一類是利用它的能量來(lái)改變材料的某些狀態(tài)．為此，需要產(chǎn)生相當(dāng)大或比較大能量的超聲，實(shí)際上是大功率超聲或簡(jiǎn)稱功率超聲，包括超聲清洗、超聲焊接、超聲切割等。超聲用途的第二類是利用它來(lái)采集信息，特別是材料內(nèi)部的信息，也就是超聲檢測(cè)。超聲波能夠用于檢測(cè)是由于它具有以下特性。1.超聲波穿透能力強(qiáng)它幾乎能穿透任何材料．對(duì)某些其它輻射能量不能穿透的材料，超聲便顯示出這方面的可用性，例如，第一次世界大戰(zhàn)中科學(xué)家考慮用超聲來(lái)偵察潛艇，便是因?yàn)槭熘墓獠ā㈦姶挪ǘ疾荒軡B透海洋．后來(lái)又興起超聲探傷、超聲診斷等，也都是因?yàn)榻饘?、人體等都是不透光介質(zhì)。2.超聲波波長(zhǎng)短，方向性好3.超聲波波長(zhǎng)短，能夠像光波一樣在界面產(chǎn)生反射、折射、衍射等現(xiàn)象。超聲波檢測(cè)有多種分類方法：按超聲波檢測(cè)原理劃分：包括脈沖反射法、穿透法和共振法三種。目前用得最多的是脈沖反射法。按超聲波探傷圖形的顯示方式劃分：有A型顯示、B型顯示、C型顯示等。按探傷波型分類，大致可分為縱波探傷法、橫波探傷法、表面波探傷法、板波探傷法、爬波法等按接觸方法分類：有直接接觸法和液浸法、電磁耦合法。直接接觸法就是在探頭和試件表面之間涂有很薄的耦合劑，可以認(rèn)為試件與探頭直接接觸。液浸法是在探頭和試件之間有液體，超聲波通過(guò)液體傳播進(jìn)入試件，液浸法受試件表面狀態(tài)影響不大，可以進(jìn)行穩(wěn)定的檢測(cè)。電磁耦合法是利用電磁探頭產(chǎn)生的洛倫茲力或磁致伸縮效應(yīng)在試件中激發(fā)和接收超聲波進(jìn)行檢測(cè)，探頭和試件之間可以不接觸，對(duì)工件表面狀態(tài)要求低。由于A型顯示脈沖反射式超聲波探傷法應(yīng)用最多，所以下面主要敘述該方法。1超聲波的發(fā)生及其性質(zhì)

一、機(jī)械波常見(jiàn)的波有兩大類:(1)機(jī)械波(機(jī)械振動(dòng)的傳播)(2)電磁波（交變電場(chǎng)、磁場(chǎng)的傳播）在微觀領(lǐng)域中還有物質(zhì)波。各種波的本質(zhì)不同,但其基本傳播規(guī)律有許多相同之處。由于我們研究的對(duì)象超聲波屬于機(jī)械波，所以下面重點(diǎn)討論機(jī)械波。二、超聲波的發(fā)生和接收超聲波一種高頻機(jī)械波。產(chǎn)生超聲波主要有兩種方式，一是利用磁致伸縮效應(yīng)（電磁換能器），二是利用壓電效應(yīng)（壓電換能器）。目前，工業(yè)檢測(cè)中大部分采用壓電材料制成的壓電換能器產(chǎn)生超聲波。要使壓電材料產(chǎn)生超聲波，可將它切成一定厚度的片子，稱為晶片，如圖所示。不同厚度片子對(duì)應(yīng)的共振頻率不同。將晶片兩面鍍上銀，作為電極（極化）。當(dāng)頻率等于晶片共振頻率的高頻電壓施加到電極上時(shí)，晶片由于逆壓電效應(yīng)將電振動(dòng)轉(zhuǎn)化成為機(jī)械振動(dòng)，機(jī)械振動(dòng)在工件中傳播形成超聲波。反之，高頻機(jī)械振動(dòng)（超聲波）傳播到晶片上時(shí)，晶片產(chǎn)生受迫振動(dòng)，在晶片兩電極間就會(huì)產(chǎn)生頻率等于超聲波頻率，強(qiáng)度與超聲波聲壓成正比的高頻電信號(hào)。這個(gè)高頻電信號(hào)經(jīng)過(guò)放大、檢波顯示在示波屏上，這就是超聲波的接收。圖1超聲波的發(fā)生2．

橫波（S或T）概念及產(chǎn)生機(jī)理橫波是指介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向互相垂直的波，用S或T表示。由于橫波的產(chǎn)生是在剪切應(yīng)力的作用下產(chǎn)生的，因此需要介質(zhì)能夠有剪切模量，才能承受剪切應(yīng)力，而只有固體介質(zhì)能夠承受剪切應(yīng)力，液體和氣體介質(zhì)中無(wú)剪切模量，因而不能產(chǎn)生橫波。所以只有固體介質(zhì)才能夠傳播橫波。

3．

表面波（SAW或R）的概念及產(chǎn)生機(jī)理當(dāng)介質(zhì)表面受到交變應(yīng)力作用時(shí)，產(chǎn)生的沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑サ牟?，稱為表面波，常用R表示，是英國(guó)的物理學(xué)家瑞利于1887年首先提出來(lái)的，因此又稱表面波為瑞利波。

表面波在介質(zhì)表面?zhèn)鞑r(shí)，介質(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)做橢圓運(yùn)動(dòng)，橢圓長(zhǎng)軸垂直于波的傳播方向，短軸平行于波的傳播方向。橢圓運(yùn)動(dòng)可視為縱向振動(dòng)與橫向振動(dòng)的合成，即縱波與橫波的合成。因此表面波與橫波一樣只能在固體介質(zhì)中傳播，不能在液體或氣體中傳播。

表面波只能在固體介質(zhì)中傳播，表面波的能量隨傳播深度增加而迅速減弱。當(dāng)傳播深度超過(guò)兩倍波長(zhǎng)時(shí)，指點(diǎn)的振幅就已經(jīng)很小了，因此，一般認(rèn)為，表面波只能檢測(cè)距表面兩倍波長(zhǎng)深度內(nèi)的缺陷。圖3表面波示意圖4.板波（PW）的概念及產(chǎn)生機(jī)理是指在板中激勵(lì)的與板厚相當(dāng)波長(zhǎng)的波，稱為板波。根據(jù)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向不同可將板波分為SH波和蘭姆波。（1）SH波，是水平偏振的橫波在波板中傳播的波。波板中各質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向平行于板面而垂直于波的傳播方向，相當(dāng)于固體介質(zhì)表面中的橫波。（2）蘭姆波，（lambwave）可分為對(duì)稱型（S型）和非對(duì)稱型(A型)。

對(duì)稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作縱向振動(dòng)，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動(dòng)、振動(dòng)相位相反并對(duì)稱于中心。

非對(duì)稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作橫向振動(dòng)，上下表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動(dòng)、相位相同，不對(duì)稱。

在超聲波檢測(cè)中，通常采用直探頭產(chǎn)生縱波，縱波是向探頭接觸面垂直的方向傳播的，如下圖所示。斜探頭是將晶片貼在有機(jī)玻璃等透聲材料制成的斜鍥上，晶片激發(fā)的縱波，在被檢工件表面產(chǎn)生波形轉(zhuǎn)換，從而在工件中產(chǎn)生橫波。當(dāng)縱波入射角在第一、二臨界角之間時(shí)，工件中只有折射橫波，實(shí)現(xiàn)純橫波檢測(cè)。如下圖所示。圖4直探頭1-阻尼塊2-接地環(huán)3-晶片圖5斜探頭1-吸聲材料2-檢測(cè)面3-斜鍥4-晶片由以上公式可知：（1）固體介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，則聲速越大（2）聲速與波的類型有關(guān)，在同一種固體介質(zhì)中，縱波、橫波和表面波的聲速各不相同，并存在如下關(guān)系：CL>CS>CR對(duì)于鋼材:CL:CS:CR=1.8:1:0.9液體、氣體介質(zhì)中聲速由于液體和氣體不能承受剪切應(yīng)力，所以液體氣體中不能傳播橫波。雖然液體氣體也不能承受拉應(yīng)力，但是壓應(yīng)力的作用下會(huì)產(chǎn)生容變，從而能夠傳播縱波?？v波聲速：B：液體、氣體介質(zhì)的容變彈性模量，表示產(chǎn)生單位容積相對(duì)變化量所需的壓強(qiáng)；ρ：液體、氣體介質(zhì)的密度由上式可知，液體、氣體介質(zhì)中的縱波聲速與其容變彈性模量和密度有關(guān)，介質(zhì)的容變彈性模量越大，密度越小，則聲速越大。幾乎除水以外的所有液體當(dāng)溫度升高時(shí)，容變彈性模量減小，聲速降低。水是溫度在74攝氏度左右時(shí)聲速達(dá)最大值?？諝庵新曀?40m/s，水中聲速1500m/s，鋼中縱波聲速5900m/s五、超聲場(chǎng)及其特征量充滿超聲波的空間或超聲振動(dòng)所波及的部分介質(zhì)，叫超聲場(chǎng)。描述超聲場(chǎng)的特征量有聲壓、聲強(qiáng)、聲阻抗等。1.聲壓P聲壓是指超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一時(shí)刻所具有的壓強(qiáng)P1與沒(méi)有超聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)P。之差，用P表示，P=P1-P。單位：帕斯卡Pａ。

聲壓與介質(zhì)密度、波速、頻率成正比。因超聲波的頻率很高，故聲壓遠(yuǎn)大于聲波的聲壓。*探傷儀示波屏上波高與聲壓成正比2.聲強(qiáng)I

單位時(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積的聲能稱為聲強(qiáng)，常用I表示。單位:瓦/厘米2(W/cm2)或焦耳/厘米2秒(J/cm2S)當(dāng)超聲波傳播到介質(zhì)中某處時(shí)，該處原來(lái)靜止不動(dòng)的體積元開(kāi)始振動(dòng)，因而具有了動(dòng)能。同時(shí)該體積元會(huì)產(chǎn)生彈性變形，因而具有彈性勢(shì)能，其總能量為二者之和。超聲波傳播時(shí)，介質(zhì)由近及遠(yuǎn)一層一層振動(dòng)，能量便逐層傳播出去。聲壓與聲強(qiáng)的關(guān)系如下式：聲阻抗Z(表征介質(zhì)聲學(xué)特性的重要物理量)超聲場(chǎng)中任一點(diǎn)的聲壓與該處質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱為聲阻抗，用“Z”表示。單位：Kg/m2s；g/cm2s。Z=P/u=ρCu/u=ρC根據(jù)上式可知，聲壓一定的條件下，Z增加，質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度u下降。因此聲阻抗Z可以理解為介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作用。一般材料的聲阻抗隨溫度升高而降低,這是因?yàn)榇蠖鄶?shù)材料的密度ρ和聲速c隨溫度增加而減小。異質(zhì)界面上反射、透射情況與兩種介質(zhì)的聲阻抗密切相關(guān)。

六、分貝產(chǎn)生的背景：生產(chǎn)科學(xué)實(shí)驗(yàn)中，聲強(qiáng)數(shù)量級(jí)往往相差懸殊，如引起聽(tīng)覺(jué)的聲強(qiáng)范圍為10-16_10-4瓦/厘米2，最大值與最小值相差12個(gè)數(shù)量級(jí)。顯然采用絕對(duì)量來(lái)度量是不方便的,但如果對(duì)其比值(相對(duì)量)取對(duì)數(shù)來(lái)比較計(jì)算則可大大簡(jiǎn)化運(yùn)算。分貝與奈培就是兩個(gè)同量綱的量之比取對(duì)數(shù)后的單位。通常規(guī)定引起聽(tīng)覺(jué)的最弱聲強(qiáng)I1=10-16瓦/厘米2為作為聲強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)，另一聲強(qiáng)I2與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)I1之比的常用對(duì)數(shù)稱為聲強(qiáng)級(jí)，單位為貝爾(BeL)。實(shí)際應(yīng)用貝爾太大，故常取1/10貝爾即分貝(dB)來(lái)作單位。(BeL)(dB)七超聲波垂直入射到界面時(shí)的反射和透射超聲波從一種介質(zhì)傳播到另一種介質(zhì)時(shí)，在兩種介質(zhì)的分界面上，一部分能量反射回原介質(zhì)內(nèi)，稱反射波；另一部分能量透過(guò)界面在另一種介質(zhì)內(nèi)傳播，稱透射波。在界面上聲能（聲壓、聲強(qiáng)）的分配和傳播方向的變化都將遵循一定的規(guī)律。單一平界面的反射率與透射率在界面兩側(cè)的聲波，必須符合下列兩個(gè)條件：（1）界面兩側(cè)的總聲壓相等，即p0+pr=pt。（相位關(guān)系，力平衡）（2）界面兩側(cè)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度幅值相等，即（p0-pr）/Z1=pt/Z2（能量平衡）由上述兩邊界條件和聲壓反射率、透射率定義得：解上述聯(lián)立方程得聲壓反射率r和透射率t分別為：?jiǎn)我黄浇缑娴姆瓷渎逝c透射率界面上反射波聲強(qiáng)Ir與入射波聲強(qiáng)I0之比稱為聲強(qiáng)反射率，用R表示。

界面上透射波聲強(qiáng)It與入射波聲強(qiáng)I0之比稱為聲強(qiáng)透射率，用T表示。超聲波垂直入射到平界面上時(shí)，聲壓或聲強(qiáng)的分配比例僅與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)。由以上幾式可以導(dǎo)出：T+R=1t-r=1討論：當(dāng)Z2>Z1時(shí)，如水/鋼當(dāng)Z1>Z2時(shí)，如鋼/水當(dāng)Z1>>Z2時(shí)，（如鋼/空氣界面）

當(dāng)Z1≈Z2時(shí)，如普通碳鋼焊縫的母材與填充金屬之間

單一平界面的反射率與透射率單一平界面的反射率與透射率以上討論為超聲波縱波垂直到單一平界面上的聲壓、聲強(qiáng)反射率和透射率同樣適用于橫波入射的情況，但必須注意的是在固體/液體或固體/氣體界面上，橫波全反射。因?yàn)闄M波不能在液體和氣體中傳播。

八超聲波傾斜入射到界面時(shí)的反射和折射

波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律當(dāng)超聲波傾斜入射到界面時(shí)，除產(chǎn)生同種類型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn)生不同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換

圖6聲波傾斜入射示意圖波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律

1．縱波斜入射當(dāng)縱波L傾斜入射到界面時(shí)，除產(chǎn)生反射縱波L′和折射縱波L″外，還會(huì)產(chǎn)生反射橫波S′和折射橫波S″，如前圖所示。各種反射波和折射波方向符合反射、折射定律(snell定律）：

波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律由于在同一介質(zhì)中縱波波速不變，因此。又由于在同一介質(zhì)中縱波波速大于橫波波速，因此（1）第一臨界角αⅠ：（2）第二臨界角αⅡ：圖7臨界角示意圖波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律由αⅠ和αⅡ的定義可知：①α<αⅠ時(shí)，第二介質(zhì)中既有折射縱波L″又有折射橫波S″。②αⅠ～αⅡ時(shí)，第二介質(zhì)中只有折射橫波S″，沒(méi)有折射縱波L″，這就是常用橫波探頭制作和橫波檢測(cè)的原理。α≥αⅡ時(shí)，第二介質(zhì)中既無(wú)折射縱波L″，又無(wú)折射橫波S″。這時(shí)在其介質(zhì)的表面存在表面波R，這就是常用表面波探頭的制作原理。例如，縱波傾斜入射到有機(jī)玻璃/鋼界面時(shí)，有機(jī)玻璃中cL1=2730m/s，水中cL1=1480m/s，鋼中：cL2=5900m/s，cS2=3230m/s。則第一、二臨界角分別為：波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律αⅠαⅡ由此可見(jiàn)有機(jī)玻璃橫波探頭楔塊角度有機(jī)玻璃表面波探頭楔塊角度≥57.7度。波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律2．橫波斜入射當(dāng)橫波傾斜入射到界面時(shí)，同樣會(huì)產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換。入射角增加到一定程度時(shí)，=90°,在第一介質(zhì)中只有反射橫波，沒(méi)有反射縱波，即橫波全反射，這時(shí)所對(duì)應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角，用αⅢ表示αⅢ對(duì)于鋼：cL1=5900m/s，CS1=3230m/s，

αⅢ當(dāng)≥33.2°時(shí)，鋼中橫波全反射。波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律在實(shí)際的橫波斜探頭探傷中，入射到工件中的橫波斜射到與探測(cè)面平行的底面，對(duì)底面的橫波入射角都大于第三臨界角，故不會(huì)出現(xiàn)反射縱波；如射到不平行探測(cè)面的反射面上，則橫波入射角有可能小于第三臨界角，從而出現(xiàn)反射縱波與反射橫波同時(shí)存在的情況，如圖所示示例。

圖8橫波入射產(chǎn)生變形縱波端角反射超聲波在兩個(gè)平面構(gòu)成的直角內(nèi)的反射稱為端角反射，如圖9所示。在端角反射中超聲波經(jīng)歷了兩次反射，如不考慮波型轉(zhuǎn)換，第二次反射回波與入射波互相平行，回波聲壓Pa與入射波聲壓P0之比稱為端角反射率，用T端表示，即T端＝Pa/P0。圖10為鋼空氣界面上鋼中的端角反射率與入射角的關(guān)系圖。圖(a)是縱波入射端角的情況，端角反射率大都很低，這是因?yàn)榭v波在端角的兩次反射中分離出較強(qiáng)的橫波。圖9端角反射示意圖端角反射圖b是橫波入射端角的情況，入射角等于30°或60°附近時(shí)，端角反射率最低。入射角在35°～55°之間時(shí)，端角反射率達(dá)100％。也就是說(shuō)，橫波斜探頭的折射角βS為35°～55°（K＝tgβS＝0.7～1.43）之間時(shí)，探測(cè)類似端角的缺陷（例如焊縫中的未焊透）靈敏度較高，βS＞55°（K＞1.5）靈敏度較低。圖10端角反射率與入射角的關(guān)系九超聲波的衰減

超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著距離增加，超聲波能量逐漸減弱的現(xiàn)象叫做超聲波衰減。衰減的原因波束擴(kuò)散、晶粒散射和介質(zhì)吸收

1.擴(kuò)散衰減在聲波的傳播過(guò)程中，隨著傳播距離的增大，聲波的聲束不斷擴(kuò)展增大，因此單位面積上的聲能(或聲壓)隨距離的增大而減弱，這種衰減稱為擴(kuò)散衰減。擴(kuò)散衰減僅取決于波陣面的幾何形狀而與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。在遠(yuǎn)離聲源的聲場(chǎng)中，球面波的聲壓P與至聲源距離a成反比(即P∝1/a)，而柱面波則為P∝(1/a)1/2。對(duì)于平面波，聲能(或聲壓)不隨傳播距離而變化，不存在擴(kuò)散衰減。2.散射衰減由于實(shí)際材料不可能是絕對(duì)均勻的，例如材料中有外來(lái)雜質(zhì)、金屬中的第二相析出、晶粒的任意取向等均會(huì)導(dǎo)致整個(gè)材料聲阻抗不均，從而引起聲的散射。被散射的超聲波在介質(zhì)中沿著復(fù)雜的路徑傳播下去，最終變成熱能，聲能被消耗，聲強(qiáng)（或聲壓）被減弱，這種衰減稱為散射衰減。散射衰減與材質(zhì)的晶粒密切相關(guān)，當(dāng)材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播到探頭，在示波屏上引起林狀回波(又叫草波)，使信噪比下降，嚴(yán)重時(shí)噪聲會(huì)湮沒(méi)缺陷波。3.吸收衰減超聲波在分質(zhì)中傳播時(shí)，由于介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間內(nèi)摩擦(即粘滯性)和熱傳導(dǎo)引起超聲波的衰減，稱為吸收衰減或粘滯衰減。衰減方程與衰減系數(shù)1.衰減方程平面波：式中：P0—入射到材料界面上時(shí)的聲壓；

P—超聲波在材料中傳播一段距離s后的聲壓；

α——衰減系數(shù)。球面波：

柱面波：衰減方程與衰減系數(shù)2.衰減系數(shù)衰減系數(shù)α只考慮了介質(zhì)的散射和吸收衰減，未涉及擴(kuò)散衰減。對(duì)于金屬材料等固體介質(zhì)而言，介質(zhì)衰減系數(shù)α等于散射衰減系數(shù)和吸收衰減系數(shù)之和。c1—與晶粒大小和各向異性無(wú)關(guān)的常數(shù)；f—超聲波頻率。c1、c2、c3、c4—常數(shù)；F—各向異性因子；d—晶粒直徑，λ—波長(zhǎng)。衰減方程與衰減系數(shù)（1）介質(zhì)的吸收衰減與頻率成正比。（2）介質(zhì)的散射衰減與f、d、F有關(guān)在實(shí)際檢測(cè)中，當(dāng)介質(zhì)晶粒較粗大時(shí)，若采用較高的頻率，將會(huì)引起嚴(yán)重衰減這就是晶粒較大的奧氏體鋼和一些鑄件檢測(cè)的困難所在。（3）對(duì)于液體介質(zhì)而言，主要是介質(zhì)的吸收衰減。由上式可知，液體介質(zhì)的衰減系數(shù)a與介質(zhì)的粘滯系數(shù)和頻率平方成正比，與介質(zhì)中的密度和波速立方成反比。由于η、p、c與溫度有關(guān)，所以a也與溫度有關(guān)。一般是a隨溫度的升高而降低。這是因?yàn)闇囟壬撸肿訜徇\(yùn)動(dòng)加劇，有利于超聲波的傳播。超聲波發(fā)射的超聲波，具有特殊的結(jié)構(gòu)。只有當(dāng)缺陷位于超聲場(chǎng)內(nèi)時(shí)，才有可能被發(fā)現(xiàn)。由于液體介質(zhì)中的聲壓可以進(jìn)行線性疊加，并且測(cè)試方便，因此對(duì)聲場(chǎng)的理論分析研究一般從流體介質(zhì)入手，然后在一定條件下過(guò)渡到固體介質(zhì)。又由于我們目前廣泛應(yīng)用脈沖反射法檢測(cè)，此因還討論了各種規(guī)則反射體的回波聲壓。十超聲波發(fā)射聲場(chǎng)與規(guī)則反射體的回波聲壓

1、波源軸線上的聲壓分布如圖所示，將圓盤(pán)聲源看成活塞聲源，設(shè)該活塞聲源上各點(diǎn)以同相位、同速度的簡(jiǎn)諧振動(dòng)輻射聲能。圓盤(pán)可以看成是由無(wú)數(shù)多個(gè)面積為dS的小面積元組成，每個(gè)小面積元都是向半空間輻射球面波的點(diǎn)聲源點(diǎn)聲源滿足kr0<<1的條件（k為波數(shù)，r0為所取點(diǎn)源的半徑）

圓盤(pán)波源輻射的縱波聲場(chǎng)圖11圓盤(pán)源軸線上聲壓推導(dǎo)圖則根據(jù)特殊形式的波動(dòng)方程求得點(diǎn)聲源聲束軸線上距聲源x處Q點(diǎn)的聲壓為：式中ρ0-介質(zhì)平衡狀態(tài)的密度；c0-聲速；k-波數(shù)k＝ω/c0；r-面元至Q點(diǎn)的距離，ua-聲源表面振動(dòng)速度幅值；ω-聲源振動(dòng)的圓頻率整個(gè)圓盤(pán)聲源向半空間內(nèi)輻射的總聲壓為：下面在極坐標(biāo)系下求解該定積分。由圖中的位置關(guān)系可知，面元至Q點(diǎn)的距離：設(shè)，則當(dāng)R=0時(shí)，U=x；當(dāng)R=Rs時(shí)，將代入公式，則上式中，P0表示聲源處的初始聲壓。則聲源軸線上聲壓幅值為：此即為活塞波的聲壓表達(dá)式，此式在使用時(shí)仍感復(fù)雜，對(duì)常用的X≥3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，聲束的特點(diǎn)是只具有一個(gè)主聲束，而且軸線上的聲壓隨距離增加而單調(diào)下降，因此在3N后的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)可導(dǎo)出一個(gè)近似公式。近似公示的導(dǎo)出可分兩步：①在活塞波聲壓公式中，對(duì)根號(hào)項(xiàng)寫(xiě)作(X2+R2)1/2并按牛頓二項(xiàng)式：

展開(kāi)，取前兩項(xiàng)②在θ很小的時(shí)候，()sinθ→θ，故聲壓幅值公式變?yōu)椋荷鲜奖砻?，?dāng),圓盤(pán)波軸線上的聲壓與距離成反比，與波源面積成正比。也就是說(shuō)圓盤(pán)波在遠(yuǎn)場(chǎng)符合球面波的變化規(guī)律。圓盤(pán)波軸線上的聲壓分布如下圖所示。圖11圓盤(pán)軸線上的聲壓分布

（1）近場(chǎng)區(qū)的定義：波源軸線上最后一個(gè)聲壓極大值距波源的距離，稱近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，用N表示。由活塞波的聲壓公式可導(dǎo)出近場(chǎng)區(qū)內(nèi)聲束軸線上聲壓極大值（即P=2P0）當(dāng)時(shí)，聲壓有極大值。極大值對(duì)應(yīng)的距離為：式中n=0,1…(2Rs-λ)/2λ，共有n+1個(gè)極大值，其中n=0是最后一個(gè)極大值。

因此近場(chǎng)長(zhǎng)度為：同理可得聲壓極小值對(duì)應(yīng)的距離為：式中n=0,1…Rs/λ，共有n個(gè)極小值。近場(chǎng)區(qū)內(nèi)有若干個(gè)極大值和極小值，說(shuō)明近場(chǎng)區(qū)內(nèi)聲壓不穩(wěn)，在實(shí)際檢測(cè)對(duì)缺陷定量不利。處于聲壓極小值處的較大缺陷回波聲壓可能很低，而處于聲壓極大值處的較小缺陷可能回波聲壓較高，這樣容易引起誤判或漏檢。在實(shí)際檢測(cè)中應(yīng)盡可能避免在近場(chǎng)區(qū)定量檢測(cè)。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)：x>N的區(qū)域，聲壓隨距離增加而單調(diào)減少，稱為遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。當(dāng)時(shí)，聲壓近似球面波的規(guī)律。這是因?yàn)榫嚯x足夠大時(shí)，波源各點(diǎn)至軸線上某點(diǎn)的聲程差很小，引起的相位差也很小，這時(shí)干涉現(xiàn)象可以忽略不計(jì)。2、超聲場(chǎng)截面的聲壓分布橫截面的聲壓分布：在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的中心軸線上存在聲壓為零的截面，如圖所示0.5N處，但偏離中心較高。在x≥N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，中心最高，兩邊漸漸低，規(guī)定2N以外測(cè)定聲束偏離和探頭K值才準(zhǔn)確。圖12聲束橫截面聲壓分布

3、波束的指向性和半擴(kuò)散角

波源在充分遠(yuǎn)處任意一點(diǎn)的聲壓P(r，θ)與波源軸線上同距離處聲壓P（r,0）之比，稱為指向性系數(shù)，如下圖所示，用DC表示：圖13遠(yuǎn)場(chǎng)中任意一點(diǎn)聲壓推導(dǎo)圖點(diǎn)波源ds在至波源距離遠(yuǎn)處任意點(diǎn)M（r,θ)處引起的聲壓為：整個(gè)圓盤(pán)波在點(diǎn)M（r,θ)處引起的總聲壓幅值為：式中：J1為一階Bessel函數(shù)

指向性系數(shù)：令，則DC與y的關(guān)系曲線如下圖所示：圖14圓盤(pán)波束指向性示意圖由圖可知以下結(jié)論：（1）這說(shuō)明超聲場(chǎng)中至波源充分遠(yuǎn)處同一橫截面上各點(diǎn)的聲壓是不同的，以軸線上的聲壓為最高。實(shí)際探傷中，只有當(dāng)波束軸線垂直于缺陷時(shí)，缺陷回波最高就是這個(gè)原因。（2）當(dāng)y=kRssinθ=3.73,7.02,10.17,…時(shí)，Dc=P(r，θ)/P(r，0)=0，即P(r，θ)=0。這說(shuō)明圓盤(pán)源輻射的縱波聲場(chǎng)中存在一些聲壓為零的圓錐面。由y=kRssinθ=3.73得：

θ0＝arcsin1.22λ/Dsθ0-圓盤(pán)波輻射縱波聲場(chǎng)的第一零值發(fā)散角，即半擴(kuò)散角。（3）當(dāng)y>3.83，即θ>θ0時(shí)，|Ds|<0.15。這說(shuō)明半擴(kuò)散角以外的聲場(chǎng)聲壓很低，超聲波的能量主要集中在半擴(kuò)散角以內(nèi)。因此可以認(rèn)為半擴(kuò)散角限制了波束的范圍。（4）2θ0以內(nèi)的波束稱為主波束，只有當(dāng)缺陷位于主波束范圍時(shí)，才容易被發(fā)現(xiàn)。以確定的擴(kuò)散角向固定的方向輻射超聲波的特性稱為波束指向性。（5）由于超聲波主波束以外的能量很低和介質(zhì)對(duì)超聲波的衰減作用，使第一零值發(fā)射角以外的波束只能在波原附近傳播，因此在波源附近形成一些副瓣。（6）增加探頭的直徑、提高探頭的頻率，半擴(kuò)散角將減小，可以改善聲束指向性，能量集中，有利于提高探傷靈敏度。但增大了近場(chǎng)長(zhǎng)度，對(duì)探傷反而不利。實(shí)際是合理選擇直徑和頻率，保證探傷靈敏度下，盡量減少近場(chǎng)長(zhǎng)度。

與聲壓幅值有關(guān)的半擴(kuò)散角γ在某些時(shí)候，例如在TOFD超聲檢測(cè)中，往往更關(guān)心聲束截面上的聲壓變化。比如聲壓幅值從聲壓軸線上下降一定dB時(shí)，聲束的半擴(kuò)散角是多大，如教材3－8所示。為此引入與聲壓幅值有關(guān)的半擴(kuò)散角γ的概念，它與半擴(kuò)散角不同。其理論推導(dǎo)復(fù)雜，一般根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式確定。式中λ－介質(zhì)中波長(zhǎng)，Ds－聲源直徑，F(xiàn)－常數(shù)因子4、波束未擴(kuò)散區(qū)與擴(kuò)散區(qū)1）超聲波波源輻射的超聲波是以特定的角度向外擴(kuò)散出去的，但并不是從波源開(kāi)始擴(kuò)散的。而是在波源附近存在一個(gè)未擴(kuò)散區(qū)b，其理想化的形狀如下圖。

圖15圓盤(pán)源理想化聲場(chǎng)中的未擴(kuò)散區(qū)和擴(kuò)散區(qū)由圖中的幾何關(guān)系可得：2）在波束未擴(kuò)散區(qū)b內(nèi)，波束不擴(kuò)散，不存在擴(kuò)散衰減，各截面平均聲壓基本相同。因此薄板試塊前幾次底波相差無(wú)幾。到波源的距離x>b的區(qū)域稱為擴(kuò)散區(qū)，擴(kuò)散區(qū)內(nèi)波束擴(kuò)散衰減。

規(guī)則反射體回波聲壓實(shí)際超聲檢測(cè)中常用反射法,反射法是根據(jù)缺陷反射回波聲壓的高低來(lái)評(píng)價(jià)缺陷的大小。由于工件中缺陷的形狀性質(zhì)各不相同,目前的檢測(cè)技術(shù)還難以確定缺陷的真實(shí)大小和形狀。回波聲壓相同缺陷,其實(shí)際大小可能相差很大,為此引入當(dāng)量法。當(dāng)量法的定義：在同樣的探測(cè)條件下,當(dāng)自然缺陷回波與某人工反射體回波等高時(shí),就認(rèn)定該人工反射體尺寸就是此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。(自然缺陷的實(shí)際尺寸往往大于當(dāng)量尺寸)超聲波檢測(cè)中常用的規(guī)則反射體種類主要有：平底孔、長(zhǎng)橫孔、短橫孔、球孔、大平底、圓柱曲底面等?？紤]到介質(zhì)衰減的各幾何體返回聲壓公式：平底孔回波聲壓：長(zhǎng)橫孔回波聲壓：短橫孔回波聲壓：球孔回波聲壓：大平底與實(shí)心圓柱體回波聲壓：空心圓柱體外圓檢測(cè)回波聲壓：空心圓柱體外圓檢測(cè)回波聲壓：式中：x—探測(cè)距離（x>3N）;Ff—平底孔面積=πDf2/4;d—空心圓柱體內(nèi)徑；lf—短橫孔長(zhǎng)度；D—空心圓柱體外徑；Df—平底孔、長(zhǎng)橫孔、短橫孔、球孔直徑；α—介質(zhì)單程衰減系數(shù)=dB/mm2超聲波檢測(cè)原理與分類超聲波檢測(cè)可以分為超聲波探傷、超聲波測(cè)厚、超聲波測(cè)量晶粒度、應(yīng)力等。在超聲探傷中，有根據(jù)缺陷的回波和底面的回波進(jìn)行判斷的脈沖反射法；有根據(jù)缺陷的陰影來(lái)判斷缺陷情況的穿透法，還有根據(jù)由被檢物產(chǎn)生駐波來(lái)判斷缺陷情況或者判斷板厚的共振法。目前用得最多的方法是脈沖反射法。脈沖反射法在垂直探傷時(shí)用縱波，在斜入射探傷時(shí)大多用橫波。把超聲波射人被檢物的一面，然后在同一面接收從缺陷處反射回來(lái)的回波，根據(jù)回波情況來(lái)判斷缺陷的情況?？v波垂直探傷和橫波傾斜人射探傷是超聲波探傷中兩種主要探傷方法。兩種方法各有用途，互為補(bǔ)充，縱波探傷容易發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面平行或稍有傾斜的缺陷，主要用于鋼板、鍛件、鑄件的探傷，而斜射的橫波探傷，容易發(fā)現(xiàn)垂直于探測(cè)面或傾斜較大的缺陷，主要用于焊縫的探傷。超聲波檢測(cè)方法的分類超聲波檢測(cè)按原理分類1.脈沖反射法脈沖反射法：超聲波探頭發(fā)射脈沖波到被檢試件內(nèi)，根據(jù)反射波的情況來(lái)檢測(cè)試件缺陷的方法，稱為脈沖反射法。圖16脈沖反射法的原理2.穿透法是依據(jù)脈沖波或連續(xù)波穿透試件之后的能量變化來(lái)判斷缺陷情況的一種方法。3.共振法若頻率可調(diào)的連續(xù)超聲波在被檢工件內(nèi)傳播，當(dāng)試件的厚度為超聲波的半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，將引起共振，儀器顯示出共振頻率，用相鄰的兩個(gè)共振頻率之差可算出試件厚度。當(dāng)試件內(nèi)存在缺陷或工件厚度發(fā)生變化時(shí)，將改變?cè)嚰墓舱耦l率。依據(jù)試件的共振特性，來(lái)判斷缺陷情況和工件厚度變化的方法稱為共振法。4.超聲波衍射時(shí)差法利用工件中缺陷上下端點(diǎn)衍射信號(hào)進(jìn)行缺陷檢測(cè)與尺寸測(cè)量的一種方法。按顯示方式分類按超聲信號(hào)的顯示方式，將超聲檢測(cè)方法分為A型顯示和超聲成像方法，其中超聲成像顯示又分為B、C、D、S、P型顯示。A型顯示是將超聲信號(hào)的幅度與傳播時(shí)間的關(guān)系在直角坐標(biāo)系中顯示出來(lái)，橫坐標(biāo)代表聲波的傳播時(shí)間，縱坐標(biāo)代表信號(hào)幅度。是最基本的信號(hào)顯示方式。根據(jù)檢測(cè)采用的波型，可分為縱波法、橫波法、表面波法、板波法、爬波法等。1.縱波法使用直探頭發(fā)射縱波，進(jìn)行探傷的方法，稱為縱波法。此法波束垂直入射至試件探測(cè)面，以不變的波型和方向透入試件，所以又稱為垂直入射法，簡(jiǎn)稱垂直法。垂直法分為單晶探頭反射法、雙晶探頭反射法和穿透法。常用的是單晶探頭反射法。原理如圖所示超聲波檢測(cè)方法按波形分類圖17縱波探傷原理示意圖當(dāng)把脈沖振蕩器的電壓施加到晶片上時(shí)，晶片振動(dòng)產(chǎn)生超聲波，進(jìn)入工件中進(jìn)行傳播，當(dāng)遇到工件中的缺陷時(shí)，一部分被反射回來(lái)，一部分繼續(xù)傳播到底面再返回，缺陷處和底面處的反射回波都被晶片接收，反過(guò)來(lái)被轉(zhuǎn)換成高頻電壓。電信號(hào)被接收和放大后進(jìn)入示波器。示波器將缺陷回波和底面回波顯示在熒光屏．因此，在示波管上可以得到如圖所示的圖形。從這個(gè)圖形上可以看出有沒(méi)有缺陷、缺陷的位置及其大小。對(duì)于脈沖反射式超聲波探傷儀，熒光屏的時(shí)基線和激勵(lì)脈沖是被同時(shí)觸發(fā)的，即處于同步狀態(tài)下工作。當(dāng)探頭被激勵(lì)而向工件發(fā)射超聲波時(shí)，激勵(lì)脈沖也被饋致接收電路觸發(fā)時(shí)基電路開(kāi)始掃描，在時(shí)基線的始端出現(xiàn)一個(gè)很強(qiáng)的脈沖波，這個(gè)波稱為“始波”，用T表示；當(dāng)探頭接收到底面反射回來(lái)的聲波時(shí)，時(shí)基線上右邊相應(yīng)呈現(xiàn)一個(gè)表示底面反射的脈沖波，稱為“底波”，用B表示。時(shí)基線由T掃描到B的時(shí)間正等于超聲脈沖從探頭到底面又返回探頭的傳播時(shí)間。因此，可以說(shuō)從T到B之間的距離代表了工件的厚度。如果工件中有缺陷，探頭接收到缺陷反射回來(lái)的聲波時(shí)，時(shí)基線上相應(yīng)呈現(xiàn)出一個(gè)代表缺陷的脈沖波，稱為“缺陷波”，用F表示。顯然，缺陷波所經(jīng)時(shí)間短于底波所經(jīng)時(shí)間，故缺陷波F應(yīng)處于T、B之間。如果探傷儀的時(shí)基線良好，就可以利用T、F、B之間的距離關(guān)系，對(duì)缺陷定位。另外，因缺陷回波高度hf是隨缺陷尺寸的增大而增高的．所以可由缺陷回波高度hf來(lái)估計(jì)缺陷大小。當(dāng)缺陷很大時(shí)，可以移動(dòng)探頭，按顯示缺陷的范圍來(lái)求出缺陷的延伸尺寸。

2.橫波法將縱波通過(guò)楔塊、水等介質(zhì)傾斜入射至試件探測(cè)面，利用波型轉(zhuǎn)換得到橫波進(jìn)行探傷的方法，稱為橫波法。由于透入試件的橫波束與探測(cè)面成銳角，所以又稱斜射法。橫波法原理如圖所示。圖18橫波探傷的幾何關(guān)系在斜射法探傷中，由于超聲波在被檢工件中是斜向傳播的，超聲波是斜向射到工件底面，所以不會(huì)有底面回波。因此，不能再用底面回波調(diào)節(jié)來(lái)對(duì)缺陷進(jìn)行定位。而要知道缺陷位置，需要用適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)把示波器橫坐標(biāo)調(diào)整到適當(dāng)狀態(tài)。通常采用JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的CSK一IA試塊和橫孔試塊來(lái)進(jìn)行調(diào)整。

在測(cè)定范圍作了適當(dāng)調(diào)整后，探測(cè)到缺陷時(shí)，從示波管上顯示的探頭到缺陷的距離W與缺陷位置的關(guān)系如圖18所示。從以下關(guān)系式可以求出缺陷位置水平距離X和缺陷深度d。X=Wsinθd=Wcosθ對(duì)掃描比例調(diào)整有三種方法：

(l）按水平距離調(diào)整掃描線。通過(guò)調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的水平距離x，在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏仁水平刻度位置可直接讀出缺陷的水平距離。(2）按深度調(diào)整掃描線。通過(guò)調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的深度d。在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏上水平刻度線上的位置可直接讀出缺陷的深度。(3）按聲程調(diào)整掃描線。通過(guò)調(diào)整，使時(shí)基線刻度按一定比例代表反射點(diǎn)的聲程W。在探傷時(shí)，根據(jù)缺陷波在熒光屏七時(shí)基線上的位置可直接讀出缺陷的聲程。數(shù)字式超聲波探傷儀只需調(diào)整好探頭延遲和K值即可獲得回波的聲程、水平、深度位置。3表面波法使用表面波進(jìn)行探傷的方法，稱為表面波法。這種方法主要用于表面光滑的試件。表面波波長(zhǎng)比橫波波長(zhǎng)還短，因此衰減也大于橫波。同時(shí)，它僅沿表面?zhèn)鞑?，?duì)于表面上的覆蓋層、油污、不光潔等，反應(yīng)敏感，并被大量地衰減。利用此特點(diǎn)可以通過(guò)手沾油在聲束傳播方向上進(jìn)行觸摸并觀察缺陷回波高度的變化，對(duì)缺陷定位。4板波法（屬于導(dǎo)波的一種）利用薄板中產(chǎn)生的板波對(duì)整個(gè)薄板進(jìn)行檢測(cè)的一種方法。5.爬波法當(dāng)縱波入射角在第一臨界角附近時(shí)，在工件中產(chǎn)生表面下縱波，稱為爬波。利用表面下爬波可以檢測(cè)表面近表面缺陷。3試塊一、試塊的作用1、確定探傷靈敏度2、測(cè)試儀器和探頭的性能3、評(píng)判缺陷的大小4、調(diào)整掃描速度二、試塊的分類1、按試塊來(lái)歷：1）標(biāo)準(zhǔn)試塊：如IIW試塊和IIW2試塊2）參考試塊：如CS-1試塊、CSK-IA試塊等2、按試塊上人工反射體：1）平底孔試塊：如CS-I、CS-2試塊2）橫孔試塊：如CSK-ⅡA和CSK-ⅢA3）槽形試塊：如無(wú)縫鋼管探傷中所用的試塊，內(nèi)、外圓表面就加工有三角尖槽。三、國(guó)內(nèi)外常用試塊簡(jiǎn)介1、IIW試塊1）尺寸：如圖所示2）材質(zhì)：20號(hào)鋼，正火處理，晶粒度7-8級(jí)2、IIW2試塊1）尺寸：如圖所示2）主要用途：（1）測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和折射角（2）測(cè)儀器的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍（3）測(cè)儀器和探頭的組合靈敏度3、CSK-IA試塊在IIW試塊基礎(chǔ)上改進(jìn)得到，CSK-IA試塊有三點(diǎn)改進(jìn)；1）將直孔φ5O改為φ50、φ44、φ4O臺(tái)階孔，以便于測(cè)定橫波斜探頭的分辨力。2）將R100改為R100、R50階梯圓弧，以便于調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍。3）將試塊上標(biāo)定的折射角改為K值，從而可直接測(cè)出橫波斜探頭的K值。4、半圓試塊結(jié)構(gòu)：5、CSK—ⅡA、CSK—ⅢA試塊和CSK—ⅣA試塊JB4370—2005標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的焊縫超聲波探傷用的橫孔標(biāo)準(zhǔn)試塊。6、CSⅠ和CSⅡ試塊CSⅠ和CSⅠ試塊是鍛件檢測(cè)用平底孔標(biāo)準(zhǔn)試塊。7、RB試塊RB試塊是鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)GB11345—89規(guī)定的試塊。該試塊上加工有φ3mm橫通孔，試塊的材質(zhì)與被檢工件相同或相近。8、鋼板探傷試塊CBⅠ、CBⅡ試塊，分別用于薄板和中厚板檢測(cè)時(shí)的靈敏度調(diào)整及缺陷評(píng)定。9、小徑管專用試塊GS系列試塊，JB4730中規(guī)定的用于檢測(cè)承壓設(shè)備管子及壓力管道對(duì)接焊縫的試塊。4脈沖反射法超聲檢測(cè)通用技術(shù)脈沖反射波超聲檢測(cè)在檢測(cè)條件、耦合補(bǔ)償、儀器調(diào)節(jié)、確定的定位、定量、定性等方面都有通用的技術(shù)。脈沖反射法超聲檢測(cè)的基本步驟：檢測(cè)前準(zhǔn)備，檢測(cè)儀器系統(tǒng)的選擇、調(diào)節(jié)、靈敏度確定，耦合補(bǔ)償，缺陷的測(cè)定、記錄評(píng)級(jí)，儀器系統(tǒng)的復(fù)核。4.1檢測(cè)面得選擇與準(zhǔn)備首先考慮缺陷的最大可能取向，盡量保證缺陷能夠有最佳的反射條件，接觸法的探測(cè)面應(yīng)規(guī)則對(duì)稱，底波法最好應(yīng)有平行的探測(cè)面和底面?？紤]到盲區(qū)，必要時(shí)應(yīng)從正、反兩面進(jìn)行檢查。當(dāng)從一面檢查靈敏度不夠時(shí)，亦應(yīng)從正、反兩面進(jìn)行檢查。還應(yīng)根據(jù)工件的厚度、形狀綜合考慮。為了保證檢測(cè)面能提供良好的耦合，進(jìn)行超聲檢測(cè)前應(yīng)去除檢測(cè)區(qū)域內(nèi)的氧化皮、毛刺、油污及其他可能妨礙探頭移動(dòng)的附著物。4.2儀器與探頭的選擇1.探傷儀的選擇：超聲波檢測(cè)儀是超聲波檢測(cè)的主要設(shè)備。目前國(guó)內(nèi)外探傷儀種類繁多，性能各異，探傷前應(yīng)根據(jù)探測(cè)要求和現(xiàn)場(chǎng)條件來(lái)選擇探傷儀。首先要選擇儀器穩(wěn)定性、重復(fù)性和可靠性好的儀器，探傷儀的各項(xiàng)指標(biāo)要達(dá)到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。就性能而言，一般應(yīng)考慮以下原則：①對(duì)于定位要求高的情況，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器。②對(duì)于定量要求高的情況，應(yīng)選擇垂直線性好，衰減器精度高的儀器。③對(duì)于大型零件的探傷，應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。根據(jù)所探對(duì)象要考慮的問(wèn)題①生產(chǎn)量及是否連續(xù)，確定選擇自動(dòng)探傷儀或手工探傷儀；②對(duì)于自動(dòng)探傷儀，根據(jù)被檢對(duì)象情況選擇單通道或多通道設(shè)備；③對(duì)于手工探傷儀，根據(jù)檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)的位置及條件選擇較大型的探傷儀或是便攜型的探傷儀；④檢測(cè)工作的要求較高，或需要提供較客觀的現(xiàn)場(chǎng)記錄可選擇數(shù)字式超聲波探傷儀。2.探頭的選擇：探頭是超聲檢測(cè)的重要工具之一，它的種類很多，結(jié)構(gòu)型式也不一樣。檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、衰減和技術(shù)要求來(lái)選擇探頭。探頭的選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭K值的選擇等。⑴型式的選擇常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭、表面波探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等。其選擇主要取決于所選擇的探傷方法。一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇探傷方法，一旦方法確定，應(yīng)采用什么型式的探頭也就確定了。⑵頻率的選擇頻率高，靈敏度和分辨力高，指向性好，對(duì)探傷有利。但頻率高，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，衰減大，又對(duì)探傷不利。實(shí)際探傷中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。3.晶片尺寸的選擇晶片大小對(duì)探傷也有一定的影響，選擇晶片尺寸時(shí)要考慮以下因素：由θ＝arcsin1.22λ／D可知，晶片尺寸增加，半擴(kuò)散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對(duì)探傷有利。由N＝D2／λ可知，晶片尺寸增加，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度迅速增加，對(duì)探傷不利。晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大，遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。實(shí)際探傷中，探傷面積范圍大的工件時(shí)，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭。探傷厚度大的工件時(shí)，為了有效地發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷宜選用大晶片探頭。探傷小型工件時(shí)，為了提高缺陷定位量精度宜選用小晶片探頭。探傷表面不太平整，曲率較大的工件時(shí)，為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。4.折射角(K值)的選擇對(duì)于探測(cè)除焊縫以外的工件（例如鍛件、鋼管等），宜采用折射角為40°左右的橫波斜探頭，因?yàn)橛糜袡C(jī)玻璃斜探頭探傷鋼制工件，βS＝40°(K＝0.84)左右時(shí)，聲壓往復(fù)透射率最高，即探傷靈敏度最高；缺陷距探測(cè)面深度相同的情況下，折射角小，聲程短，有利于缺陷的探測(cè)。焊縫探測(cè)的折射角(K值)的選擇主要考慮缺陷的可能方向及聲束對(duì)焊縫整個(gè)截面的覆蓋。4.3.1耦合劑為了提高耦合效果，在探頭與工件表面之間施加的一層透聲介質(zhì)稱為耦合劑。耦合劑的作用在于排除探頭與工件表面之間的空氣，使超聲波能有效地傳人工件，達(dá)到探傷的目的。此外耦合劑還有減少摩擦的作用