高壓介損試驗(yàn)

1、第三章 介損、高壓介損試驗(yàn)電介質(zhì)在交流電壓作用下，除電導(dǎo)和周期性緩慢極化引起的損耗外，有時(shí)可能產(chǎn)生游離損耗，即電暈和局部放電損耗，這些損耗統(tǒng)稱為介質(zhì)損耗.介質(zhì)損耗因數(shù)tg 6的測(cè)量，習(xí)慣 上簡(jiǎn)稱“介損試驗(yàn).介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8測(cè)試介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8是反映絕緣性能的基本指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8反映絕緣損耗的特征參數(shù)，它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通 和未貫通的局部缺陷.介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8與絕緣電阻和泄漏電流的測(cè)試相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)，它與試驗(yàn)電壓、試品尺寸等因素?zé)o關(guān)，更便于判斷電氣設(shè)備絕緣變化情況。因此介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8為高壓電氣設(shè)備絕緣測(cè)試的最基本的

2、試驗(yàn)之一.介質(zhì)損耗因數(shù)tg 8可以有效的發(fā)現(xiàn)絕緣的下列缺陷：(1)受潮；(2)穿透性導(dǎo)電通道；(3)絕緣內(nèi)含氣泡的游離，絕緣分層、脫殼； (4) 絕緣有臟污、劣化老化等。、測(cè)量原理(c)相量圖介質(zhì)在交流電壓作用下的情況如圖3-1 (a)所示,(c)相量圖(a)(b)圖3-1絕緣介質(zhì)在交流電壓作用下的電路圖和相量圖(a)電路示意圖(b)等值電路圖通常把絕緣介質(zhì)看成由一個(gè)等值電阻R通常把絕緣介質(zhì)看成由一個(gè)等值電阻R和一個(gè)等值無(wú)損耗電容C并聯(lián)組成的電路，如圖 3-1 (b)所示，通過(guò)介質(zhì)的總電流i是由通過(guò)R的有功電流 耐和通過(guò)C的無(wú)功電流ic 第1頁(yè)共7頁(yè) 所組成。Jr流過(guò)電阻R所產(chǎn)生的功率代表全部

3、的介質(zhì)損耗，1R 越大，介質(zhì)損耗越大。由ir、ic和i所組成的相量圖如3 1(c) 所示，從圖中可以看由iR的大小與i和ic之間的夾角6有關(guān), 6越大，iR越大，因此，稱6為介質(zhì)損失角。從圖中可得由：介質(zhì)損耗P與介質(zhì)損失角6之間有如下的關(guān)系式：ir=U/Ric=U/Xc= co CU tg 8 = ir / ic=1/ co CRP=Uir= Uictg 8 =U a CUtg 8 =U2co Ctg 8其中,P 絕緣介質(zhì)中的損耗功率U-被試品上的交流電壓有效值C-被試品電容電源角頻率從上述關(guān)系式可以看由， 通過(guò)測(cè)量tg 6值可以反映由絕 緣介質(zhì)損耗的大小。二、測(cè)量?jī)x器現(xiàn)場(chǎng)主要用AI-6000

4、自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x和2816型自動(dòng)12KV絕緣測(cè)試系統(tǒng)兩種儀器進(jìn)行測(cè)量。AI-6000 一體機(jī)應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)抗干擾測(cè)量，內(nèi)置了介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器.采用變頻干擾和傅立葉變換全數(shù)字處理技術(shù)，全自動(dòng)高度智能化測(cè)量，干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定.測(cè)量結(jié)果由面板液晶顯示屏顯示，內(nèi)置微型打印機(jī)可自動(dòng)打印結(jié)果.此儀器的主要特點(diǎn)是能夠自動(dòng)分辨電容、電感、電阻型試品并進(jìn)行測(cè)量。第2頁(yè)共7頁(yè)電容型試品則顯示 CX和tg 6 ;采用變頻技術(shù)，解決了抗 干擾問(wèn)題。其特有的45HZ-55HZ自動(dòng)雙變頻測(cè)量能在 50HZ 強(qiáng)干擾環(huán)境中直接得由 50HZ的結(jié)果。數(shù)控變頻電源，測(cè)量 電壓從500V-1

5、0V連續(xù)設(shè)定，儀器自動(dòng)緩慢升降壓，整個(gè) 測(cè)量過(guò)程只需要大約1分鐘時(shí)間。另外，當(dāng)高壓短路、擊 穿或測(cè)試電流波動(dòng)時(shí)，儀器能快速切斷高壓.儀器設(shè)有斷電保護(hù)，突然斷電不會(huì)引起過(guò)電壓。三、測(cè)量接線及測(cè)試方法 1。AI-6000自動(dòng)抗干擾精密介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x一體機(jī)的主要測(cè)量接線方式有以下兩種正 內(nèi)CN正 內(nèi)CN-Hz10KVTestHV-RD反 內(nèi)CN-Hz反 內(nèi)CN-Hz10KVTestHV-RD)接地1_ 接地二 二 接地接線一：正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)電壓（標(biāo)準(zhǔn)正接線）高壓-1n試品開(kāi)內(nèi)高汗開(kāi)關(guān)接線二：反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)電壓（標(biāo)準(zhǔn)反接線 第3頁(yè)共7頁(yè)現(xiàn)場(chǎng)根據(jù)測(cè)量需要，選擇合適的接線，正接線方式測(cè)量時(shí)

6、高壓線芯線和屏蔽都可接到 CX高壓端，此時(shí)試品輸入 CX插 座輸入試品電流，測(cè)試線芯線接CX低壓信號(hào)端，屏蔽接CX 屏蔽端；反接線時(shí)局壓線芯線接到 CX信號(hào)端，屏蔽接到 CX 屏蔽端（無(wú)屏蔽試品屏蔽懸空）然后根據(jù)該測(cè)量方式選擇需要的菜單選項(xiàng)。用 一鍵移動(dòng)光標(biāo)到相應(yīng)菜單，用 N 鍵修 改光標(biāo)處菜單內(nèi)容.光標(biāo)必須停在 Test處按啟/停鍵一秒鐘以 上開(kāi)始升壓測(cè)量.不顯示Test項(xiàng),則表示設(shè)置不正確，不允許 測(cè)量。（菜單項(xiàng)設(shè)定好后自動(dòng)記憶，試驗(yàn)人員不必反復(fù)修改 菜單）整個(gè)測(cè)量過(guò)程大約需要一分鐘時(shí)間.測(cè)量的任何時(shí)候，儀器必須可靠接地，以防外殼帶電。緊急情況下應(yīng)立即關(guān)閉“總電源開(kāi)關(guān)”。反接線法適用于一端

7、接地的被試設(shè)備，但 此方法受外界環(huán)境因素及設(shè)備表面臟污情況的影響較大。2. 2816型自動(dòng)12KV絕緣測(cè)試系統(tǒng)的接線圖如下圖所示第4頁(yè)共7頁(yè)按試驗(yàn)接線圖接好線，確認(rèn)安全后，打開(kāi) 2816的主電 源，同時(shí)注意 GRUND燈是否亮；選擇模式后，抓住安全開(kāi) 關(guān)并按住它,OPERATOR燈亮（能聽(tīng)到一聲笛聲，若聽(tīng)不到， 旋轉(zhuǎn)HIGH VOLTAGE至U 0%）;按下HV ON 按鈕，高壓燈 亮；此時(shí)，模板上有一行時(shí)間顯示，按 RUN鍵，電容/功率 因數(shù)將顯示測(cè)量值；調(diào)壓到所需電壓值，按PRINT鍵，打印結(jié)果； 釋放安全按鈕，降壓；再旋轉(zhuǎn) HIGH VOLTAGE到0%,試驗(yàn) 結(jié)束。利用2816進(jìn)行試驗(yàn)

8、時(shí)需注意以下幾點(diǎn)：試品周圍必須有 醒目的障礙線，試驗(yàn)設(shè)備必須離開(kāi)線并且要標(biāo)明 ；在試驗(yàn)接線 完之前，接地棒一定要接在高壓端頭，試驗(yàn)設(shè)備還須配備一個(gè) 安全開(kāi)關(guān)；當(dāng)在封閉環(huán)境里工作時(shí)， 必須有足夠的換氣設(shè)備， 空氣中無(wú)易燃?xì)怏w；確信設(shè)備良好接地，大多數(shù)的試驗(yàn)設(shè)備 只有在試品地和設(shè)備電源電壓地連接好后才能提供電壓。試 驗(yàn)前，決不能不接地；不能超過(guò)設(shè)備固有的電流、電壓限制.四.影響因素.表面影響被試品的表面泄露對(duì)絕緣電阻影響很大，對(duì)tg 8的測(cè)量也同樣如此，影響的程度與被試品的電容量有關(guān).電容量較小的試品，當(dāng)表面臟污受潮后表面泄露增加，回帶來(lái)嚴(yán)重 的影響，有可能引起誤判斷。因此，對(duì)小電容量的試品，必須

9、注意消除表面泄露的影響；而對(duì)大電容量的試品，影第5頁(yè)共7頁(yè)響較小。測(cè)量中，應(yīng)除去表面臟污，如遇空氣濕度大時(shí)，應(yīng)對(duì)表面采取必要的措施，但不宜加屏蔽環(huán)，否則將使電 場(chǎng)分布改變，會(huì)得由錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果. tg 8的綜合（整體）值與個(gè)別值的關(guān)系一般電氣設(shè)備的結(jié)構(gòu)是多個(gè)部件組成的。各部件的絕緣又是由不同絕緣材料構(gòu)成的。因此，在對(duì)電氣設(shè)備試驗(yàn)結(jié)果 分析時(shí)，可如實(shí)地把設(shè)備的絕緣部件看成是由多個(gè)介質(zhì)的 等值電路串聯(lián)、并聯(lián)、及串并聯(lián)組成的電路。這樣我們所 測(cè)得設(shè)備的tg 6值，實(shí)際上是各部件的等值電路組合后的 綜合值。經(jīng)計(jì)算可得由：并聯(lián)后的綜合tg 6必然大于其中 最小的，而小于其中最大的，一般可認(rèn)為，綜合tg

10、6主要代 表并聯(lián)各元部件中電容量最大者的介質(zhì)損耗值；串聯(lián)后的綜合tg 6值介于元件中的最大與最小兩個(gè)介質(zhì)損耗角正 切值之間，各元件的值相差不大時(shí)，他們都將接近于綜合 值，相差較大時(shí)，綜合值主要反映串聯(lián)元件中電容量最小者的介質(zhì)損耗角正切值；串并聯(lián)介質(zhì)電路的綜合 tg 6值在 兩個(gè)元件的值之間。五。測(cè)量中的異?，F(xiàn)象及初步分析六。測(cè)量結(jié)果的分析判斷.將試驗(yàn)結(jié)果與現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。所測(cè)得的tg 6值不應(yīng)超過(guò)規(guī)程規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)，如有超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)查明原因。.與設(shè)備歷年（次）試驗(yàn)結(jié)果比較。因?yàn)橐话汶娖髟O(shè)備都第6頁(yè)共7頁(yè)應(yīng)定期地進(jìn)行預(yù)防性試驗(yàn)，如果設(shè)備絕緣在運(yùn)行過(guò)程 中沒(méi)有什么變化，則歷次的試驗(yàn)結(jié)果都應(yīng)當(dāng)比較接近。 如果有明顯的差異，則說(shuō)明絕緣可能有缺陷.3,同一設(shè)備相間相互比較。因?yàn)橥辉O(shè)備，個(gè)相的絕緣情況應(yīng)當(dāng)基本一樣，如果三相試驗(yàn)結(jié)果相互比較差異明 顯，則說(shuō)明有異常相的絕緣可能有缺陷。.與同類型設(shè)備試驗(yàn)結(jié)果相互比較。因?yàn)橥活愋偷脑O(shè) 備而言，其絕緣結(jié)構(gòu)相同，在相同的運(yùn)行和氣候條件 下，其測(cè)試結(jié)果應(yīng)大致相同。若懸殊很大，則說(shuō)明