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1石墨類負(fù)極材料檢測(cè)方法第1部分：石墨化度的測(cè)定GB/T8170數(shù)值修約規(guī)則與極限石墨化度graphitizationde石墨具有疊層結(jié)構(gòu)，各層面中碳原子以sp2雜化軌道形狀形成互成120°的三配位平面六角]X射線投射到石墨晶體中時(shí)，受到晶體中原子、電子的散射。由于晶體中原子的周期性5.1單晶硅粉：純度≥99%，粒2根據(jù)石墨樣品與單晶硅粉（見5.1）測(cè)試時(shí)，石墨（002）峰與硅粉（111）峰的強(qiáng)度比，將樣品架放置在X射線衍射儀的測(cè)試平臺(tái)上，推薦設(shè)定掃描的起始角度≤20°,終止角度≥35°,步長(zhǎng)≤0.02°,每步時(shí)間≥0.05s，掃描方式為連續(xù)掃描進(jìn)行測(cè)試。hklhkl9試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理d002=λ/(2sin(2θcor)Si) λ——為銅靶波長(zhǎng)，單位為埃(?)。3G=×100%··········（2）3.440——為石墨化度為0%時(shí)的d002值，單位為埃(?);3.354——為理想石墨（石墨化度為100%）的d002值，單位為埃(?)。在再現(xiàn)性條件下獲得的兩次獨(dú)立測(cè)試

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